[發明專利]一種空間極紫外光度計在審
| 申請號： | 201911387552.1 | 申請日： | 2019-12-30 |
| 公開（公告）號： | CN111189536A | 公開（公告）日： | 2020-05-22 |
| 發明（設計）人： | 何玲平;陳波;毛石磊;韓振偉;郭權鋒;宋克非;張宏吉;劉陽;劉陽;王孝東 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01J1/42 | 分類號： | G01J1/42;G01J1/02;G01J1/04 |
| 代理公司： | 長春眾邦菁華知識產權代理有限公司 22214 | 代理人： | 周蕾 |
| 地址： | 130033 吉*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 空間 紫外 光度計 | ||
【權利要求書】：
1.一種空間極紫外光度計，其特征在于，包括：
入光口安裝的薄膜吸收濾光片，所述薄膜吸收濾光片可以濾掉帶濾除遠紫外、紫外、可見及紅外的長波輻射；
極紫外窄帶多層膜反射鏡組成的光學系統，所述光學系統可以濾除X射線輻射和工作波段以外的極紫外輻射，實現特定極紫外波段的帶通濾光；
反射鏡背部重金屬遮擋板，所述反射鏡背部重金屬遮擋板避免遮高能粒子穿透并被探測器接受；
光電二極管探測器，所述光電二極管探測器接收經上述光學系統濾除后的目標極紫外波段的輻射；
由上述部件組成的空間極紫外光度計，經過地面輻射定標，可用于空間極紫外目標輻射的高精度定量化探測。
2.根據權利要求1所述的空間極紫外光度計，其特征在于，所述薄膜吸收濾光片是在濾光片上鍍上Al、Ti、C薄膜中的一種或多種得到的。
3.根據權利要求1所述的空間極紫外光度計，其特征在于，所述光學系統是由兩片EUV窄帶多層膜反射鏡組成。
4.根據權利要求1所述的空間極紫外光度計，其特征在于，所述反射鏡背部重金屬遮擋板采用高原子序數的材料銅、鉛、或鎢，厚度為3～5mm。
5.根據權利要求1-4任意一項所述的空間極紫外光度計，其特征在于，所述光電二極管探測器表面鍍制Al、Ti、或C薄膜。
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