[發明專利]五電極環形壓敏電阻十針單面測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201911416840.5
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN110947646A
• 公開（公告）日: 2020-04-03
• 發明（設計）人: 鞏峰
• 申請（專利權）人: 淄博中領電子有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/344;B07C5/02
• 代理公司: 青島發思特專利商標代理有限公司 37212
• 代理人: 張洪艷

本發明涉及一種環形壓敏電阻檢測裝置；具體涉及一種五電極環形壓敏電阻十針單面測試裝置及方法，裝置包括篩選件、測試頭、電極檢測件、測試圓盤和控制單元，所述篩選件通過輸送通道連通至測試圓盤，測試圓盤上對應環形壓敏電阻設有容置凹槽，測試圓盤的旋轉方向依次設置電極檢測件和由升降驅動組件驅動的測試頭，所述測試頭包括圓周對稱分布的十個探針，每相間設置的五個探針為同一測試組，篩選件、電極檢測件和測試頭均與控制單元相連。本發明整個測試過程，篩選、正反檢測和測試頭檢測均同步進行，省略了旋轉對正裝置，節省了工序，提高了工作效率，降低了設備功耗。

技術領域

本發明涉及一種環形壓敏電阻檢測裝置；具體涉及一種五電極環形壓敏電阻十針單面測試裝置及方法。

背景技術

五電極環形壓敏電阻的五個電極均勻分布在圓周上。出廠前，為保證產品合格率，需要對其進行測試分級。先有的五電極環形壓敏電阻測試儀采用五極五針法測試，即用五個探針測試環形壓敏電阻的五個電極，這就需要設置檢測對準裝置，在檢測過程中調整環形壓敏電阻的位置，以保證測量時五個探針能夠對準五個電極。檢測對準裝置一般包括光電傳感器和旋轉裝置，旋轉裝置用于選擇環形壓敏電阻，光電傳感器用于檢測探針是否對準電極，如此一來，就多了一道對準工序，使得生產成本增加，檢測效率不高。

發明內容

為解決上述技術問題，本發明的目的在于：提供一種五電極環形壓敏電阻十針單面測試裝置及方法，設備結構緊湊，檢測效率高，降低生產成本。

本發明為解決其技術問題所采用的技術方案為：

所述五電極環形壓敏電阻十針單面測試裝置，包括篩選件、測試頭、電極檢測件、測試圓盤和控制單元，所述篩選件通過輸送通道連通至測試圓盤，測試圓盤上對應環形壓敏電阻設有容置凹槽，測試圓盤的旋轉方向依次設置電極檢測件和由升降驅動組件驅動的測試頭，所述測試頭包括圓周對稱分布的十個探針，每相間設置的五個探針為同一測試組，篩選件、電極檢測件和測試頭均與控制單元相連。

測試時，通過篩選件篩選電極朝上的環形壓敏電阻，并將篩選出來的產品通過輸送通道輸送至測試圓盤，測試圓盤上設置的電極檢測件檢測到位的環形壓敏電阻的電極位置，并根據檢測結果決定為哪一組測試探針通電，例如，如果電極檢測件檢測到其檢測位置為環形壓敏電阻的電極，在測試頭對環形壓敏電阻進行檢測時，第一組測試組的探針正好落在環形壓敏電阻的電極上，需要為第一組測試組的探針通電，如果電極檢測件檢測到其檢測位置為環形壓敏電阻的瓷體表面，在測試頭對環形壓敏電阻進行檢測時，第二組測試組的探針正好落在環形壓敏電阻的電極上，需要為第二組測試組的探針通電，如此一來，不論環形壓敏電阻在容置凹槽內的位置如何，總能找到合適的探針對其電極進行測量，測量后，根據其測量結果進行分級，并轉移至分級工位對環形壓敏電阻進行分級，分級工位的分級組件采用市面現售的分級設備。整個測試過程，篩選、正反檢測和測試頭檢測均同步進行，省略了旋轉對正裝置，節省了工序，提高了工作效率，降低了設備功耗。

優選地，所述篩選件包括振盤、正反檢測件和剔除氣嘴，所述振盤一側設置正反檢測件，對應正反檢測件設置剔除氣嘴，將待檢測的環形壓敏電阻放置在振盤內，由正反檢測件檢測檢測位的環形壓敏電阻的電極朝向，如果朝上，剔除氣嘴不動作，如果朝下，剔除氣嘴吹掉該環形壓敏電阻，保證進入輸送通道的都是電極朝上的環形壓敏電阻。

優選地，所述輸送通道包括圓筒形送料管，所述振盤的直線送料器輸出口連接至圓筒形送料管的頂部開口，圓筒形送料管的底部開口連通至測試圓盤。振盤的直線送料器將電極面朝上的環形壓敏電阻一個一個的輸送到圓筒形送料管，然后垂直輸送到測試圓盤的容置凹槽內部，由測試圓盤將環形壓敏電阻轉移至下一工位。