[發(fā)明專利]一種熄屏控制方法及電子設(shè)備

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911359849.7
• 申請(qǐng)日: 2019-12-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111147667A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-05-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳光軍;彭凱;劉暢;吳練起
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): H04M1/725
• 分類號(hào): H04M1/725;H04W52/02;G06F3/14;G06F1/3234
• 代理公司: 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種熄屏控制方法，其特征在于，應(yīng)用于電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括攝像頭，所述方法包括：

所述電子設(shè)備的顯示屏亮屏狀態(tài)時(shí)，所述電子設(shè)備確定所述電子設(shè)備滿足第一條件；其中，所述第一條件包括以下的一個(gè)或多個(gè)：有物體靠近所述顯示屏，或者有物體靠近所述攝像頭，或者所述電子設(shè)備的移動(dòng)軌跡滿足預(yù)設(shè)軌跡；

所述電子設(shè)備通過(guò)所述攝像頭采集第一圖像；

所述電子設(shè)備分析所述第一圖像，確定所述第一圖像包括第一特征，其中，所述第一特征是設(shè)定的靠近所述電子設(shè)備的物體的至少部分圖像特征；

所述電子設(shè)備熄屏。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述電子設(shè)備的顯示屏亮屏狀態(tài)時(shí)，所述電子設(shè)備確定所述電子設(shè)備滿足第一條件，包括：

所述電子設(shè)備的顯示屏亮屏狀態(tài)時(shí)，所述電子設(shè)備采集第一數(shù)據(jù)；其中，所述第一數(shù)據(jù)至少包括以下中的一種或多種：磁場(chǎng)數(shù)據(jù)、反射光數(shù)據(jù)或所述電子設(shè)備的運(yùn)動(dòng)數(shù)據(jù)；

所述電子設(shè)備通過(guò)分析所述第一數(shù)據(jù)，確定有物體靠近所述顯示屏，或者確定有物體靠近所述攝像頭，或者所述電子設(shè)備的移動(dòng)軌跡滿足預(yù)設(shè)軌跡，則確定所述電子設(shè)備滿足第一條件。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述電子設(shè)備分析所述第一圖像，確定所述第一圖像包括第一特征之后，所述電子設(shè)備熄屏之前，所述方法還包括：

所述電子設(shè)備根據(jù)所述第一圖像確定所述第一特征對(duì)應(yīng)的物體與所述電子設(shè)備之間的距離；

所述電子設(shè)備確定所述第一特征對(duì)應(yīng)的物體與所述電子設(shè)備之間的距離小于第一距離閾值；所述第一距離閾值為預(yù)設(shè)距離閾值。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述電子設(shè)備根據(jù)所述第一圖像確定所述第一特征對(duì)應(yīng)的物體與所述電子設(shè)備之間的距離，包括：

所述電子設(shè)備根據(jù)所述第一圖像確定第一物體的深度信息，所述第一物體是所述第一特征對(duì)應(yīng)的物體；所述深度信息用于表征所述第一物體上的至少一個(gè)點(diǎn)到所述攝像頭的距離，所述至少一個(gè)點(diǎn)包括所述第一特征對(duì)應(yīng)的物體的點(diǎn)；

所述電子設(shè)備根據(jù)所述第一物體的深度信息，確定所述第一特征對(duì)應(yīng)的物體與所述電子設(shè)備之間的距離。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述電子設(shè)備分析所述第一圖像，確定所述第一圖像包括第一特征，包括：

所述電子設(shè)備對(duì)所述第一圖像進(jìn)行特征分析，獲得至少一個(gè)圖像特征；

若所述至少一個(gè)圖像特征中包括所述第一特征，所述電子設(shè)備確定所述第一圖像包括所述第一特征。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述電子設(shè)備分析所述第一圖像，確定所述第一圖像包括第一特征，包括：

所述電子設(shè)備通過(guò)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對(duì)所述第一圖像進(jìn)行特征分析，獲得所述至少一個(gè)圖像特征；

所述電子設(shè)備通過(guò)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對(duì)所述至少一個(gè)圖像特征進(jìn)行特征識(shí)別，若所述至少一個(gè)圖像特征中包括所述第一特征，所述電子設(shè)備確定所述第一圖像包括所述第一特征。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型為輕量化卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型。

8.根據(jù)權(quán)利要求2-7任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述第一數(shù)據(jù)為磁場(chǎng)數(shù)據(jù)，所述電子設(shè)備確定所述電子設(shè)備滿足第一條件，包括：所述電子設(shè)備分析所述磁場(chǎng)數(shù)據(jù)，確定所述磁場(chǎng)數(shù)據(jù)指示的磁場(chǎng)強(qiáng)度大于預(yù)設(shè)磁場(chǎng)閾值；或者，

所述第一數(shù)據(jù)為所述電子設(shè)備的運(yùn)動(dòng)數(shù)據(jù)，所述電子設(shè)備確定所述電子設(shè)備滿足第一條件，包括：所述電子設(shè)備確定分析所述電子設(shè)備的運(yùn)動(dòng)數(shù)據(jù)，確定所述電子設(shè)備的移動(dòng)軌跡滿足預(yù)設(shè)軌跡；或者，所述第一數(shù)據(jù)為反射光數(shù)據(jù)，所述反射光數(shù)據(jù)用于確定所述電子設(shè)備與所述反射光數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的物體之間的距離；

所述電子設(shè)備確定所述電子設(shè)備滿足第一條件，包括：所述電子設(shè)備分析所述反射光數(shù)據(jù)，根據(jù)所述反射光數(shù)據(jù)確定所述電子設(shè)備與所述物體之間的距離小于第二距離閾值。