[發明專利]一種用例參數生成方法及裝置

在審

• 申請號: 201911378791.0
• 申請日: 2019-12-27
• 公開（公告）號: CN113051149A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 胡海莽
• 申請（專利權）人: 深圳云天勵飛技術有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 劉永康

本申請適用于芯片設計領域，提供了一種用例參數生成方法及裝置，便于驗證平臺的維護。該方法包括：獲取目標用例的約束信息，約束信息包括至少一個約束參數的約束條件，至少一個約束參數為目標用例的用例參數集中需要約束的隨機參數；將約束信息輸入共用隨機參數發生函數中，生成用例參數集中的每個用例參數的參數值；其中，共用隨機參數發生函數中預設有每個用例參數的隨機條件，至少一個約束參數的參數值是根據約束條件生成的約束值，用例參數集中除至少一個約束參數外的剩余參數的參數值是根據剩余參數的對應的隨機條件生成的隨機值，共用隨機參數發生函數是包含目標用例在內的多個用例共用的隨機參數發生函數。

技術領域

本申請屬于芯片測試領域，尤其涉及一種用例參數生成方法及裝置。

背景技術

在芯片設計領域中，為了保證芯片的各個功能能夠正常運行，往往需要通過驗證平臺來測試芯片的各個功能。其中，驗證平臺一般包括多個用例，每個用例對應于芯片的一個功能，芯片設計所涉及到的各項參數構成該多個用例的用例參數集。因此，每個用例對應該用例參數集中的一個或多個參數，通過約束該一個或多個參數(我們稱為該用例的約束參數)使得該用例能夠實現相應的功能。

目前，由于每個用例的約束參數不同，因此，驗證平臺中的每個用例都設置有一個專用的隨機參數發生函數。然而，隨著芯片設計越來越復雜，功能越來越豐富，驗證平臺的用例以及用例參數也越來越多。當芯片的硬件規格發生變化或者在驗證過程中發現某個隨機參數的取值范圍需要調整時，往往需要逐個修改每個專用的隨機參數發生函數中對應的隨機條件，導致工作量大，不利于維護。

發明內容

本申請實施例提供了一種用例參數生成方法，可以解決現有技術中，當修改某個隨機參數的隨機條件時，需要修改所有專用的隨機參數發生函數，從而導致工作量大且不易于維護問題。

為解決上述問題，本申請實施例提供了一種用例參數生成方法，包括：獲取目標用例的約束信息，所述約束信息包括至少一個約束參數的約束條件，所述至少一個約束參數為用例參數集中所述目標用例需要約束的參數；將所述約束信息輸入共用隨機參數發生函數中，生成所述用例參數集中的每個用例參數的參數值；其中，所述共用隨機參數發生函數中預設有所述每個用例參數的隨機條件，所述至少一個約束參數的參數值是根據所述約束條件生成的約束值，所述用例參數集中除所述至少一個約束參數外的剩余參數的參數值是根據所述剩余參數的對應的隨機條件生成的隨機值，所述共用隨機參數發生函數是包含所述目標用例在內的多個用例共用的隨機參數發生函數。

在本申請實施例中，采用共用隨機參數發生函數實現目標用例的用例參數的生成。該共用隨機參數發生函數中包括用例參數集中所有用例參數的隨機條件，因此可以為所有用例生成用例參數，而無需為每個用例部署專用的隨機參數發生函數。那么，當某個用例參數的隨機條件需要改變時，只需要修改共用隨機參數發生函數中對應的隨機條件，而無需對每個用例進行修改，避免了巨大的工作量和修改時出現錯誤的風險。且，當增加用例時，僅需在用例文件中增加對應的約束信息，而不需要單獨寫一個專用的隨機參數發生函數，極大的提升了驗證平臺的維護效率。

可選的，共用隨機參數發生函數中采用std::randomize函數實現分步生成參數值。

基于std::randomize函數實現分步生成參數值，便于模擬用例參數之間的依賴關系，并簡化了嘗試的過程，提高了效率，并避免了由于嘗試時間過長而導致超時，并進一步導致生成失敗的問題。

第二方面，本申請提供一種用例參數生成裝置，包括：

獲取單元，用于獲取目標用例的約束信息，所述約束信息包括至少一個約束參數的約束條件，所述至少一個約束參數為用例參數集中所述目標用例需要約束的參數；