[發(fā)明專利]一種具有計(jì)數(shù)功能的SMD二端元件測試裝置

在審

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• 申請日: 2019-12-25
• 公開（公告）號: CN111044760A
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李玉學(xué);陽秋光;許航
• 申請（專利權(quán)）人: 貴州航天計(jì)量測試技術(shù)研究所
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/067;G01R1/073;G06M1/27;G06M1/28
• 代理公司: 中國航天科工集團(tuán)公司專利中心 11024
• 代理人: 葛鵬

本發(fā)明公開了一種具有計(jì)數(shù)功能的SMD二端元件測試裝置，包括兩測試桿，兩測試桿的測試端分別設(shè)有測試針，兩測試針分別電性連有至少一根電纜，一根測試桿的測試端上還設(shè)有信號發(fā)生器，另一根測試桿的測試端上還設(shè)有與信號發(fā)生器相對的信號接收器，所述測試桿上還設(shè)有與信號接收器電性相連的顯示屏、電源開關(guān)和計(jì)數(shù)清零復(fù)位開關(guān)。節(jié)約了人力成本，能夠適用于多種規(guī)格SMD二端元件的測試和計(jì)數(shù)。本發(fā)明應(yīng)用于電子元件測試技術(shù)領(lǐng)域。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子元件測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種具有計(jì)數(shù)功能的SMD二端元件測試裝置。

背景技術(shù)

目前常見的SMD二端元件有電阻、電容、電感、二極管等，其使用的測試方式一般有二種，一種是使用兩根帶有測試夾的測試線，測試線的一端連接測試設(shè)備，兩個(gè)夾子分別接觸元件的兩端管腳進(jìn)行測試，測試過程中可能存在接觸不好導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確的情況，在對有極性元件測試時(shí)需要先將元件按同一方向放置，測試效率不高；一種是特制的測試夾具(或電路板)，將夾具(或電路板)安裝在測試設(shè)備上，元件放置到測試夾具(或電路板的線路)上進(jìn)行測試，測試完成后需要將其取下，這樣會(huì)影響測試的效率，一般一種型號規(guī)格的夾具只能用于該型號元件的測試，不能用于其它型號規(guī)格的元件，測試夾具的利用率低。SMD二端元件測試完成后還需要清點(diǎn)數(shù)量，將花費(fèi)較大的人力成本。

發(fā)明內(nèi)容

(一)要解決的技術(shù)問題

一種具有計(jì)數(shù)功能的SMD二端元件測試裝置，在測試的過程中實(shí)現(xiàn)了計(jì)數(shù)功能，測試完成后無需再次清點(diǎn)數(shù)量，節(jié)約了工序，節(jié)約了人力成本，提高了SMD二端元件測試效率，避免了可能存在接觸不好導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確的情況發(fā)生，能夠適用于多種規(guī)格SMD二端元件的測試和計(jì)數(shù)。

(二)技術(shù)方案

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種具有計(jì)數(shù)功能的SMD二端元件測試裝置，包括兩測試桿，兩測試桿的測試端分別設(shè)有測試針，兩測試針分別電性連有至少一根電纜，一根測試桿的測試端上還設(shè)有信號發(fā)生器，另一根測試桿的測試端上還設(shè)有與信號發(fā)生器相對的信號接收器，所述測試桿上還設(shè)有與信號接收器電性相連的顯示屏、電源開關(guān)和計(jì)數(shù)清零復(fù)位開關(guān)。

進(jìn)一步改進(jìn)的，所述測試桿采用絕緣、耐壓且防靜電的材料制成。

進(jìn)一步改進(jìn)的，兩測試桿之間連有彈性元件，兩測試桿在彈性元件的作用下形成V形，兩測試桿的測試端在彈性元件的作用下相互靠攏。

進(jìn)一步改進(jìn)的，所述測試桿為中空管狀，與兩測試針電性相連的電纜分別穿設(shè)在對應(yīng)測試桿的內(nèi)部。

進(jìn)一步改進(jìn)的，所述測試針的末端為彈性材料制成。

進(jìn)一步改進(jìn)的，所述彈性材料為鈹銅。

進(jìn)一步改進(jìn)的，兩測試針的末端相互平行。

進(jìn)一步改進(jìn)的，沿測試針軸向設(shè)有用于增加摩擦力的刻度。

進(jìn)一步改進(jìn)的，每根測試針連接有兩根電纜。

(三)有益效果

本發(fā)明的具有計(jì)數(shù)功能的SMD二端元件測試裝置測試前，將兩測試桿的測試端接觸在一起，使信號發(fā)生器的信號輸出端和信號接收器的信號輸入端互聯(lián)導(dǎo)通，接通電源并打開電源開關(guān)后，信號發(fā)生器輸出高電平信號。電纜的一端連接測試針，電纜的另一端連接測試設(shè)備，測試時(shí)移動(dòng)兩測試桿，使兩測試針分開至合適的間距夾住SMD二端元件的管腳兩端，通過電纜連接的測試設(shè)備能夠?qū)MD二端元件進(jìn)行測試。此時(shí)，兩測試桿的測試端相分離，信號發(fā)生器的信號輸出端和信號接收器的信號輸入端斷開，當(dāng)輸入信號為下降沿時(shí)計(jì)數(shù)。計(jì)數(shù)的數(shù)量通過顯示屏顯示，完成一次計(jì)數(shù)后，可以通過計(jì)數(shù)清零復(fù)位開關(guān)復(fù)位清零，進(jìn)入下一次測試和計(jì)數(shù)。