[發明專利]導電粒子及其制造方法、導電材料、接觸結構體、電氣及電子部件

有效

• 申請號: 201911409469.X
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN112309604B
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發明（設計）人: 金敬欽;鄭舜浩;裵倉完;金泰根;金鐘兌;樸俊奕;林永真;李枝原;崔阭秀;秋龍喆
• 申請（專利權）人: 德山金屬株式會社
• 主分類號: H01B1/02
• 分類號: H01B1/02;H01B1/22;H01B5/14;H01B13/00;H05K1/09
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 金成哲;宋海花

1.一種導電粒子，其特征在于：

作為通過包含于電極之間而對上述電極進行電氣連接的導電性粒子，上述電極中的至少一個在表面形成氧化鍍層，

上述導電性粒子，是包括絕緣核心以及形成于上述核心表面上且配備有凸起的導電層的導電粒子，其中，上述導電層與上述凸起一體地形成，

上述凸起以及上述導電層是由以下元素構成的合金：

(a)構成基底的第1元素；

(b)從由P和B構成的組中選擇的至少一個元素；以及

(c)從由Cu、Au、Ag、W、Mo、Pd、Co以及Pt構成的組中選擇的至少一個以上的第2元素，

上述第2元素或多個第2元素中的至少一個元素在上述導電層的內側具有第1濃度而在上述導電層的外側具有第2濃度，上述第2濃度大于上述第1濃度，

在通過面積方式沿上述導電層的厚度方向測定上述第2元素或多個第2元素中的至少一個元素的濃度時，上述第2元素或多個第2元素中的至少一個元素的濃度按照與上述絕緣核心接觸的部分、中間部分、凸起部分的順序增加，

在通過譜線輪廓方式沿上述導電層的厚度方向測定上述第2元素或多個第2元素中的至少一個元素的濃度時，上述第2元素或多個第2元素中的至少一個元素的濃度在上述第1濃度與上述第2濃度之間發生至少1次以上的部分性增加或減少。

2.根據權利要求1所述的導電粒子，其特征在于：

與上述絕緣核心接觸的部分的上述第1濃度在0.01wt％至0.16wt％的范圍之內。

3.根據權利要求1所述的導電粒子，其特征在于：

上述絕緣核心是樹脂微粒或混合粒子，

上述樹脂微粒是從聚氨酯類、苯乙烯類、丙烯酸類、苯類、環氧樹脂類、胺類以及酰胺類選擇的單體或由上述單體混合而成的單體共聚物。

4.根據權利要求3所述的導電粒子，其特征在于：

上述混合粒子是由有機核心以及圍繞上述有機核心的無機外殼構成的粒子，也能夠是由無機核心以及圍繞上述無機核心的有機外殼構成的粒子，

上述有機核心或有機外殼是從聚氨酯類、苯乙烯類、丙烯酸類、苯類、環氧樹脂類、胺類以及酰胺類選擇的單體或由上述單體混合而成的單體。

5.根據權利要求1所述的導電粒子，其特征在于：

上述導電層還包含絕緣層或絕緣粒子。

6.根據權利要求1所述的導電粒子，其特征在于：

上述導電粒子的導電層經過防銹處理。

7.一種權利要求1所述的導電粒子的制造方法，其特征在于，包括：

通過將絕緣核心投入到鎳基合金鍍金液而進行分散的分散處理步驟；以及，

通過向經過分散處理的鍍金液分次投入需要增加濃度梯度的合金元素而形成包括凸起的導電層的同時使得相應合金元素的濃度梯度從上述絕緣核心粒子一側向上述凸起側方向逐漸增加的包括凸起的導電層形成步驟，其中，上述導電層與上述凸起一體地形成于上述絕緣核心的表面，

在上述分散處理步驟中，向上述鎳基合金鍍金液投入包括從由P以及B構成的組中選擇的至少一個以上的元素的前驅體的溶液，

在上述包括凸起的導電層形成步驟中，通過向上述經過分散處理的鍍金液分次投入包括從由Cu、Au、Ag、W、Mo、Pd、Co以及Pt構成的組中選擇的至少一個以上的元素的前驅體的溶液而形成具有濃度梯度且包括凸起的導電層。

8.根據權利要求7所述的導電粒子的制造方法，其特征在于，還包括：

通過在上述包括凸起的導電層上使用疏水性防銹物質而對上述導電層的最外廓面進行防銹處理的步驟。

9.一種各向異性導電材料，其特征在于：

包含權利要求1至權利要求6中的任一項所述的導電粒子。

10.一種接觸結構體，其特征在于：

包含權利要求1至權利要求6中的任一項所述的導電粒子。

11.一種電氣及電子部件，其特征在于：

包含權利要求1至權利要求6中的任一項所述的導電粒子。