[發明專利]一種膜電極組件氣密性檢測方法及氣密性檢測裝置

在審

• 申請號: 201911345903.2
• 申請日: 2019-12-23
• 公開（公告）號: CN110849552A
• 公開（公告）日: 2020-02-28
• 發明（設計）人: 杜靈根;夏豐杰;方曉;余罡;詹明
• 申請（專利權）人: 武漢船用電力推進裝置研究所（中國船舶重工集團公司第七一二研究所）
• 主分類號: G01M3/20
• 分類號: G01M3/20
• 代理公司: 武漢智嘉聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 42231
• 代理人: 江慧

1.一種膜電極組件氣密性檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)將夾具設置于膜電極組件的兩側，使得夾具與膜電極組件的兩側分別形成第一密封腔、第二密封腔；

(2)向第一密封腔內注入一定壓力的氦氣或者氦氣混合氣；

(3)將第二密封腔抽成真空；

(4)對第二密封腔進行氦檢，當讀數大于指定值時，判定膜電極組件已泄露。

2.根據權利要求1所述的膜電極組件氣密性檢測方法，其特征在于，所述膜電極組件氣密性檢測方法還包括如下步驟：

(5)當檢測到膜電極組件泄露時，向第一密封腔內注入一定壓力的氫氣或者氫氣混合氣；

(6)通過紅外成像儀對膜電極組件的泄漏點進行定位檢測。

3.根據權利要求1所述的膜電極組件氣密性檢測方法，其特征在于，所述膜電極組件氣密性檢測方法還包括如下步驟：

(7)對檢測工位進行氣體吹掃。

4.根據權利要求1所述的膜電極組件氣密性檢測方法，其特征在于，所述步驟(3)中帶動第二密封腔內的真空度的范圍為10Pa～60Pa。

5.一種膜電極組件氣密性檢測裝置，其特征在于，包括：

第一夾具，所述第一夾具的內部空心且一端開口；

第二夾具，所述第二夾具的內部空心且一端開口，所述第二夾具的開口端正對所述第一夾具的開口端；

膜電極組件，所述膜電極組件設置于所述第一夾具、第二夾具之間，且所述膜電極組件密封抵接于所述第一夾具、第二夾具的開口端，所述膜電極組件與所述第一夾具、第二夾具分別形成有第一密封腔、第二密封腔；

進氣組件，所述進氣組件的出氣端與所述第一密封腔相連通；

抽真空組件，所述抽真空組件與所述第二密封腔相連通，用于將所述第二密封腔抽成真空；

氦質譜檢測儀，所述氦質譜檢測儀的進氣端與所述第二密封腔相連通。

6.根據權利要求5所述的膜電極組件氣密性檢測裝置，其特征在于，所述進氣組件包括第一進氣管道、第一截止閥、第二進氣管道、第二截止閥，所述第一進氣管道的出氣端與所述第一密封腔相連通，所述第一截止閥設置于所述第一進氣管道，所述第二進氣管道的出氣端與所述第一密封腔相連通，所述第二截止閥設置于所述第二進氣管道。

7.根據權利要求5所述的膜電極組件氣密性檢測裝置，其特征在于，所述抽真空組件包括真空泵、第二連通管道、單向閥，所述第二連通管道的一端與所述第二密封腔相連通、另一端與所述真空泵的進氣端相連通，所述單向閥設置于所述第二連通管道。

8.根據權利要求5所述的膜電極組件氣密性檢測裝置，其特征在于，所述膜電極組件氣密性檢測裝置還包括紅外成像儀，所述紅外成像儀的鏡頭相對所述膜電極組件設置。