[發明專利]一種用于渦輪葉片葉尖間隙檢測的裝置

有效

• 申請號: 201911408098.3
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN111043949B
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 姜晶;鐘業奎;邱安美;喻培豐;張澤展;段英;茍學科;王超
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01B7/14
• 分類號: G01B7/14
• 代理公司: 電子科技大學專利中心 51203
• 代理人: 陳一鑫

1.一種用于渦輪葉片葉尖間隙檢測的裝置，該裝置包括：檢測探頭本體、距離檢測系統、位置檢測系統、數據處理系統；所述檢測探頭本體包括：頭部和連接部，所述連接部為圓柱形內部設有氣體通道，所述頭部內部設置有氣腔，該氣腔與連接部內的氣體通道連通，所述頭部的頂端設置有氣體噴口，氣體噴口與氣腔連通；所述距離檢測系統包括：依次陣列間隔設置于渦輪葉片尖端的五段參照電容、設置于檢測探頭本體頭部頂端的五段收集電容、連接五段收集電容的屏蔽式金屬電纜、BNC接頭；所述渦輪葉片尖端與五段參照電容之間、檢測探頭本體頭部頂端與五段收集電容之間設置有一層氧化鋯陶瓷涂層，所述五段參照電容與五段收集電容間隔方式完全相同且一一對應設置，屏蔽式金屬電纜設置于檢測探頭本體頭部的表面凹槽內并與BNC接頭連接，BNC接頭設置于檢測探頭本體頭部的尾端；所述位置檢測系統包括：位于渦輪葉片尖端的鍵相標記和位于檢測探頭本體上的鍵相傳感器；鍵相傳感器連接BNC接頭, BNC接頭連接數據處理系統；數據處理系統通過鍵相傳感器的信號計算出鍵相標記從而獲取渦輪葉片的位置，通過距離檢測系統獲取渦輪葉片尖端與檢測探頭本體之間的距離，再根據渦輪葉片的數量計算渦輪葉片葉尖間隙。

2.如權利要求1所述的一種用于渦輪葉片葉尖間隙檢測的裝置,其特征在于在一片或均勻間隔的多片渦輪葉片尖端設置五段參照電容，在一片或均勻間隔的多片渦輪葉片尖端設置鍵相標記；鍵相標記與五段參照電容設置在同一渦輪葉片尖端；所述氣體噴口為4個，形狀為長條狀，設置于五段收集電容之間。

3.如權利要求1所述的一種用于渦輪葉片葉尖間隙檢測的裝置,其特征在于采用物理氣相沉積法在渦輪葉片尖端和檢測探頭本體頭部頂端沉積一層氧化鋯陶瓷涂層，采用刻蝕技術刻蝕出凹槽，該凹槽深度大于2mm作為鍵相標記，在其余未刻蝕處采用沉積法沉積出五段金屬電容。

4.如權利要求1所述的一種用于渦輪葉片葉尖間隙檢測的裝置,其特征在于在檢測探頭表面刻蝕凹槽用于埋置屏蔽式金屬電纜，埋置屏蔽式金屬電纜后采用改性環氧填充膠填充和密封。