[發明專利]一種晶圓清洗固定裝置和方法在審
| 申請號: | 201911347774.0 | 申請日: | 2019-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN111146120A | 公開(公告)日: | 2020-05-12 |
| 發明(設計)人: | 厲心宇 | 申請(專利權)人: | 上海集成電路研發中心有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/687 |
| 代理公司: | 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吳世華;馬盼 |
| 地址: | 201210 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 清洗 固定 裝置 方法 | ||
1.一種晶圓清洗固定裝置,其特征在于,包括承載臺、固定銷、驅動單元、輔助單元,所述固定銷位于所述承載臺的表面,所述驅動單元連接所述固定銷,用于推動固定銷固定或松開晶圓;所述輔助單元包括壓力傳感器、控制中心和電機,所述壓力傳感器位于所述固定銷的背面,所述壓力傳感器連接控制中心,所述壓力傳感器用于測量晶圓對固定銷的壓力,并將測量結果傳輸至控制中心進行分析,所述控制中心根據分析結果控制電機帶動固定銷進行移動,確保晶圓不與承載臺接觸。
2.根據權利要求1所述的一種晶圓清洗固定裝置,其特征在于,所述輔助單元還包括絲桿聯軸,所述絲桿聯軸一端連接電機,另一端連接固定銷。
3.根據權利要求2所述的一種晶圓清洗固定裝置,其特征在于,所述驅動單元和絲桿聯軸均通過驅動軸連接至固定銷。
4.根據權利要求1所述的一種晶圓清洗固定裝置,其特征在于,所述固定銷為柱狀,所述固定銷正面與所述晶圓進行點接觸。
5.根據權利要求1所述的一種晶圓清洗固定裝置,其特征在于,所述壓力傳感器與所述固定銷的正常工作位置距離為0-10mm。
6.根據權利要求1所述的一種晶圓清洗固定裝置,其特征在于,所述固定銷為N個,所述驅動單元為N個,所述輔助單元為N個,且所述固定銷、驅動單元和輔助單元一一對應。
7.一種晶圓清洗固定方法,其特征在于,包括如下步驟:
S01:將晶圓移動至承載臺上方,驅動單元帶動固定銷固定晶圓,使得所述晶圓不與承載臺接觸;
S02:所述承載臺帶動所述固定銷和晶圓開始旋轉;
S03:壓力傳感器測量所述晶圓對固定銷的壓力,并將測量結果傳輸至控制中心進行分析;
S04:所述控制中心根據分析結果控制電機帶動固定銷進行移動,使得晶圓不與承載臺接觸;
S05:所述晶圓完成清洗工藝后,所述驅動單元控制固定銷回到初始位置,所述晶圓被移走。
8.根據權利要求7所述的一種晶圓清洗固定方法,其特征在于,所述步驟S03中,所述壓力傳感器測量所述晶圓對固定銷的壓力,并將測量的壓力轉換為電信號傳輸給所述控制中心進行分析,所述控制中心對所述電信號運算放大后輸出控制信號到所述電機。
9.根據權利要求8所述的一種晶圓清洗固定方法,其特征在于,所述電信號為電壓信號或者電流信號。
10.根據權利要求8所述的一種晶圓清洗固定方法,其特征在于,所述壓力傳感器與所述固定銷的正常工作位置距離為0-10mm;所述步驟S03中,當所述固定銷在旋轉過程中的位置發生變化時,所述壓力傳感器測量所述晶圓對固定銷的壓力。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





