[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于中央隨機(jī)的控索性軟件測(cè)試方法及裝置

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911386029.7
• 申請(qǐng)日: 2019-12-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111209190A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-05-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳旭;曹晶晶
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 航天信息股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F11/36
• 分類(lèi)號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京工信聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11266
• 代理人: 姜麗樓

1.一種基于中央隨機(jī)的控索性軟件測(cè)試方法，其特征在于，包括：

獲取原始缺陷數(shù)據(jù)，對(duì)所述原始缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選，獲取缺陷數(shù)據(jù)集；

對(duì)缺陷數(shù)據(jù)集進(jìn)行分塊，并使用靜態(tài)隨機(jī)算法對(duì)缺陷數(shù)據(jù)集中的每條缺陷進(jìn)行隨機(jī)編號(hào)；

將所述隨機(jī)編號(hào)與測(cè)試執(zhí)行人員編號(hào)進(jìn)行映射，根據(jù)所述映射關(guān)系進(jìn)行測(cè)試任務(wù)派發(fā)；

收集所述測(cè)試任務(wù)的測(cè)試結(jié)果及對(duì)應(yīng)的新發(fā)現(xiàn)的缺陷，根據(jù)所述測(cè)試結(jié)果及缺陷設(shè)計(jì)測(cè)試用例和測(cè)試數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對(duì)所述原始缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選，獲取缺陷數(shù)據(jù)集，包括：

將缺陷等級(jí)劃分為一般、嚴(yán)重、致命三個(gè)等級(jí)；

根據(jù)缺陷等級(jí)對(duì)原始缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選，獲取嚴(yán)重和致命等級(jí)的缺陷；

將嚴(yán)重和致命等級(jí)的缺陷作為缺陷數(shù)據(jù)集。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對(duì)缺陷數(shù)據(jù)集進(jìn)行分塊，包括：

根據(jù)測(cè)試執(zhí)行人員的數(shù)量獲取缺陷數(shù)據(jù)集的分塊數(shù)量；

所述測(cè)試執(zhí)行人員的數(shù)量與缺陷數(shù)據(jù)集分塊數(shù)量相對(duì)應(yīng)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，使用靜態(tài)隨機(jī)算法對(duì)缺陷數(shù)據(jù)集中的每條缺陷進(jìn)行隨機(jī)編號(hào)，包括：

根據(jù)測(cè)試執(zhí)行人員編號(hào)，使用靜態(tài)隨機(jī)算法對(duì)缺陷數(shù)據(jù)集中的每條缺陷進(jìn)行隨機(jī)編號(hào)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的方法，其特征在于，將所述隨機(jī)編號(hào)與測(cè)試執(zhí)行人員編號(hào)進(jìn)行映射，包括：

將每條缺陷的隨機(jī)編號(hào)與對(duì)應(yīng)的測(cè)試執(zhí)行人員編號(hào)進(jìn)行映射；

獲取測(cè)試人員對(duì)應(yīng)的缺陷。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述映射關(guān)系進(jìn)行測(cè)試任務(wù)派發(fā)，包括：

根據(jù)所述映射關(guān)系，獲取測(cè)試人員對(duì)應(yīng)的缺陷；

根據(jù)所述缺陷，獲取缺陷對(duì)應(yīng)的功能模塊；

將所述功能模塊的測(cè)試任務(wù)派發(fā)給所述測(cè)試人員。

7.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的方法，其特征在于，收集所述測(cè)試任務(wù)的測(cè)試結(jié)果及對(duì)應(yīng)的新發(fā)現(xiàn)的缺陷，根據(jù)所述測(cè)試結(jié)果及缺陷設(shè)計(jì)測(cè)試用例和測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：

收集所述測(cè)試任務(wù)的測(cè)試結(jié)果，所述測(cè)試結(jié)果包括測(cè)試通過(guò)與測(cè)試不通過(guò)；

若測(cè)試不通過(guò)，則收集對(duì)應(yīng)的新發(fā)現(xiàn)的缺陷；

根據(jù)新發(fā)現(xiàn)的缺陷設(shè)計(jì)測(cè)試用例和測(cè)試數(shù)據(jù)。

8.一種基于中央隨機(jī)的控索性軟件測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

缺陷數(shù)據(jù)集獲取單元，獲取原始缺陷數(shù)據(jù)，對(duì)所述原始缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選，獲取缺陷數(shù)據(jù)集；

隨機(jī)編號(hào)單元，對(duì)缺陷數(shù)據(jù)集進(jìn)行分塊，并使用靜態(tài)隨機(jī)算法對(duì)缺陷數(shù)據(jù)集中的每條缺陷進(jìn)行隨機(jī)編號(hào)；

任務(wù)派發(fā)單元，將所述隨機(jī)編號(hào)與測(cè)試執(zhí)行人員編號(hào)進(jìn)行映射，根據(jù)所述映射關(guān)系進(jìn)行測(cè)試任務(wù)派發(fā)；

測(cè)試結(jié)果收集單元，收集所述測(cè)試任務(wù)的測(cè)試結(jié)果及對(duì)應(yīng)的新發(fā)現(xiàn)的缺陷，根據(jù)所述測(cè)試結(jié)果及缺陷設(shè)計(jì)測(cè)試用例和測(cè)試數(shù)據(jù)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，缺陷數(shù)據(jù)集獲取單元，包括：

劃分子單元，將缺陷等級(jí)劃分為一般、嚴(yán)重、致命三個(gè)等級(jí)；

篩選子單元，根據(jù)缺陷等級(jí)對(duì)原始缺陷數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選，獲取嚴(yán)重和致命等級(jí)的缺陷；

缺陷數(shù)據(jù)集獲取子單元，將嚴(yán)重和致命等級(jí)的缺陷作為缺陷數(shù)據(jù)集。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，測(cè)試結(jié)果收集單元，包括：

測(cè)試結(jié)果收集子單元，收集所述測(cè)試任務(wù)的測(cè)試結(jié)果，所述測(cè)試結(jié)果包括測(cè)試通過(guò)與測(cè)試不通過(guò)；

缺陷收集子單元，若測(cè)試不通過(guò)，則收集對(duì)應(yīng)的新發(fā)現(xiàn)的缺陷；

設(shè)計(jì)子單元，根據(jù)新發(fā)現(xiàn)的缺陷設(shè)計(jì)測(cè)試用例和測(cè)試數(shù)據(jù)。