[發明專利]一種MOX芯塊均勻性檢的檢測方法在審
| 申請號： | 201911343031.6 | 申請日： | 2019-12-24 |
| 公開（公告）號： | CN113030126A | 公開（公告）日： | 2021-06-25 |
| 發明（設計）人： | 彭傳洋;袁毓文;屠振華;郭亮;李強 | 申請（專利權）人： | 中核四0四有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/00 | 分類號： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 核工業專利中心 11007 | 代理人： | 任超 |
| 地址： | 732850 *** | 國省代碼： | 甘肅;62 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 mox 均勻 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種MOX芯塊均勻性檢的檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：
步驟一：選取1個標準MOX芯塊和2個實驗制備的MOX芯塊；
步驟二：將3個MOX芯塊放置于封裝后成像板上；
步驟三：對3個MOX芯塊進行編號，并記錄不同序號MOX芯塊的擺放位置；
步驟四：對3個MOX芯塊輻照；
步驟五：輻照結束后將3個MOX芯塊放入指定位置，并取出成像板；
步驟六：將成像板放入閱讀器中，讀取圖像信息；
步驟七：扣除圖像本底，調節對比度、亮度和色彩飽和度，獲得清晰的圖像；統計不同區域的像素亮度值，將步驟一中的標準MOX芯塊的像素亮度值作為標準值；
步驟八：將實驗制備的MOX芯塊的像素亮度值與標準值進行對比，若兩者的差距小于15％，則判定實驗制備的MOX芯塊組份均勻。
2.根據權利要求1所述的一種MOX芯塊均勻性檢的檢測方法，其特征在于：所述步驟四中，對3個MOX芯塊輻照10分鐘。
3.根據權利要求1所述的一種MOX芯塊均勻性檢的檢測方法，其特征在于：所述步驟五中，若成像板沾污需進行去污處理。
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