[發(fā)明專利]一種觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)方法及檢測(cè)裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911351791.1
• 申請(qǐng)日: 2019-12-24
• 公開（公告）號(hào): CN111123003A
• 公開（公告）日: 2020-05-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王獻(xiàn)峰;王建磊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州敏柔電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01N21/88
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)方法，所述觸摸膜具有沿第一方向依次設(shè)置的第一電極組和沿第二方向依次設(shè)置的第二電極組，其特征在于，包括如下步驟：沿所述觸摸膜的第一方向依次測(cè)量所述第一電極組，并記錄異常響應(yīng)的電極序列坐標(biāo)RXn；沿所述觸摸膜的第二方向依次測(cè)量所述第二電極組，并記錄異常響應(yīng)的電極序列坐標(biāo)TXn；獲取所述觸摸膜的第一方向與所述觸摸膜的第二方向的夾角值， 獲取第一電極組間距值常量 d，第二電極組間距值常量 D，及 RXn， TXn 坐標(biāo)；計(jì)算并獲得所述觸摸膜的故障點(diǎn)的位置。

2.根據(jù)權(quán)利要求 1 所述的觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)方法，其特征在于，還包括如下步驟：

標(biāo)記所述第一電極組異常響應(yīng)的電極序列坐標(biāo) TXn 在所述觸摸膜第一方向的第一起始位置，并從所述第一起始位置沿所述第一電極組的延伸方向做第一延長線；

標(biāo)記所述第二電極組異常響應(yīng)的電極序列坐標(biāo) TXn 在所述觸摸膜第二方向的第二起始位置，并從所述第二起始位置沿所述第二電極組的延伸方向做第二延長線；

獲取所述第一延長線與所述第二延長線的交點(diǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求 2 所述的觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)方法，其特征在于，所述觸摸膜的第一方向與所述觸摸膜的第二方向的夾角值為 90度。

4.根據(jù)權(quán)利要求 2 或 3 任意一項(xiàng)所述的觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)方法，其特征在于，所述第一起始位置為 d×(n-1)；所述第二起始位置為D×(n-1)。

5.根據(jù)權(quán)利要求 4 所述的觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)方法，特征在于， 輸出并顯示所述故障點(diǎn)的位置。

6.一種觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)裝置，用于實(shí)施上述權(quán)利要求 1-5任一項(xiàng)所述的觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)方法，其特征在于，包括： 載物臺(tái)，被配置為可放置待檢測(cè)觸摸膜；測(cè)試信號(hào)源，被配置為可依次輸出檢測(cè)信號(hào)；數(shù)據(jù)采集接口，被配置為可采集所述待檢測(cè)觸摸膜的電極組的輸出信號(hào)；處理器，被配置為可記錄和標(biāo)記所述待檢測(cè)觸摸膜的異常響應(yīng)電極的數(shù)據(jù)；

顯示屏，用于顯示檢測(cè)結(jié)果和故障點(diǎn)的位置。

7.根據(jù)權(quán)利要求 6 所述的一種觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括：

所述顯示屏復(fù)用為所述載物臺(tái)的承載面，可以在所述承載面上直接標(biāo)記出所述故障點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的位置。

8.根據(jù)權(quán)利要求 6 所述的一種觸摸膜的故障點(diǎn)檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括：光學(xué)檢查攝像頭，被配置為可對(duì)故障點(diǎn)進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦、放大并進(jìn)行圖像采集。