[發明專利]一種用殘余地層厚度評價巖溶型碳酸鹽巖儲層品質的方法

有效

• 申請號: 201911394034.2
• 申請日: 2019-12-30
• 公開（公告）號: CN111077588B
• 公開（公告）日: 2022-06-03
• 發明（設計）人: 馮炎松;蘭義飛;黃有根;馮永玖;鄭小鵬;王少飛;唐樂平;劉志軍;汪淑潔;胡薇薇;郝龍;焦廷奎;王曄;史嬋媛;陳紅飛;張海波
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V9/00
• 分類號: G01V9/00
• 代理公司: 西安吉盛專利代理有限責任公司 61108
• 代理人: 趙嬌

1.一種用殘余地層厚度評價巖溶型碳酸鹽巖儲層品質的方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1）對待評價巖溶型碳酸鹽巖儲層進行單元劃分，分為古殘丘單元、古斜坡單元和古洼地單元；

步驟2）計算待評價巖溶型碳酸鹽巖儲層距烴源巖非滲透性地層厚度h₂，并確定殘余地層厚度h₁，所述殘余地層厚度h₁根據鉆井及測井解釋的分層巖性資料得到，其中殘余地層厚度h₁的計算公式為：h₁=風化殼頂海拔-目的層頂海拔；所述待評價巖溶型碳酸鹽巖儲層距烴源巖非滲透性地層厚度h₂根據鉆井及測井解釋的分層巖性資料得到，其中待評價巖溶型碳酸鹽巖儲層距烴源巖非滲透性地層厚度h₂的計算公式為：h₂=（上覆烴源巖底海拔-風化殼頂海拔）-滲透性地層厚度；

步驟3）根據待評價巖溶型碳酸鹽巖儲層距烴源巖非滲透性地層厚度h₂和殘余地層厚度h₁評判待評價巖溶型碳酸鹽巖儲層的儲層品質和試氣產量；所述待評價巖溶型碳酸鹽巖儲層的儲層品質評價方法通過儲層品質評價方程進行評價，其中儲層品質評價方程為：

當h₂＜50m時，F=a×h₁^b；

當h₂＞50m時，F=c；

其中：

F：儲層品質指數，無量綱；

h₁：殘余地層厚度，m；

h₂：距烴源巖非滲透性地層厚度，m；

a、b、c均為常數；

所述試氣產量與殘余地層厚度h₁的關系為：

Q=d×h₁^e

其中：

Q：試氣無阻流量，單位是萬方/天；

h₁：殘余地層厚度，m；

d、e為常數。

2.根據權利要求1所述的一種用殘余地層厚度評價巖溶型碳酸鹽巖儲層品質的方法，其特征在于：所述步驟1）中劃分的三個單元是通過鉆井數據中的地層厚度和地質綜合數據采用殘余厚度法或印模法綜合恢復古地貌，從而判斷出古殘丘單元、古斜坡單元和古洼地單元。

3.根據權利要求1所述的一種用殘余地層厚度評價巖溶型碳酸鹽巖儲層品質的方法，其特征在于：所述a、b、c均可通過待評價巖溶型碳酸鹽巖儲層的完鉆井資料回歸得到，當待評價巖溶型碳酸鹽巖儲層距烴源巖非滲透性地層厚度h₂大于50m時，其儲層品質指數小于7。

4.根據權利要求1所述的一種用殘余地層厚度評價巖溶型碳酸鹽巖儲層品質的方法，其特征在于：所述儲層品質指數F大于40，為優質儲層；當15＜F≤40，為較好儲層；當7≤F≤15，為一般儲層，儲層品質指數F小于7為較差儲層。