[發明專利]一種輻照裝置劑量坐標體系建立方法

在審

• 申請號: 201911333515.2
• 申請日: 2019-12-23
• 公開（公告）號: CN111060537A
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發明（設計）人: 曹美云;呂楊;杜肖柏
• 申請（專利權）人: 天津金鵬源輻照技術有限公司
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G01N22/00;G01N21/00;G01N1/44
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司 12209
• 代理人: 劉丹舟

本發明涉及一種輻照裝置劑量坐標體系建立方法，具體方法步驟包括：⑴托箱坐標及層次劃分；⑵確定劑量計放置位置；⑶產品裝載；⑷利用蒙特卡洛統計模型進行數據處理分析。本發明方案是天津金鵬源多年研究，基于BFT?Ⅱ型鈷?60輻照裝置劑量場測定試驗方案，創新研發的試驗方法和裝置，以此來確定輻照裝置的加工能力、劑量不均勻度是否滿足設計要求，進而確定主控時間設置和日常輻照加工工藝及加工中劑量計監測位置的選擇。設計科學合理、結構簡單、可操作性強，通過具體的機械結構具化輻照劑量坐標體系，方便試驗操作，滿足重復試驗的需求，且適用于多規格托箱、劑量計的使用，確保實驗數據的精準度，為后續的建模數據分析提供有效精準的數據支持。

技術領域

本發明屬于輻照加工領域，涉及輻照劑量標定，尤其是一種輻照裝置劑量坐標體系建立 方法。

背景技術

輻照是借助電離輻射的高能量、強穿透性等特性來消毒滅菌、抑制或促進生長、改變物 質性狀的一種技術，輻照技術提供的非接觸式、冷加工環境，為很多易污染、熱敏產品提供 了新的凈化途徑，同時也為新材料、新能源的研發提供了新的選擇。

食品、藥品、農產品等的輻照滅菌過程，需要完善的質量控制體系，輻照加工的質量控 制，除微生物檢測及感官性狀考察外，在電離輻射方面主要通過劑量測量來實現。

目前劑量測定的方法都是跟蹤法。通常采用化學或物理劑量計跟蹤產品輻照，即將劑量 計貼附在產品箱上或置于產品內，待產品輻照作業完成后取出劑量計進行測定，推算出產品 吸收劑量值。

現有技術中的測定方法存在一定的缺點：

一是輻照前布放劑量計以跟蹤產品整個輻照過程，不能事后補救；

二是一只劑量計只能代表一個位點，如果有些位點不好布放劑量計或放置的位點不準確 或劑量計打碎或丟失，則得不到需要的結果；

其三，大型輻照站每天輻照10000箱以上產品，劑量計布放工作量大，耗時耗力，為了 滿足客戶的質量要求，即使選擇常規劑量監測點來監控產品輻照工藝是否嚴格執行，每天都 要支出一筆可觀的劑量檢測費。

故建立輻照裝置計量坐標體系，確定托箱的劑量分布、以及最小與最大吸收劑量區以此 來確定輻照裝置的加工能力、劑量不均勻度，進而確定主控時間設置和日常輻照加工工藝及 加工中劑量計監測位置的選擇都具有重要的研究意義。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的不足之處，提供一種設計科學合理，體系建立標準化 且利用具象的試驗裝置實現的一種對輻照加工計量劑選擇具有重要指導意義的輻照裝置劑量 坐標體系建立方法。

本發明解決其技術問題是采取以下技術方案實現的：

一種輻照裝置劑量坐標體系建立方法，具體方法步驟如下：

⑴托箱坐標及層次劃分：以托箱最先進入輻照室的高度方向的邊線的最低位置為坐標原 點(0，0，00)，以托箱寬度方向為X軸，長度方向為Y軸，高度方向為Z軸，在試驗托箱中放置測試坐標內套，將裝置的X軸、Y軸及Z軸與托箱寬度方向為X軸，長度方向為Y軸， 高度方向為Z軸相對應；

⑵確定劑量計放置位置：根據試驗設定分別設定X、Y、Z軸的坐標點，確定并在基于輻 照劑量坐標體系建立的裝置內固定好試驗用劑量計的位置；

⑶產品裝載：將模擬產品均勻充分裝滿托箱，將試驗托箱推入輻照裝置，進行劑量分布 標定；

⑷利用蒙特卡洛統計模型進行數據處理分析。

而且，所述步驟⑶中模擬產品的密度為0.1g/cm³、0.2g/cm³、0.3g/cm³。