[發(fā)明專利]三維關(guān)鍵點預(yù)測及深度學(xué)習(xí)模型訓(xùn)練方法、裝置及設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911417835.6 | 申請日: | 2019-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN111160375A | 公開(公告)日: | 2020-05-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉思陽 | 申請(專利權(quán))人: | 北京奇藝世紀科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/46 | 分類號: | G06K9/46;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 李欣;丁蕓 |
| 地址: | 100080 北京市海淀區(qū)*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 三維 關(guān)鍵 預(yù)測 深度 學(xué)習(xí) 模型 訓(xùn)練 方法 裝置 設(shè)備 | ||
1.一種三維關(guān)鍵點預(yù)測方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取包含待檢測對象的RGB圖像;
基于所述RGB圖像,獲取所述待檢測對象的二維關(guān)鍵點信息及每個二維關(guān)鍵點對應(yīng)的熱度圖像;
利用預(yù)先訓(xùn)練的深度學(xué)習(xí)模型,對所述RGB圖像、所述二維關(guān)鍵點信息及所述熱度圖像進行關(guān)聯(lián)分析,得到所述待檢測對象的三維關(guān)鍵點信息的預(yù)測值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用預(yù)先訓(xùn)練的深度學(xué)習(xí)模型,對所述RGB圖像、所述二維關(guān)鍵點信息及所述熱度圖像進行關(guān)聯(lián)分析,得到所述待檢測對象的三維關(guān)鍵點信息的預(yù)測值,包括:
利用所述深度學(xué)習(xí)模型,對所述RGB圖像的矩陣及所述熱度圖像的矩陣進行拼接,得到目標拼接矩陣;
對所述目標拼接矩陣進行特征提取,得到初始圖像特征;
對所述初始圖像特征進行維度變換,得到目標圖像特征;
對所述二維關(guān)鍵點信息進行分析,得到目標關(guān)鍵點特征;
對所述目標圖像特征及所述目標關(guān)鍵點特征進行關(guān)聯(lián)分析,得到所述待檢測對象的三維關(guān)鍵點信息的預(yù)測值。
3.一種深度學(xué)習(xí)模型訓(xùn)練方法,其特征在于,所述方法包括:
獲取待訓(xùn)練的深度學(xué)習(xí)模型;
在預(yù)設(shè)樣本集合中選取一組樣本圖像組,其中,所述樣本圖像組包括樣本RGB圖像、樣本二維關(guān)鍵點信息、每個樣本二維關(guān)鍵點對應(yīng)的樣本熱度圖像及真值三維關(guān)鍵點信息,所述樣本二維關(guān)鍵點信息通過對所述樣本RGB圖像進行二維關(guān)鍵點檢測得到;
利用所述深度學(xué)習(xí)模型,對當前選取的樣本RGB圖像、樣本熱度圖像及樣本二維關(guān)鍵點信息進行關(guān)聯(lián)分析,得到預(yù)測三維關(guān)鍵點信息;
根據(jù)所述真值三維關(guān)鍵點信息及所述預(yù)設(shè)三維關(guān)鍵點信息,計算所述深度學(xué)習(xí)模型的當前損失;
在所述深度學(xué)習(xí)模型的當前損失未收斂時,按照所述當前損失,調(diào)整所述深度學(xué)習(xí)模型的參數(shù),并在所述預(yù)設(shè)樣本集合中選取一組樣本圖像組繼續(xù)訓(xùn)練,直至所述深度學(xué)習(xí)模型的損失收斂,得到訓(xùn)練好的深度學(xué)習(xí)模型。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述利用所述深度學(xué)習(xí)模型,對當前選取的樣本RGB圖像、樣本熱度圖像及樣本二維關(guān)鍵點信息進行關(guān)聯(lián)分析,得到預(yù)設(shè)三維關(guān)鍵點信息,包括:
利用所述深度學(xué)習(xí)模型,對當前選取的樣本RGB圖像的矩陣及所述樣本熱度圖像的矩陣進行拼接,得到樣本拼接矩陣;
對所述樣本拼接矩陣進行特征提取,得到初始樣本圖像特征;
對所述初始樣本圖像特征進行維度變換,得到目標樣本圖像特征;
對所述樣本二維關(guān)鍵點信息進行分析,得到目標樣本關(guān)鍵點特征;
利用所述深度學(xué)習(xí)模型,將所述目標樣本圖像特征及所述目標樣本關(guān)鍵點特征進行拼接,得到目標樣本拼接特征;
對所述目標樣本拼接特征進行分析,得到預(yù)測三維關(guān)鍵點信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述真值三維關(guān)鍵點信息及所述預(yù)設(shè)三維關(guān)鍵點信息,計算所述深度學(xué)習(xí)模型的當前損失,包括:
對所述預(yù)測三維關(guān)鍵點信息進行投影,得到預(yù)測二維關(guān)鍵點信息;
基于所述樣本二維關(guān)鍵點信息及所述預(yù)測二維關(guān)鍵點信息,計算二維關(guān)鍵點損失;
基于所述真值三維關(guān)鍵點信息及所述預(yù)測三維關(guān)鍵點信息,計算三維關(guān)鍵點損失;
基于所述二維關(guān)鍵點損失及所述三維關(guān)鍵點損失,計算所述深度學(xué)習(xí)模型的當前損失。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述基于所述二維關(guān)鍵點損失及所述三維關(guān)鍵點損失,計算所述深度學(xué)習(xí)模型的當前損失,包括:
利用預(yù)設(shè)二維關(guān)鍵點權(quán)重乘以所述二維關(guān)鍵點損失,利用預(yù)設(shè)三維關(guān)鍵點權(quán)重乘以所述三維關(guān)鍵點損失,并對得到的乘積求和,得到所述深度學(xué)習(xí)模型的當前損失。
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