[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體設(shè)備的處理器及固件數(shù)據(jù)采集方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911377010.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113051123A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙春雷;曹衛(wèi) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海微電子裝備(集團(tuán))股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/30 | 分類號(hào): | G06F11/30 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體設(shè)備 處理器 數(shù)據(jù) 采集 方法 | ||
本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種半導(dǎo)體設(shè)備的處理器及固件數(shù)據(jù)采集方法,該半導(dǎo)體設(shè)備的處理器包括固件處理模塊,以及與所述固件處理模塊連接的采集處理模塊;所述固件處理模塊用于運(yùn)行固件,得到固件數(shù)據(jù);所述采集處理模塊用于在固件運(yùn)行過(guò)程中采集所述固件數(shù)據(jù)。本發(fā)明實(shí)施例的半導(dǎo)體設(shè)備的處理器可實(shí)現(xiàn)在半導(dǎo)體設(shè)備工作的同時(shí)實(shí)時(shí)采集底層固件運(yùn)行過(guò)程中的固件數(shù)據(jù),提高了獲取的固件數(shù)據(jù)的參考價(jià)值,為采集半導(dǎo)體設(shè)備的固件數(shù)據(jù)提供了一種新思路。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種半導(dǎo)體設(shè)備的處理器及固件數(shù)據(jù)采集方法。
背景技術(shù)
隨著半導(dǎo)體制造設(shè)備向模型化和智能化方向的發(fā)展,設(shè)備工作過(guò)程中其內(nèi)部底層固件運(yùn)行產(chǎn)生的固件數(shù)據(jù)越發(fā)重要,其可用于幫助監(jiān)控半導(dǎo)體設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài),以及優(yōu)化半導(dǎo)體設(shè)備的性能。
但是目前現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法實(shí)現(xiàn)在半導(dǎo)體設(shè)備工作的同時(shí),實(shí)時(shí)采集底層固件運(yùn)行過(guò)程中的固件數(shù)據(jù),只支持在半導(dǎo)體設(shè)備的調(diào)試階段獲取底層固件運(yùn)行過(guò)程中的固件數(shù)據(jù),進(jìn)而導(dǎo)致獲取的固件數(shù)據(jù)的參考價(jià)值較低,急需改進(jìn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于,提供了一種半導(dǎo)體設(shè)備的處理器及固件數(shù)據(jù)采集方法,可實(shí)現(xiàn)在半導(dǎo)體設(shè)備工作的同時(shí)實(shí)時(shí)采集底層固件運(yùn)行過(guò)程中的固件數(shù)據(jù),提高了獲取的固件數(shù)據(jù)的參考價(jià)值,為采集半導(dǎo)體設(shè)備的固件數(shù)據(jù)提供了一種新思路。
為達(dá)此目的,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種半導(dǎo)體設(shè)備的處理器,該處理器包括固件處理模塊,以及與所述固件處理模塊連接的采集處理模塊;
所述固件處理模塊用于運(yùn)行固件,得到固件數(shù)據(jù);
所述采集處理模塊用于在固件運(yùn)行過(guò)程中采集所述固件數(shù)據(jù)。
第二方法,本法明實(shí)施例提供了一種固件數(shù)據(jù)采集方法,由上述第一方面所述的半導(dǎo)體設(shè)備的處理器執(zhí)行,所述方法包括:
固件處理模塊運(yùn)行固件,得到固件數(shù)據(jù);
采集處理模塊在固件運(yùn)行過(guò)程中采集所述固件數(shù)據(jù)。
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種半導(dǎo)體設(shè)備的處理器及固件數(shù)據(jù)采集方法,半導(dǎo)體設(shè)備的處理器中包括兩個(gè)相互連接的固件處理模塊和采集處理模塊,由固件處理模塊控制設(shè)備工作時(shí)的固件運(yùn)行過(guò)程,由采集處理模塊專門采集固件運(yùn)行過(guò)程中的固件數(shù)據(jù)。本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案處理器中設(shè)置兩個(gè)處理模塊,一個(gè)用來(lái)控制固件運(yùn)行,另一個(gè)用來(lái)采集固件運(yùn)行過(guò)程中的固件數(shù)據(jù),在不影響半導(dǎo)體設(shè)備正常運(yùn)行的前提下,可實(shí)時(shí)采集底層固件運(yùn)行過(guò)程中的大量固件數(shù)據(jù),提高了獲取的固件數(shù)據(jù)的參考價(jià)值,為采集半導(dǎo)體設(shè)備的固件數(shù)據(jù)提供了一種新思路。
附圖說(shuō)明
通過(guò)閱讀參照以下附圖所作的對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述,本發(fā)明的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯:
圖1是本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種半導(dǎo)體設(shè)備的處理器的結(jié)構(gòu)框圖;
圖2是本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種半導(dǎo)體設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖;
圖3是本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種半導(dǎo)體設(shè)備的處理器的結(jié)構(gòu)框圖;
圖4是本發(fā)明實(shí)施例二提供的另一種半導(dǎo)體設(shè)備的處理器的結(jié)構(gòu)框圖;
圖5是本發(fā)明實(shí)施例三提供的一種固件數(shù)據(jù)采集方法的流程圖;
圖6是本發(fā)明實(shí)施例四提供的一種固件數(shù)據(jù)采集方法的流程圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。可以理解的是,此處所描述的具體實(shí)施例僅用于解釋本發(fā)明,而非對(duì)本發(fā)明的限定。另外還需要說(shuō)明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分而非全部?jī)?nèi)容。
實(shí)施例一
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- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 用于檢測(cè)半導(dǎo)體設(shè)備的裝置
- 監(jiān)測(cè)半導(dǎo)體存儲(chǔ)設(shè)備可靠性的方法及其裝置
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- 多晶硅柵極關(guān)鍵尺寸的先進(jìn)控制方法
- 具有磁耦合設(shè)備的半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)
- 半導(dǎo)體工藝及半導(dǎo)體設(shè)備
- 半導(dǎo)體設(shè)備封裝及其制造方法
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- 數(shù)據(jù)顯示系統(tǒng)、數(shù)據(jù)中繼設(shè)備、數(shù)據(jù)中繼方法、數(shù)據(jù)系統(tǒng)、接收設(shè)備和數(shù)據(jù)讀取方法
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- 數(shù)據(jù)發(fā)送方法、數(shù)據(jù)再現(xiàn)方法、數(shù)據(jù)發(fā)送裝置及數(shù)據(jù)再現(xiàn)裝置





