[發(fā)明專利]一種檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911349400.2
• 申請(qǐng)日: 2019-12-24
• 公開（公告）號(hào): CN111025619A
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周師發(fā);李航宇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州靈猴機(jī)器人有限公司
• 主分類號(hào): G02B23/24
• 分類號(hào): G02B23/24
• 代理公司: 蘇州知途知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32299
• 代理人: 時(shí)萌萌

本申請(qǐng)涉及一種檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，包括：鏡頭，內(nèi)部具有能夠讓光線通過的通道；光源；探管，一端連接在鏡頭的一端，另一端的內(nèi)部設(shè)有光線偏折組件，探管一側(cè)對(duì)齊光線偏折組件處設(shè)有開口；探管外部的光線能夠從開口進(jìn)入內(nèi)部并經(jīng)過光線偏折組件后沿通道軸線方向傳輸；光纖，光纖排布在探管內(nèi)，一端連接光源，另一端從探管的開口邊緣露出，以使光源發(fā)出的光能夠沿光纖照射出；相機(jī)組件，連接在鏡頭的另一端，位于探管對(duì)側(cè)，相機(jī)組件的拍攝方向?qū)R通道軸線方向。本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明解決了小直徑、深度長(zhǎng)柱體工件內(nèi)壁圖像難以獲取的難題，適用于透明及不透明柱體內(nèi)壁檢測(cè)，提高生產(chǎn)線的自動(dòng)化水平。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)屬于工件表面檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置。

背景技術(shù)

對(duì)圓筒、圓管內(nèi)壁的測(cè)量或檢測(cè)是機(jī)械加工領(lǐng)域檢測(cè)工序中較為困難的步驟，主要受限于空間和光線的不足，使圓筒、圓管內(nèi)壁不能夠采用外壁測(cè)量工具。

目前很多廠商檢測(cè)小尺寸柱體內(nèi)壁缺陷時(shí)采用人工檢測(cè)的方法，即使用幾十倍的發(fā)大鏡進(jìn)行人員觀察內(nèi)壁，這種方式不僅耗費(fèi)大量的人力，且效率低下。采用常用的同軸光源、環(huán)形光源等視覺光源檢測(cè)時(shí)，對(duì)于較小直徑且深度較深的柱體工件，該類無法均勻照亮柱體的內(nèi)壁，導(dǎo)致視覺軟件無法判斷缺陷。采用激光的方式會(huì)存在散斑，影響缺陷的判斷。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是：為解決現(xiàn)有技術(shù)中柱體內(nèi)壁檢測(cè)時(shí)打光方式的不足，從而提供一種利用光纖傳導(dǎo)的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，包括：

鏡頭，內(nèi)部具有能夠讓光線通過的通道；

光源；

探管，一端連接在所述鏡頭的一端，另一端的內(nèi)部設(shè)有光線偏折組件，所述探管一側(cè)對(duì)齊所述光線偏折組件處設(shè)有開口；所述探管外部的光線能夠從所述開口進(jìn)入內(nèi)部并經(jīng)過所述光線偏折組件后沿所述通道軸線方向傳輸；

光纖，所述光纖排布在所述探管內(nèi)，一端連接所述光源，另一端從所述探管的開口邊緣露出，以使所述光源發(fā)出的光能夠沿所述光纖照射出；

相機(jī)組件，連接在所述鏡頭的另一端，位于所述探管對(duì)側(cè)，所述相機(jī)組件的拍攝方向?qū)R所述通道軸線方向。

優(yōu)選地，本發(fā)明的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，所述探管包括內(nèi)探管和外探管，所述外探管套在所述內(nèi)探管外部，所述光纖排布在所述內(nèi)探管和所述外探管之間。

優(yōu)選地，本發(fā)明的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，所述開口包括位于所述內(nèi)探管上的內(nèi)開口和位于所述外探管上的外開口。

優(yōu)選地，本發(fā)明的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，所述外探管的側(cè)壁上設(shè)有用于透光的出光孔，所述出光孔位于所述外開口邊緣，所述光纖的一端與所述出光孔連接。

優(yōu)選地，本發(fā)明的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，所述鏡頭和所述探管通過固定件連接，所述固定件具有能夠通過螺釘松緊的可拆卸結(jié)構(gòu)。

優(yōu)選地，本發(fā)明的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，所述光源連接在所述固定件一側(cè)，所述固定件內(nèi)部具有供所述光纖穿過的中空區(qū)域；所述探管和所述固定件連接處設(shè)有供所述光纖穿過的孔隙。

優(yōu)選地，本發(fā)明的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，所述光線偏折組件為平面鏡，所述光線偏折組件的反射面與所述通道的軸線成45度角。

優(yōu)選地，本發(fā)明的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，所述內(nèi)開口和所述外開口的形狀為V形。

優(yōu)選地，本發(fā)明的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，所述光纖的中間段平行于所述探管的軸線排布。

優(yōu)選地，本發(fā)明的檢測(cè)柱體內(nèi)壁缺陷的裝置，所述光纖的中間段螺旋盤繞在所述探管的側(cè)壁上。