[發明專利]一種軸間距測量方法、裝置、系統、存儲介質和處理器在審
| 申請號： | 201911371981.X | 申請日： | 2019-12-27 |
| 公開（公告）號： | CN111023947A | 公開（公告）日： | 2020-04-17 |
| 發明（設計）人： | 王曉光;劉柯;朱浩;郭天茂;王鍇磊;鮑晨興 | 申請（專利權）人： | 北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院 |
| 主分類號： | G01B5/14 | 分類號： | G01B5/14 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 100076 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 間距 測量方法 裝置 系統 存儲 介質 處理器 | ||
1.一種軸間距測量方法，其特征在于，包括：
將千分表固定于測量球的球體表面進行測量得到測量讀數；
根據所述測量讀數的變化來調節所述俯仰軸的軸線與所述測量球的球心直至重合，其中，所述俯仰軸是平行于水平面并正交于方位軸的軸線，所述方位軸是垂直于水平面的軸線；
將所述俯仰軸繞所述方位軸旋轉180度；
將所述千分表固定于所述俯仰軸的另一端來測量所述測量球球體表面的任意兩點得到兩點的千分表讀數；
計算所述兩點千分表讀數的差值得到測量結果。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，將所述俯仰軸繞所述方位軸旋轉180度包括：
通過調節光管去測量六面體相對的兩個面來將所述俯仰軸繞所述方位軸旋轉180度，其中，所述六面體的對稱中心線位于所述方位軸軸線上。
3.一種軸間距測量裝置，其特征在于，包括：千分表和測量球，所述千分表隨著測量的進行在所述測量球的球體表面與俯仰軸之間移動，所述測量球是高精度球體，所述千分表測量所述測量球的球體表面和所述測量球的球體任意兩點。
4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，所述測量球的球體任意兩點是所述測量球的球體表面上的任意以所述測量球中心線對稱的兩點。
5.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，包括：光管與六面體，所述光管設置于所述六面體的一側，所述千分表設置于所述六面體的另一側，所述光管測量六面體相對的兩個面，所述六面體的對稱中心線位于方位軸軸線上，所述方位軸垂直于所述測量臺的水平臺面。
6.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，包括：測量臺、第一二維位移臺和第二二維位移臺，所述第一二維位移臺固定于所述測量臺上，所述測量球設置于所述第一二維位移臺上；所述六面體置于所述第二二維位移臺上，所述第二二維位移臺設置在所述測量臺上。
7.一種軸間距測量系統，其特征在于，包括：
第一測量單元，用于將千分表固定于測量球的球體表面進行測量得到測量讀數；
第一調節單元，用于根據所述測量讀數的變化來調節所述俯仰軸的軸線與所述測量球的球心直至重合，其中，所述俯仰軸是；
第二調節單元，用于將所述俯仰軸繞所述方位軸旋轉180度；
第二測量單元，用于將所述千分表固定于所述俯仰軸的另一端來測量所述測量球球體表面的任意兩點得到兩點的千分表讀數；
計算單元，用于計算所述兩點千分表讀數的差值得到測量結果。
8.根據權利要求7所述的系統，其特征在于，所述第二調節單元包括：調節模塊，所述調節模塊用于通過調節光管去測量六面體相對的兩個面來將所述俯仰軸繞所述方位軸旋轉180度，其中，所述六面體的對稱中心線位于所述方位軸軸線上。
9.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質上保存有程序，所述程序被運行時執行權利要求1或2所述的方法。
10.一種處理器，其特征在于，所述程序被運行時執行權利要求1或2所述的方法。
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