[發(fā)明專利]一種電容式傳感器及通過電容成像確定觸摸屏定位的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911414166.7 | 申請日: | 2019-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN111176496B | 公開(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高碩;孫世杰;呂瑞函;黃安彪;徐立軍 | 申請(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類號: | G06F3/044 | 分類號: | G06F3/044 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 畢翔宇 |
| 地址: | 100191*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電容 傳感器 通過 成像 確定 觸摸屏 定位 方法 | ||
1.一種通過電容成像確定觸摸屏定位的方法,所述電容根據(jù)電容傳感器測得,其特征在于,所述電容傳感器共有八個(gè)矩形薄片的電極,所述電極按照間隔排列在電容傳感器的觸摸屏的邊緣并圍成環(huán)形,所述電極引線與外部激勵(lì)信號輸入系統(tǒng)和檢測信號采集系統(tǒng)相連接;所述觸摸屏外側(cè)設(shè)置有介電屏蔽層,所述通過電容成像確定觸摸屏定位的方法包括以下步驟:
一、對電極依次編號,選取一個(gè)電極作為激勵(lì)電極,其余電極作為檢測電極,通過激勵(lì)信號輸入系統(tǒng)對選取的激勵(lì)電極施加激勵(lì)信號電壓后,依次對檢測電極進(jìn)行檢測,得到測量的電容值;
得到所有測量的電容值后,更換激勵(lì)電極,選擇另一個(gè)電極作為激勵(lì)電極,其余電極作為檢測電極,重復(fù)之前的操作,直到所有電極都被激勵(lì)一次;
二、通過檢測信號采集系統(tǒng)采集步驟一中測量的電容值傳入上位機(jī)中,根據(jù)電容值計(jì)算電極圍成的區(qū)域內(nèi)的介電常數(shù)并判斷介電常數(shù)物質(zhì)類別,進(jìn)行圖像重建;
三、在得到的重建圖像中,分為高介電常數(shù)區(qū)域和低介電常數(shù)區(qū)域,其中高介電常數(shù)區(qū)域?yàn)槭种傅挠|摸區(qū)域;
其中,所述圖像重建算法包括以下步驟:
(一)將電極圍成的區(qū)域剖分為N個(gè)單元,N≥2,將單元i的介電常數(shù)物質(zhì)變化后測量的電容值向量xi作為輸入向量,單元i的介電常數(shù)物質(zhì)變化后,電極圍成的區(qū)域內(nèi)全部單元的介電常數(shù)向量yi作為輸出向量,通過SVM算法對每個(gè)單元依次進(jìn)行訓(xùn)練,得到N個(gè)單元訓(xùn)練樣本集
所述步驟(一)觸摸過程中單元i介電常數(shù)物質(zhì)變化后測量的電容值向量單元i的介電常數(shù)物質(zhì)變化后,電極圍成的區(qū)域內(nèi)全部單元的介電常數(shù)向量
其中為單元i內(nèi)介電常數(shù)物質(zhì)變化后測得的電容值,n為單元i內(nèi)測得的電容值的個(gè)數(shù);是單元i的介電常數(shù)物質(zhì)變化后編號為N的單元內(nèi)的介電常數(shù);
(二)采用并聯(lián)歸一化模型對輸入向量xi進(jìn)行電容歸一化處理,得到歸一化后的訓(xùn)練樣本集為步驟(二)中xi歸一化處理后得到
(三)對單元i,對歸一化后的訓(xùn)練樣本集建立兩分類問題,然后對歸一化后的訓(xùn)練樣本集構(gòu)造相應(yīng)的最優(yōu)化問題并引入拉格朗日乘子轉(zhuǎn)為對偶問題,求得最優(yōu)解,然后對兩分類問題構(gòu)造對應(yīng)的決策函數(shù)fi=sgn(g(xi)),其中,
K(xi,xj)為核函數(shù),K(xi,xj)=exp(-γ||xi-xj||2),γ>0,其中,γ為固定算子,d為常數(shù);
(四)通過xi能否使決策函數(shù)中的g(xi)得到最大值來判定單元i的介電常數(shù),然后判斷單元i介電常數(shù)物質(zhì)類別;
(五)對電極圍成的區(qū)域剖分的N個(gè)單元分別重復(fù)(三)、(四)步驟,完成對電極圍成的區(qū)域全部內(nèi)單元的介電常數(shù)物質(zhì)類別的判斷,重建圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通過電容成像確定觸摸屏定位的方法,其特征在于,所述步驟(二)中的并聯(lián)歸一化模型為
其中Ci為檢測到的電容值,Cl表示電極圍成的區(qū)域中標(biāo)定的低介電常數(shù)物質(zhì)滿場分布時(shí)的電容值,Ch表示電極圍成的區(qū)域中標(biāo)定的高介電常數(shù)物質(zhì)滿場分布時(shí)的電容值;xi’為歸一化電容值,xi’與被檢測的電容值Ci為線性關(guān)系。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通過電容成像確定觸摸屏定位的方法,其特征在于,所述步驟(三)中,對于訓(xùn)練樣本集中的訓(xùn)練樣本構(gòu)造最優(yōu)化問題為
引入拉格朗日乘子α=(α1,……,αN)T,后,構(gòu)造對偶問題為
得到最優(yōu)解其中,為單元i最優(yōu)化問題的最優(yōu)解,為單元i對偶問題的最優(yōu)解,C為懲罰函數(shù),ξi為引入的松弛變量,b為常數(shù),xj為引入拉格朗日乘子導(dǎo)出對偶問題后與xi的對偶值,yj為引入拉格朗日乘子導(dǎo)出對偶問題后與yi的對偶值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的通過電容成像確定觸摸屏定位的方法,其特征在于,所述電極與電極引線均采用銅質(zhì)材料。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京航空航天大學(xué),未經(jīng)北京航空航天大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911414166.7/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計(jì)算機(jī)能夠處理的形式的輸入裝置;用于將數(shù)據(jù)從處理機(jī)傳送到輸出設(shè)備的輸出裝置,例如,接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計(jì)算機(jī)之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時(shí)間間隔上,利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來自記錄載體的數(shù)字輸入,或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機(jī)上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出





