[發明專利]行導體具有經控制阻抗的矩陣檢測器

在審

• 申請號: 201911334992.0
• 申請日: 2019-12-23
• 公開（公告）號: CN111355908A
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: S·馬勒科;D·布朗雄;M·西奧
• 申請（專利權）人: 特里賽爾公司
• 主分類號: H04N5/3745
• 分類號: H04N5/3745;H04N5/378;H04N5/32
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 馬文斐

1.一種矩陣檢測器，所述矩陣檢測器包括：

·像素(P)的集合(10)，所述像素對物理現象敏感，并且所述像素按照行和列組織成矩陣，每個像素(P)生成隨物理現象而變化的信號，

·行導體(L)，所述行導體中的每個都能夠操控一行中的像素(P)，

·操控模塊(16)，所述操控模塊向所述行導體(L)發送選擇信號(VG)，并且所述操控模塊(16)配置用于按照兩個等級發送所述信號，所述兩個等級中的高等級(VGon)允許對其中一個像素行的選擇，低等級(VGoff)不允許對所述其中一個像素行的選擇，

其特征在于，所述矩陣檢測器還包括阻抗模塊(22)，所述阻抗模塊與所述行導體(L)中的每個連接，并且所述阻抗模塊配置用于在讀取所述像素(P)的集合(10)的讀取階段期間當對應的選擇信號(VG)處于低等級(VGoff)時降低每個行導體(L)的阻抗并使每個行導體(L)維持低阻抗，并且所述阻抗模塊(22)與所述操控模塊(16)分離。

2.根據權利要求1所述的矩陣檢測器，其特征在于，每個行導體(L)包括兩個端部，并且，所述操控模塊(16)與所述行導體(L)連接且與所述端部中的第一端部連接，并且，所述阻抗模塊(22)與所述行導體(L)中的每個連接且與所述端部中的第二端部連接。

3.根據上述權利要求中任一項所述的矩陣檢測器，其特征在于，所述像素(P)的集合(10)、所述操控模塊(16)和所述阻抗模塊(22)實施在同一基板(14)上。

4.根據上述權利要求中任一項所述的矩陣檢測器，其特征在于，所述阻抗模塊(22)中的每個都包括晶體管(T1)，當所述行(L)沒有被選擇時，所述晶體管能夠使對應的行與電壓源(Voff)連接，所述電壓源與所述選擇信號的低等級(VGoff)對應，由此降低了穿過所述晶體管(T1)的行L的阻抗。

5.根據上述權利要求中任一項所述的矩陣檢測器，其特征在于，所述像素(P)的集合(10)、所述操控模塊(16)和所述阻抗模塊(22)包括薄膜晶體管。

6.根據權利要求5所述的檢測器，其特征在于，所述檢測器對于每個行導體(L)包括兩個阻抗模塊(22a，22b)，所述兩個阻抗模塊(22a，22b)能夠交替地使用。