[發(fā)明專利]超聲相控陣圖像自適應(yīng)缺陷自動(dòng)測(cè)量算法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911396892.0
• 申請(qǐng)日: 2019-12-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111103361B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-01-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 紀(jì)志淑;云維銳;吳錦湖
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 汕頭市超聲檢測(cè)科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N29/44
• 分類號(hào): G01N29/44;G01N29/06
• 代理公司: 廣東南粵專利商標(biāo)事務(wù)所(特殊普通合伙) 44301
• 代理人: 許守榮

本發(fā)明涉及超聲測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種超聲相控陣圖像自適應(yīng)缺陷自動(dòng)測(cè)量算法。本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：在C圖像中搜索最大幅度值點(diǎn)，并導(dǎo)出對(duì)應(yīng)的B圖像，然后分別對(duì)C圖像和B圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行搜索，根據(jù)搜索結(jié)果確定使用相對(duì)靈敏度法或絕對(duì)靈敏度法，并最終得出缺陷區(qū)域。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于：根據(jù)缺陷區(qū)域的獲取規(guī)則，采用計(jì)算機(jī)程序可執(zhí)行的方法對(duì)缺陷區(qū)域進(jìn)行測(cè)量計(jì)算，只需人工使用測(cè)量線粗略地卡好缺陷的大致位置，并設(shè)置相應(yīng)的參數(shù)，即可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量計(jì)算缺陷區(qū)域，可按照搜索結(jié)果區(qū)別使用相對(duì)靈敏度法或絕對(duì)靈敏度法，并可識(shí)別真?zhèn)尾ǚ澹岣叱曄嗫仃囋u(píng)圖的速度，且降低對(duì)操作人員的技術(shù)要求。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及超聲測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種超聲相控陣圖像自適應(yīng)缺陷自動(dòng)測(cè)量算法。

背景技術(shù)

超聲相控陣技術(shù)是無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域的前沿技術(shù)，近幾年發(fā)展迅速，已被廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。相控陣技術(shù)采用若干壓電晶片組成陣列換能器，通過(guò)電子系統(tǒng)控制陣列中的各個(gè)晶片按照一定的延時(shí)法則發(fā)射和接受超聲波，從而實(shí)現(xiàn)聲束的掃描、偏轉(zhuǎn)與聚焦等功能。

通過(guò)采集到的相控陣圖像，探傷工需要對(duì)圖像的缺陷進(jìn)行識(shí)別和測(cè)量，測(cè)量的內(nèi)容包括缺陷的高度及對(duì)應(yīng)的波幅，缺陷的長(zhǎng)度和自身高度。缺陷回波幅度的獲取，需要找到不同位置B圖像不同A掃描線缺陷最高回波幅度，該點(diǎn)所在位置及缺陷的高度。現(xiàn)有相控陣圖像缺陷識(shí)別方式均為手動(dòng)識(shí)別，操作繁瑣，需要在多個(gè)視圖之間來(lái)回切換，縮放圖像進(jìn)行測(cè)量，準(zhǔn)確性依賴于操作人員的經(jīng)驗(yàn)和技能水平。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種超聲相控陣圖像自適應(yīng)缺陷自動(dòng)測(cè)量算法，具體在于提供一種可利用計(jì)算機(jī)程序?qū)ο嗫仃噲D像的缺陷部分進(jìn)行測(cè)量的算法。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：一種超聲相控陣圖像自適應(yīng)缺陷自動(dòng)測(cè)量算法，包括如下步驟：

S01.設(shè)置測(cè)量參數(shù)，包括：缺陷降幅(D)、分辨力(T)和端點(diǎn)波峰(P)。

S02.在C圖像缺陷范圍內(nèi)，搜索最高幅度點(diǎn)的坐標(biāo)(X_max，Y_max)，另記為(X₁，Y₁)幅度為H_max，另記為H₁，并將坐標(biāo)點(diǎn)(X₁，Y₁)記為分類C₁。

S03.以分類C₁為中心向四周擴(kuò)散，標(biāo)記所有沿途幅度遞減的點(diǎn)，其幅度值滿足Drop(H₁，D)H≤H₁則記為C₁，幅度值滿足H≤Drop(H₁，D)記為分類C_1ex。

S04.并在缺陷范圍內(nèi)未分類的點(diǎn)中搜索幅度值H滿足Drop(H₁，D)H≤H₁的圖像點(diǎn)，記為待分類C_？。

S05.在待分類C_？中搜索下一個(gè)波峰點(diǎn)的坐標(biāo)(X₂，Y₂)，幅度為H₂，將點(diǎn)(X₂，Y₂)記為分類C₂。

S06.以C₂為中心向四周擴(kuò)散，標(biāo)記所有沿途幅度遞減的點(diǎn)，其幅度值滿足Drop(H₂，D))H≤H₂則記為C₂，幅度值滿足H≤Drop(H₂，D)記為分類C_2ex。

S07.在缺陷范圍內(nèi)未分類的點(diǎn)中搜索幅度值H滿足Drop(H₂，D)H≤H₂的圖像點(diǎn)，記為待分類C_？。