[發明專利]一種表面污染應急輻射探測模擬系統

在審

• 申請號: 201911403952.7
• 申請日: 2019-12-30
• 公開（公告）號: CN111141762A
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: 朱敏;李彪;吳飛;翁璐;陳國梁;李木易;馬敬偉;黃璜
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍工程大學
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G01T1/00;G01T7/00;G09B9/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王宇楊

1.一種表面污染應急輻射探測模擬系統，其特征在于，包括上位機、模擬探測器和模擬污染源；

所述模擬污染源，用于對真實環境下的污染源的多種測量狀態進行輸入模擬；

所述模擬探測器，用于對所述模擬污染源的測量物理量進行采集，并分析處理，且將分析處理結果發送至上位機；

所述上位機，用于存儲所述分析處理結果和對所述模擬探測器的編輯控制。

2.根據權利要求1所述的探測模擬系統，其特征在于，所述模擬探測器包括傳感器、控制器和LCD顯示器，所述模擬污染源的輸出端與所述傳感器的輸入端電連接，所述傳感器與所述控制器雙向連接，所述控制器與所述上位機雙向連接，所述控制器的輸出端與所述LCD顯示器的輸入端電連接；

所述傳感器，用于對所述模擬污染源的測量物理量進行采集，并發送給所述控制器；

所述控制器，用于對所述模擬污染源的測量物理量進行分析處理，得到分析處理結果，且將所述分析處理結果分別傳輸給上位機和LCD顯示器；

所述LCD顯示器，用于顯示所述分析處理結果。

3.根據權利要求1所述的探測模擬系統，其特征在于，所述模擬污染源為磁場模擬電路或者光強模擬電路。

4.根據權利要求3所述的探測模擬系統，其特征在于，所述磁場模擬電路包括第一電阻、第二電阻、第三電阻、交流電磁鐵、第一光電耦合器、第二光電耦合器、第一晶閘管、第二晶閘管、可調電位器和第一觸發開關，所述第一光電耦合器包括第四電阻、第一氖管和第二氖管，所述第二光電耦合器包括第五電阻和第三氖管；

所述第一電阻的一端與所述第一觸發開關的ON端連接，另一端與所述第一氖管的一端連接，所述第一氖管的另一端連接供電電源，所述第四電阻的一端連接供電電源，另一端分別與第一晶閘管的第一端和第二晶閘管的第二端連接，所述第一晶閘管的第二端通過交流電磁鐵與所述可調電位器的一端連接，所述可調電位器的另一端連接供電電源，所述第二氖管的一端通過第二電阻與所述可調電位器和所述交流電磁鐵的公共端連接，所述第二氖管的另一端與所述第一晶閘管和所述交流電磁鐵的公共端連接，所述第一晶閘管的第一端連接供電電源；

所述第二晶閘管的第一端接供電電源以及與第五電阻的一端連接，第五電阻的另一端接供電電源，所述第三氖管的一端接供電電源，另一端通過第三電阻連接所述第一觸發開關的OFF端。

5.根據權利要求2所述的探測模擬系統，其特征在于，所述光強模擬電路包括第一芯片、第六電阻、第七電阻、第八電阻、第九電阻、第十電阻、第一電解電容、第二電解電容、第三電容、第四電容、第二芯片、三極管、光電二極管和第二觸發開關；

所述第一芯片的引腳Vin接VCC和第一電解電容的陽極連接，所述第一電解電容的陰極接地，所述第一芯片的引腳ADJ通過第七電阻接地，所述第七電阻為可調電阻，第一芯片的引腳ADJ還通過第六電阻與第一芯片的引腳Vout連接；

第一芯片的引腳Vout通過第八電阻連接第二芯片的引腳OSC，第二芯片的引腳VC通過第四電容接地，所述第二芯片的引腳VDD分別通過第二電解電容和第三電容接地，所述第二芯片的引腳VDD還通過第十電阻與發光二極管的陽極連接，所述發光二極管的陰極與三極管的集電極連接，所述三極管的基極通過第九電阻與所述第二芯片的引腳SO連接，所述三極管的發射極接地，所述第二芯片的引腳GND接地，所述第二芯片的引腳OPT1和引腳OPT2接地，所述第二芯片的引腳TI與第二觸發開關連接。

6.根據權利要求5所述的探測模擬系統，其特征在于，所述第一芯片的型號為LM317，所述第二芯片的型號為SGL8022W。