[發(fā)明專利]一種T型光刻圖形的根部腔壁角度調(diào)整及T型柵制作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911416568.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111430227A | 公開(公告)日: | 2020-07-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張亦斌 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第五十五研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L21/28 | 分類號(hào): | H01L21/28;G02B5/18 |
| 代理公司: | 南京君陶專利商標(biāo)代理有限公司 32215 | 代理人: | 嚴(yán)海晨 |
| 地址: | 210016 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光刻 圖形 根部 角度 調(diào)整 制作方法 | ||
1.一種T型光刻圖形的根部腔壁角度調(diào)整及T型柵制作方法,其特征是包括以下步驟:
(1)在制備器件所需的外延層的基底表面旋涂電子束負(fù)膠;
(2)用電子束直寫電子束負(fù)膠并顯影形成圖形;
(3)在圖形上涂第二層膠;
(4)采用用電子束直寫或傳統(tǒng)光刻對(duì)第二層膠曝光并顯影,形成T型光刻圖形;
(5)在T型光刻圖形上采用電子束蒸發(fā),沉積相應(yīng)的柵金屬并剝離,形成T型金屬柵結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種T型光刻圖形的根部腔壁角度調(diào)整及T型柵制作方法,其特征是所述步驟(1)中外延層基底為氮化鎵基外延片、銦磷基外延片、砷化鎵基外延片或金剛石外延片中的一種;所述外延片的襯底材料為硅、藍(lán)寶石、碳化硅、氮化鎵或氮化鋁。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種T型光刻圖形的根部腔壁角度調(diào)整及T型柵制作方法,其特征是所述步驟(1)中電子束負(fù)膠型號(hào)為SAL601或HSQ。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種T型光刻圖形的根部腔壁角度調(diào)整及T型柵制作方法,其特征是所述步驟(2)中所述電子束在電子束負(fù)膠上直寫的圖形為所需圖形的兩側(cè)區(qū)域;所述兩側(cè)圖形之間距離為T型光刻圖形的根部的寬度;所述兩側(cè)圖形的寬度之和不小于第二層膠直寫或者光刻的寬度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種T型光刻圖形的根部腔壁角度調(diào)整及T型柵制作方法,其特征是所述步驟(2)中T型光刻圖形的根部腔壁角度θ通過調(diào)節(jié)電子束直寫的劑量或者顯影時(shí)間來調(diào)整。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種T型光刻圖形的根部腔壁角度調(diào)整及T型柵制作方法,其特征是所述步驟(3)中所述第二層膠為電子束正膠或傳統(tǒng)光刻膠。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





