[發明專利]一種基于熱紅外比輻射率的巖性分類方法在審
| 申請號: | 201911400145.X | 申請日: | 2019-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN111141698A | 公開(公告)日: | 2020-05-12 |
| 發明(設計)人: | 張宏睿;楊立強;孫友宏;張慶現;刁習 | 申請(專利權)人: | 中國地質大學(北京) |
| 主分類號: | G01N21/3563 | 分類號: | G01N21/3563;G01N21/25;G06K9/40;G06K9/62 |
| 代理公司: | 西安中科匯知識產權代理有限公司 61254 | 代理人: | 劉玲玲 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 紅外 輻射 分類 方法 | ||
本發明公開了一種基于熱紅外比輻射率的巖性分類方法,其包括以下步驟:對TASI數據進行預處理(相對輻射校正、大氣校正和溫度與發射率分離),基于PPI的端元提取,依據相似系數進行I級巖性分類,應用SDEM算法進行II級巖性分類,基于彩色合成法輔助巖性填圖。本發明的有益之處在于:(1)將巖性填圖與熱紅外高光譜數據進行了結合,大大節省了人力、物力和時間,具有非常重要的意義;(2)在SDEM的基礎上,又采用了彩色圖像合成法,彌補了部分巖性無法被分類的不足;(3)結合野外工作,可以獲得精確的巖性分類結果。
技術領域
本發明涉及一種巖性分類方法,具體涉及一種基于熱紅外比輻射率的巖性分類方法,屬 于地球科學和物理的交叉領域。
背景技術
當今世界科技水平與日俱增,遙感對地監測技術成為了其中重要的一部分。遙感手段由于 具有功能全面、時效性高等特點,已成為對地觀測的主要手段之一,在土地利用監測、森林火 災監測、農業、軍事、地質等方面發揮了巨大的作用。
隨著二十世紀八十年代成像光譜技術的出現,高光譜遙感成為光學遙感領域最為重要的研 究方向之一。如今,高光譜技術不僅擁有著“圖譜合一”的特點,還有大量光譜及地物信息,被 廣泛應用于環境監測、軍事分析、災害評估、植被覆蓋調查和地質找礦等眾多領域。將高光譜 遙感技術應用于地質上的巖性識別和區域填圖,將會在很大程度上減少人力物力及時間,是高 光譜技術應用最為成功的方面之一。
TASI數據,即航空熱紅外數據。目前,高光譜研究的重點普遍都是放在可見光領域,對 于熱紅外領域的研究不多。然而TASI數據在以往的傳感器基礎上,提升了光譜分辨率和空間 分辨率,在地質應用領域中具備廣闊的前景。但目前,TASI數據應用于地質的經驗較少, 對于礦物信息提取、地質巖性分類填圖則更是少之又少了。
通過熱紅外遙感技術獲取地物的發射率與溫度信息,一直以來都是熱紅外遙感領域的熱 門,同時也是難點所在。至今已出現了許多分離高光譜數據溫度和比輻射率的方法,目前關 于這些算法的思路主要有以下兩種。
第一種:利用不同的先驗知識,在保持特定發射率譜的前提下充分利用特定發射率的信息, 建立特定發射率與某些譜帶的某些可計算參數之間的經驗關系,使輻射傳輸方程正則化。這種 想法被廣泛使用,所開發的算法更適合于多光譜數據,并且還可以擴展到高光譜數據。例如: 1985年,Gillespie提出的比輻射率歸一化法(Normalized EmissivityMethod,NEM);1990 年,Kealy和Gahell提出的a剩余法;1990年,法國遙感先驅Becker和他的學生李召 良定義了溫度無關光譜指數(TISI),根據白天和夜晚的TISI可以計算地表比輻射率;1998年, Gillespie等依據ASTER數據提出的ASTER-TES算法,該算法是目前公認的最為準確的算 法,應用范圍最廣,是ASTER衛星數據的官方算法。
第二種:因為地物比輻射率與上/下行大氣比輻射率不同,前者較后者光滑,1998年Borel 利用這一特點建立了特定函數,當該特定函數的計算結果達到極值時,可認為此時溫度為地 物的最適溫度,基于此,他提出了光譜平滑迭代法(ISSTES算法)。2003年,Borel將ISSTES 算法與ISAC算法結合,提出了Automatic Retrieval of Temperature andEMIssivity using Spectral Smoothness(ARTEMISS)算法。
國內學者在溫度與發射率分離方面也做出了許多的努力,盡管起步較晚,但是仍有許多 不凡的成果可供參閱,例如:
2001年,覃志豪在對大氣平均作用溫度進行正確替換分析的基礎上,提出了一種適用 于TM6數據的方法,簡化了單通道方法,提高了反演精度。在參數估計適中的情況下,其 絕對精確度小于0.4K,即使參數出現錯誤,精度也在1.1K以內。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國地質大學(北京),未經中國地質大學(北京)許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911400145.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:觸控面板和對位檢測方法
- 下一篇:用戶行為周期提取方法及設備





