[發明專利]一種一維電控波束掃描圓極化天線及其控制方法有效
| 申請號: | 201911335344.7 | 申請日: | 2019-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN111106451B | 公開(公告)日: | 2020-12-15 |
| 發明(設計)人: | 李錚;王山哲;王均宏 | 申請(專利權)人: | 北京交通大學 |
| 主分類號: | H01Q21/06 | 分類號: | H01Q21/06;H01Q21/00;H01Q3/24 |
| 代理公司: | 北京市誠輝律師事務所 11430 | 代理人: | 范盈 |
| 地址: | 100044 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 一維電控 波束 掃描 極化 天線 及其 控制 方法 | ||
1.一種一維電控波束掃描圓極化天線,其特征在于:
包括圓極化輻射單元陣列(1)、第一介質基片(2)、半固化片(3)以及行波饋電結構(4);
所述半固化片(3)設置在行波饋電結構(4)上,所述第一介質基片(2)設置在半固化片(3)上,圓極化輻射單元陣列(1)設置在第一介質基片(2)上;
其中圓極化輻射單元陣列(1)包含兩排圓極化單元(11),行波饋電結構(4)包括行波波導結構(41),所述行波波導結構(41)上開設有縫隙陣列(42),所述行波波導結構(41)的縫隙陣列(42)上還設有二極管陣列(43)。
2.根據權利要求1所述的一種一維電控波束掃描圓極化天線,其特征在于:
所述縫隙陣列(42)位于行波波導結構(41)的上表面,縫隙陣列(42)包括多個縫隙(421),縫隙(421)的數量與圓極化輻射單元(11)的數量相同,每個縫隙(421)位于其對應的圓極化輻射單元(11)的正下方。
3.根據權利要求2所述的一種一維電控波束掃描圓極化天線,其特征在于:
每一個所述縫隙(421)上跨接有一對PIN二極管,構成二極管陣列(43),一對PIN二極管分別為第一PIN二極管D1和第二PIN二極管D2。
4.根據權利要求1-3任一所述的一種一維電控波束掃描圓極化天線,其特征在于:
所述圓極化單元(11)采用切角貼片形式設置。
5.根據權利要求4所述的一種一維電控波束掃描圓極化天線,其特征在于:
所述兩排圓極化單元(11)交錯排列或者正對排列。
6.根據權利要求5所述的一種一維電控波束掃描圓極化天線,其特征在于:
所述第一介質基片(2)采用Rogers 5880,厚度為0.787mm。
7.根據權利要求6所述的一種一維電控波束掃描圓極化天線,其特征在于:
所述行波波導結構(41)為矩形波導、圓波導、基片集成波導、間隙波導、微帶線或帶狀線波導結構。
8.根據權利要求7所述的一種一維電控波束掃描圓極化天線,其特征在于:
所述半固化片(3)為Rogers 4450F,厚度為0.101mm。
9.根據權利要求8所述的一種一維電控波束掃描圓極化天線,其特征在于:
當所述行波波導結構(41)采用間隙波導,包括金屬底座(51)、金屬銷釘陣列(52)、梳狀金屬脊(53)和蓋板(54),梳狀金屬脊(53)位于金屬底座(51)中心,其中金屬銷釘陣列(52)位于梳狀金屬脊(53)的兩側,金屬銷釘陣列(52)包括多個金屬銷釘;蓋板(54)包括金屬層(541)和第二介質基片(542),金屬層(541)位于第二介質基片(542)之上,縫隙陣列(42)設置在金屬層(541)上。
10.一種一維電控波束掃描圓極化天線的控制方法,其特征在于,包括以下步驟:
1)每個圓極化輻射單元(11)的工作狀態僅包含“0”和“1”兩種數字狀態,且數字狀態獨立可調,通過獨立地控制每個圓極化輻射單元(11)的“0”、“1”數字狀態,形成天線的數字編碼方案;
2)通過對天線的數字編碼方案進行調控,進而控制天線輻射方向圖中的波束指向,在同一特定頻率下實現需要的輻射方向圖。
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