[發明專利]一種拉曼光譜檢測裝置有效
| 申請號： | 201911356321.4 | 申請日： | 2019-12-25 |
| 公開（公告）號： | CN111912825B | 公開（公告）日： | 2023-03-28 |
| 發明（設計）人： | 王斌;徐曉軒;梁菁;鄭忠翔 | 申請（專利權）人： | 南開大學 |
| 主分類號： | G01N21/65 | 分類號： | G01N21/65;G01J3/44;G01J3/02 |
| 代理公司： | 北京金智普華知識產權代理有限公司 11401 | 代理人： | 楊采良 |
| 地址： | 300073*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光譜 檢測 裝置 | ||
1.一種拉曼光譜檢測方法，其特征在于：所述方法包括以下步驟：
步驟（1）將檢測對象分別置于納米線基底和納米顆粒基底上；
步驟（2）當選擇納米線陣列基底時，光源發出的光依次經過所述納米線陣列基底、第一物鏡和光譜分析單元；當選擇納米顆粒基底時，光源發出的光依次經過所述納米顆?；住⒌诙镧R和成像單元；
步驟（3）所述成像單元將圖像信息傳輸給上位機進行比較分析；
其中，所述第一物鏡從物方到像方依次包括由正屈光度的第一透鏡和負屈光度的第二透鏡組成的第一膠合透鏡、由正屈光度的第三透鏡和負屈光度的第四透鏡組成的第二膠合透鏡以及負屈光度的第五透鏡；
并滿足d1/TTL0.45，其中d1為所述第一透鏡的半徑，TTL為所述第一物鏡的光學總長；
所述第二物鏡從物方到像方依次包括由正屈光度的第六透鏡和負屈光度的第七透鏡組成的第三膠合透鏡、由正屈光度的第八透鏡和負屈光度的第九透鏡組成的第四膠合透鏡以及負屈光度的第十透鏡；
所述第二物鏡的視場角θ滿足，110oθ70o，所述第二物鏡的數值孔徑NA0.6；
所述第一物鏡滿足以下條件：1.9f1/f401.2；
3.7f1/f21.1；
5.1f1/f32.4；
其中，所述第一膠合透鏡的焦距為f1, 所述第二膠合透鏡的焦距為f2，所述第五透鏡的焦距為f3，所述第一物鏡的總焦距為f40；
所述第二物鏡滿足以下條件：1.7f5/f601.3；
2.7f6/f601.5；
-1.2f7/f60-1.6；
其中，所述第三膠合透鏡的焦距為f5, 所述第四膠合透鏡的焦距為f6，所述第十透鏡的焦距為f7，所述第二物鏡的總焦距為f60。
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