[發明專利]基于UG的電極與零件干涉檢測方法、計算機裝置及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201911415163.5
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN111191369A
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發明（設計）人: 謝波;黃錦波;馬寧;李圣彬;管培育;劉軍;陳平
• 申請（專利權）人: 珠海格力大金精密模具有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20
• 代理公司: 珠海智專專利商標代理有限公司 44262
• 代理人: 林永協

1.基于UG的電極與零件干涉檢測方法，其特征在于，包括：

獲取零件的坐標系；

獲取所述零件的第一加工面，根據所述第一加工面生成相切表面并創建電極；

獲取所述電極在所述坐標系中的位置，并生成所述電極的坐標；

顯示參數編輯框，獲取輸入至所述參數編輯框的所述零件的監控編號、所述電極的夾具型號及所述電極的加工類型并生成加工參數，根據所述加工參數對所述電極和所述零件進行布爾運算，若運算結果為所述電極與所述零件相交，則發出第一提示信息。

2.根據權利要求1所述的基于UG的電極與零件干涉檢測方法，其特征在于：

在所述生成加工參數的步驟之后、所述進行布爾運算的步驟之前，所述方法還包括：

獲取第一修改指令，并根據所述第一修改指令修改所述加工參數。

3.根據權利要求1所述的基于UG的電極與零件干涉檢測方法，其特征在于：

所述參數編輯框還包括匹配標記；

在所述生成加工參數的步驟之后，所述方法還包括：

判斷所述電極與預設刀庫是否匹配，若否，則發出第二提示信息；

獲取第二修改指令，并根據所述第二修改指令修改所述匹配標記。

4.根據權利要求1所述的基于UG的電極與零件干涉檢測方法，其特征在于：

在所述根據所述第一加工面生成相切表面并創建電極的步驟之后，所述方法還包括：

獲取第三修改指令，并根據所述第三修改指令對所述電極的輪廓進行修正。

5.根據權利要求4所述的基于UG的電極與零件干涉檢測方法，其特征在于：

在所述創建電極的步驟之后，所述方法還包括：

根據所述電極的尺寸創建所述電極的基準座，并在顯示所述參數編輯框時在所述參數編輯框上顯示所述基準座的長度、高度和寬度。

6.根據權利要求1所述的基于UG的電極與零件干涉檢測方法，其特征在于：

所述獲取零件的坐標系的步驟包括：

通過所述零件上的特征建立所述坐標系；或

通過所述零件上可選的基準面建立所述坐標系。

7.根據權利要求1至6任一項所述的基于UG的電極與零件干涉檢測方法，其特征在于：

若所述運算結果為所述電極與所述零件相切，則結束對所述電極的創建；

在所述結束對所述電極的創建的步驟之后，所述方法還包括：

獲取所述零件上的與所述第一加工面結構相同的第二加工面，并將已創建出的所述電極復制至所述第二加工面處。

8.根據權利要求7所述的基于UG的電極與零件干涉檢測方法，其特征在于：

在所述結束對所述電極的創建的步驟之后，所述方法還包括：

獲取圖紙導出指令，根據所述圖紙導出指令導出對應格式的工程圖；

獲取清單導出指令，根據所述清單導出指令導出電極的放電參數清單；

獲取共用打單指令，顯示選擇編輯框，獲取輸入值所述選擇編輯框的電極監控編號及所述選擇編輯框上的待選電極，

獲取所述選擇編輯框上的共用指令，并根據所述共用指令修改所述電極監控邊控所對應的電極和所獲取的所述待選電極之間的共用關系，

獲取所述選擇編輯框上的打單指令，導出所述電極監控編號所對應的電極的設計文件或導出所獲取的所述待選電極的設計文件；

獲取緩存清理指令，根據所述緩存清理指令清除相應的文件。

9.計算機裝置，包括處理器以及存儲器，其特征在于：所述存儲器存儲有計算機程序，所述計算機程序被所述處理器執行時實現如權利要求1至8中任意一項所述的基于UG的電極與零件干涉檢測方法的步驟。

10.計算機可讀介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于：所述計算機程序被控制器執行時實現如權利要求1至8中任意一項所述的基于UG的電極與零件干涉檢測方法的步驟。