[發明專利]一種測量激光切割頭光學元件同軸度的方法有效
| 申請號： | 201911387412.4 | 申請日： | 2019-12-30 |
| 公開（公告）號： | CN110926380B | 公開（公告）日： | 2021-07-09 |
| 發明（設計）人： | 李勛武;陳進;劉德軍 | 申請（專利權）人： | 蘇州迅鐳激光科技有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/27 | 分類號： | G01B11/27;G01B21/24 |
| 代理公司： | 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 湯東鳳 |
| 地址： | 215100 江蘇省蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測量 激光 切割 光學 元件 同軸 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種測量激光切割頭光學元件同軸度的方法，其特征在于：其包括以下步驟：
1)沿光軸依次設置一出光點、待測光學元件、靶面；
2)以出光點為零點位置，以垂直于所述靶面的方向為軸線，將待測光學元件放置于位置A處，所述位置A的軸向坐標為在所述靶面上獲取一清晰的點目標清晰像點A，點A的質心坐標為[x,y]，其中L為所述出光點與所述靶面之間的距離，F為所述待測光學元件的焦距；
3)將待測光學元件放置于位置B處，所述位置B的軸向坐標為在所述靶面上獲取一清晰的點目標清晰像點B，點B的質心坐標為[x′,y′]；
4)計算待測光學元件與出光點的光軸同軸度偏離量為[dx,dy]，其中
其中，Δ為位置A與位置B之間的距離，
2.如權利要求1所述的測量激光切割頭光學元件同軸度的方法，其特征在于：所述待測光學元件為單個的聚焦鏡或一個正焦鏡組系統。
3.如權利要求1所述的測量激光切割頭光學元件同軸度的方法，其特征在于：所述靶面由相機靶面提供。
4.如權利要求1所述的測量激光切割頭光學元件同軸度的方法，其特征在于：所述出光點與所述靶面的距離L大于或等于4F。
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