[發明專利]一種誤碼測試方法、裝置,存儲介質及電子裝置在審
| 申請號: | 201911417548.5 | 申請日: | 2019-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN113132172A | 公開(公告)日: | 2021-07-16 |
| 發明(設計)人: | 張理維 | 申請(專利權)人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號: | H04L12/26 | 分類號: | H04L12/26;H04L1/00 |
| 代理公司: | 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281 | 代理人: | 薛祥輝 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 方法 裝置 存儲 介質 電子 | ||
1.一種光電器件的誤碼測試方法,其特征在于,包括:
根據所述光電器件工作的業務類型,生成模擬碼流,其中,所述模擬碼流中的有效載荷中的數據用PRBS碼流填充,所述模擬碼流中其他位置用所述業務類型對應的特征比特位填充;
對所述模擬碼流進行誤碼檢測獲得誤碼信息。
2.如權利要求1所述方法,其特征在于,所述業務類型包括以下業務類型的一種或多種:50G PAM4、12.5G PAM4和56GPAM4。
3.如權利要求1所述方法,其特征在于,所述方法還包括:根據所述光電器件的帶寬參數設置所述模擬碼流的碼流速率。
4.如權利要求1所述方法,其特征在于,所述方法還包括:根據所述誤碼信息確認誤碼類型。
5.如權利要求4所述方法,其特征在于,所述誤碼類型包括以下誤碼類型的一種或多種:隨機錯誤碼,突發錯誤碼。
6.如權利要求1所述方法,其特征在于,所述方法還包括:在根據所述誤碼信息修正所述光電器件所在鏈路參數信息后,檢測所述模擬碼流得到誤碼信息。
7.如權利要求6所述方法,其特征在于,所述方法還包括:當所述誤碼信息不滿足設定條件時,重復以下步驟:根據所述誤碼信息修正所述光電器件所在鏈路參數信息后,檢測所述模擬碼流得到誤碼信息。
8.一種誤碼檢測裝置,其特征在于,包括:
碼流生成模塊,用于根據所述光電器件工作的業務類型,生成模擬碼流,其中,所述模擬碼流中的有效載荷中的數據用PRBS碼流填充,所述模擬碼流中其他位置用所述業務類型對應的特征比特位填充;
碼流測試模塊,用于檢測所述模擬碼流的誤碼信息。
9.一種計算機可讀的存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀的存儲介質包括存儲的誤碼檢測程序,其中,所述誤碼檢測程序運行時執行權利要求1至7中任一項所述的方法。
10.一種電子裝置,包括存儲器和處理器,其特征在于,所述所述存儲器中存儲有誤碼檢測計算機程序,所述處理器被設置為運行所述計算機程序以執行所述權利要求1至7中任一項所述的方法。
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