[發(fā)明專利]一種膜片式應(yīng)變計(jì)及其優(yōu)化方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911384473.5 | 申請日: | 2019-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN110895130B | 公開(公告)日: | 2021-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 晏志鵬;雒平華;張勛;趙凱鋒;劉旭;劉建群;李文淵 | 申請(專利權(quán))人: | 中航電測儀器股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B7/16 | 分類號: | G01B7/16 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人: | 王艾華 |
| 地址: | 723007 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 膜片 應(yīng)變 及其 優(yōu)化 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種膜片式應(yīng)變計(jì)及其優(yōu)化方法,所述膜片式應(yīng)變計(jì)包含徑向柵和周向柵,周向柵位于圖形的中心區(qū)域,敏感柵的柵條呈圓周狀,形成回路;徑向柵位于圖形的外邊緣區(qū)域,敏感柵的柵條沿半徑方向呈扇形布局,形成回路。所述優(yōu)化方法首先通過調(diào)整內(nèi)柵的電阻設(shè)計(jì)比率與外柵的電阻比率的差值,抵消掉由于蝕刻時敏感柵的蝕刻方向、速率不同造成電阻柵間差值;其次合理設(shè)計(jì)應(yīng)變計(jì)的焊盤位置和形狀,可以直接進(jìn)行蓋層制作,并且可實(shí)現(xiàn)應(yīng)變計(jì)引線,增加引線焊接的可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于應(yīng)變計(jì)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種膜片式應(yīng)變計(jì)及其優(yōu)化方法。
背景技術(shù)
目前,箔式電阻應(yīng)變計(jì)在傳感器制造行業(yè)、應(yīng)變電測領(lǐng)域應(yīng)用很廣泛。箔式應(yīng)變計(jì)的圖形有直柵、斜柵、環(huán)形柵等,由單柵、雙柵、多柵等構(gòu)成多樣、復(fù)雜的形狀。特別是有一種壓力傳感器用的膜片式應(yīng)變計(jì),其圖形結(jié)構(gòu)更為復(fù)雜,包含有環(huán)形柵和特殊的直柵共計(jì)四個測量敏感柵(電阻),其中有兩個敏感柵的方向沿半徑方向布局(徑向柵),兩個敏感柵的方向沿圓周方向布局(周向柵),使用時連接成一個惠斯通橋路。膜片結(jié)構(gòu)的應(yīng)變計(jì)的圖形設(shè)計(jì)遵循徑向柵與徑向柵位置對稱,周向柵與周向柵位置對稱,引線焊盤集中布局。但是,膜片式應(yīng)變計(jì)受敏感柵的柵條形狀、焊盤位置的影響,其蝕刻后四個敏感柵的電阻差值較大,增加應(yīng)變計(jì)電阻值調(diào)整的難度;還有應(yīng)變計(jì)蓋層密封受焊盤位置的影響,使得蓋層制作工藝復(fù)雜。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種膜片式應(yīng)變計(jì)及其優(yōu)化方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)中,膜片式應(yīng)變計(jì)蝕刻后四個敏感柵的電阻差值較大,增加應(yīng)變計(jì)電阻值調(diào)整的難度;還有應(yīng)變計(jì)蓋層密封受焊盤位置的影響,使得蓋層制作工藝復(fù)雜的技術(shù)問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
一種膜片式應(yīng)變計(jì),包括兩個中心對稱設(shè)置的應(yīng)變計(jì)單元,應(yīng)變計(jì)單元包括徑向柵和周向柵;周向柵位于中心區(qū)域,敏感柵的柵條呈圓周狀,形成回路;徑向柵位于外邊緣區(qū)域,敏感柵的柵條沿半徑方向呈扇形布局,形成回路。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述兩個中心對稱設(shè)置的應(yīng)變計(jì)單元組成非封閉式全橋電路;所述應(yīng)變計(jì)單元包括一個徑向柵、一個周向柵和三個焊盤,所述徑向柵一端連接一個焊盤,另一端通過一個焊盤連接周向柵的一端,周向柵的的另一端連接一個焊盤。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述兩個中心對稱設(shè)置的應(yīng)變計(jì)單元組成封閉式全橋電路;所述應(yīng)變計(jì)單元包括一個徑向柵、一個周向柵和兩個焊盤,所述徑向柵一端通過一個焊盤連接另一個應(yīng)變計(jì)單元的周向柵,另一端通過一個焊盤連接周向柵的一端,周向柵的另一端通過一個焊盤連接另一個應(yīng)變計(jì)單元的徑向柵。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述兩個中心對稱設(shè)置的應(yīng)變計(jì)單元組成非封閉式全橋電路;所述應(yīng)變計(jì)單元包括兩個徑向柵和三個焊盤,所述徑向柵分為內(nèi)圈徑向柵和外圈徑向柵,所述外圈徑向柵的一端連接一個焊盤,另一端通過焊盤連接內(nèi)圈徑向柵的一端,所述內(nèi)圈徑向柵的另一端連接一個焊盤。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述徑向柵兩端之間的夾角為70度~90度。
進(jìn)一步優(yōu)選的,膜片的基底尺寸和敏感柵尺寸一致時,徑向柵的夾角為65度~90度;膜片的基底尺寸大于敏感柵尺寸時,徑向柵的夾角為85度~120度。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述徑向柵和周向柵的敏感柵的柵條寬度相同。
一種膜片式應(yīng)變計(jì)的優(yōu)化方法,包括:
S1通過調(diào)整內(nèi)柵的電阻設(shè)計(jì)比率與外柵的電阻比率的差值,抵消掉由于蝕刻時敏感柵的蝕刻方向、速率不同造成電阻柵間差值;
S2設(shè)計(jì)應(yīng)變計(jì)的焊盤位置和形狀,焊盤為長方形,呈平行狀布局且與引線方向一致,便于引線焊接,保證蓋層能夠全不密封敏感柵區(qū)域。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述徑向柵和周向柵的敏感柵柵條寬度相同,周向柵的蝕刻速率比徑向柵的蝕刻速率低。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中航電測儀器股份有限公司,未經(jīng)中航電測儀器股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911384473.5/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





