[發(fā)明專利]一種適用于CeBr3

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911375983.6
• 申請日: 2019-12-27
• 公開（公告）號: CN111045072B
• 公開（公告）日: 2023-08-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馮延強(qiáng);王海洋
• 申請（專利權(quán)）人: 核工業(yè)北京地質(zhì)研究院
• 主分類號: G01T1/36
• 分類號: G01T1/36
• 代理公司: 核工業(yè)專利中心 11007
• 代理人: 王婷

1.一種適用于CeBr3探測器的γ能譜迭代解譜方法，其特征在于包括如下步驟：

步驟一、利用¹³⁷Cs標(biāo)準(zhǔn)源進(jìn)行CeBr₃探測器的γ能譜峰位校準(zhǔn)，以確保獲取的不同標(biāo)準(zhǔn)源γ能譜數(shù)據(jù)能量分布線性；

步驟二、測量獲取CeBr₃探測器的本底及²²⁶Ra、²³²Th和⁴⁰K的γ能譜原始數(shù)據(jù)；

步驟三、針對²²⁶Ra、²³²Th和⁴⁰K的γ能譜原始數(shù)據(jù)扣除本底；

步驟四、分析扣除本底后的γ能譜數(shù)據(jù)，確定²²⁶Ra、²³²Th和⁴⁰K峰位及計(jì)算峰面積的峰寬；

步驟五、利用峰位及峰寬計(jì)算出各特征峰峰面積，并建立各特征峰的數(shù)學(xué)比例關(guān)系模型；

步驟六、利用步驟三扣除本底后的原始譜數(shù)據(jù)及步驟五建立的各個(gè)特征峰的數(shù)學(xué)比例模型多次迭代剝譜，獲取²²⁶Ra、²³²Th和⁴⁰K的凈峰面積；所述步驟六還包括：利用²²⁶Ra的全譜數(shù)學(xué)比例關(guān)系，剝離²³²Th中²²⁶Ra的天然放射性干擾，獲得第1次剝譜數(shù)據(jù)；然后，利用²³²Th的全譜數(shù)學(xué)比例關(guān)系，剝離²²⁶Ra中²³²Th的散射干擾，獲得第2次剝譜數(shù)據(jù)，完成第1次迭代；

依次重復(fù)上述步驟進(jìn)行迭代剝譜，來獲取第n+1次剝譜數(shù)據(jù)及n+2次剝譜數(shù)據(jù)，逐漸使²²⁶Ra、²³²Th的特征峰逼近無干擾狀態(tài)，一般迭代3次便可進(jìn)行凈峰面積及全譜數(shù)據(jù)計(jì)算；最后，利用步驟五建立的數(shù)學(xué)比例模型，從步驟三獲取的原始譜數(shù)據(jù)中扣除⁴⁰K特征峰1460keV中²²⁶Ra、²³²Th的散射干擾，再利用步驟五建立的數(shù)學(xué)比例關(guān)系，得到⁴⁰K凈峰面積及全譜數(shù)據(jù)；步驟六中實(shí)現(xiàn)的多次迭代剝譜，獲取²²⁶Ra、²³²Th和⁴⁰K凈峰面積；

步驟七、使用多次迭代剝譜獲取的各特征峰的凈峰面積，利用步驟二中各放射性標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的活度值，計(jì)算出待分析樣品中的²²⁶Ra、²³²Th和⁴⁰K的放射性活度。