[發明專利]一種提高矢量圖形深度利用效率的大容量存儲器測試方法

在審

• 申請號: 201911384967.3
• 申請日: 2019-12-28
• 公開（公告）號: CN111161786A
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發明（設計）人: 洪斌;顧秋華;張文德
• 申請（專利權）人: 上海儀電智能電子有限公司
• 主分類號: G11C29/08
• 分類號: G11C29/08
• 代理公司: 上海天翔知識產權代理有限公司 31224
• 代理人: 劉常寶

本發明公開了一種提高矢量圖形深度利用效率的大容量存儲器測試方法，其包括：對FLASH存儲器的矢量圖形進行分析，將存儲器的擦寫延時，重復讀數據通過指令控制器實施單行壓縮；對FLASH存儲器的矢量圖形進行分析，將存儲器的規律讀寫數據通過指令控制器實施區塊調用。本發明提供的方案通過矢量圖形的指令控制器的有效控制使圖形深度得到有效擴展，能夠在沒有ALPG功能矢量圖形深度不夠的情況下完成對大容量存儲器測試。

技術領域

本發明涉及FLASH芯片的測試技術，具體涉及大容量FLASH芯片的測試技術。

背景技術

FLASH芯片由于其存儲可靠、成本低等優點得到大量的應用，為保證芯片能長期可靠的工作，FLASH存儲芯片必須進行全面的測試。

如，DQ25Q128AL是一款高速大容量Flash芯片，總容量為128Mbit，在前期測試評估中認為必須使用存儲器專用測試機進行測試開發。

由于存儲器內每一個存儲單元的改變都有可能影響存儲器內部其它單元的變化，這種相關性的擦寫、讀取產生了巨大的測試工作量，因此，容量越大的FLASH芯片不僅測試時間長還對測試的資源有著更高的要求，普遍采用主流品牌存儲器專用測試機利用ALPG(Algorithmic Pattern Generator)算法圖形生成器功能來實現相關擦寫、讀取測試。但現有的主流大容量存儲器測試機，存在成本較高且兼容性較差的問題，現有的存儲器專用測試機通常只定位于存儲器測試，不能覆蓋其它領域的產品測試，比如模擬產品的測試，整體可擴展性較差。若采用主流通用型測試機，其成本就更高。

對此，中國國產的測試機還很少有切入存儲器專用測試領域，比如御渡NST1625L測試機是一款中國國產混合信號測試機，有著較低的成本和較強的擴展兼容性，其矢量圖形深度128M，但在配置上缺少ALPG(Algorithmic PatternGenerator)算法圖形生成器功能。

發明內容

針對現有大容量存儲器測試方案存在成本高且擴展兼容性差的問題，需要一種低成本且具有高兼容性的大容量存儲器測試方案。

為此，本發明的目的在于提供一種提高矢量圖形深度利用效率的大容量存儲器測試方法，其能夠在沒有ALPG功能矢量圖形深度不夠的情況下完成對大容量存儲器測試，同時具有較高的可擴展性。

為了達到上述目的，本發明提供的提高矢量圖形深度利用效率的大容量存儲器測試方法，包括：

對FLASH存儲器的矢量圖形進行分析，將存儲器的擦寫延時，重復讀數據通過指令控制器實施單行壓縮；

對FLASH存儲器的矢量圖形進行分析，將存儲器的規律讀寫數據通過指令控制器實施區塊調用。

進一步地，所述將存儲器的擦寫延時，重復讀數據通過指令控制器實施單行壓縮時，將操作指令連續沒有變化的行通過矢量圖形控制器的控制指令在矢量圖形文件中將重復行壓縮到一行，以釋放矢量圖形被占用的深度。

進一步地，所述將存儲器的規律讀寫數據通過指令控制器實施區塊調用時，通過矢量圖形控制器的控制指令可以反復調用矢量圖形文件中規定位置的一段，以釋放矢量圖形被占用的深度。

本發明提供的方案通過矢量圖形的指令控制器的有效控制使圖形深度得到有效擴展，能夠在沒有ALPG功能矢量圖形深度不夠的情況下完成對大容量存儲器測試。

再者，本發明提供的方案相對于現有采用昂貴具備ALPG功能的測試機的測試方案，測試成本大大降低；同時測試時間并不增加。

附圖說明

以下結合附圖和具體實施方式來進一步說明本發明。

圖1為本實例中存儲器測試的輸入信號和操作指令示例圖；

圖2為本實例中輸入間隔的規律性控制指令信號的示例圖。