[發(fā)明專利]一種偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911380523.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111036578A | 公開(公告)日: | 2020-04-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尤鳴宇;周洪鈞;黃良斌;吳瓊;杜小龍;張曉翔;劉倚華;張慶慶;黃良輝;胥忠保;陳洪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無錫動(dòng)視宮原科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | B07C5/34 | 分類號(hào): | B07C5/34;B07C5/02 |
| 代理公司: | 無錫派爾特知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32340 | 代理人: | 楊立秋 |
| 地址: | 214000 江蘇省無錫市梁溪區(qū)*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 偏光 表面 細(xì)微 凹凸 檢測(cè) 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1:用CCD面陣相機(jī)拍攝偏光片形成整幅圖像,并分割成25×25像素的小圖像;
步驟2:利用VGG16深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練所述小圖像;
步驟3:利用VGG16深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練拍攝到的整幅圖像;
步驟4:如果有所述小圖像發(fā)生了NG類,則判別該偏光片為瑕疵片。
2.如權(quán)利要求1所述的偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)方法,其特征在于,所述VGG16深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)的判別類型包括OK類和NG類,所述NG類包括凸凹點(diǎn)、臟污和MARK點(diǎn)。
3.一種偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)系統(tǒng),包括倒吸風(fēng)裝置(1)、輸送皮帶(2)、CCD面陣相機(jī)(3)和LED光源(4);所述輸送皮帶(2)放置在所述倒吸風(fēng)裝置(1)上。
4.如權(quán)利要求3所述的一種偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述輸送皮帶(2)上開有若干個(gè)吸附孔(21),所述吸附孔(21)分為兩排,沿水平方向依次排列在所述輸送皮帶(2)上。
5.如權(quán)利要求4所述的一種偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述輸送皮帶(2)正面放置有偏光片(5);所述偏光片(5)覆蓋在所述吸附孔(21)上,所述倒吸風(fēng)裝置(1)外部連接有氣泵,形成負(fù)壓吸力,將所述偏光片(5)吸附在所述輸送皮帶(2)上。
6.如權(quán)利要求5所述的一種偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述輸送皮帶(2)外部連接有電機(jī),所述輸送皮帶(2)在電機(jī)的作用下,能夠帶著所述偏光片(5)向前運(yùn)動(dòng)。
7.如權(quán)利要求3所述的一種偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述LED光源(4)的面板由若干根透明條(41)和若干根遮光條(42)拼接而成,所述透明條(41)和所述遮光條(42)交錯(cuò)間隔排列,使所述LED光源(4)成為明暗交替的條形光源。
8.如權(quán)利要求3所述的一種偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述LED光源(4)固定安裝于外部框架上,并且沿斜向?qū)λ銎馄?)進(jìn)行照射。
9.如權(quán)利要求3所述的一種偏光片表面細(xì)微凹凸點(diǎn)的檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述CCD面陣相機(jī)(3)固定安裝于外部框架上,并且沿斜向?qū)λ銎馄?)進(jìn)行拍攝。
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