[發明專利]一種集成電路測試分選機的分粒機構

有效

• 申請號: 201911331627.4
• 申請日: 2019-12-21
• 公開（公告）號: CN110961379B
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發明（設計）人: 王桂花
• 申請（專利權）人: 銅陵藍盾豐山微電子有限公司
• 主分類號: B07C5/36
• 分類號: B07C5/36
• 代理公司: 北京高航知識產權代理有限公司 11530
• 代理人: 劉艷玲

1.一種集成電路測試分選機的分粒機構，包括電路流道(1)，其特征在于：電路流道(1)的上端固定連接有固定框(2)，所述固定框(2)呈倒“U”型設置，所述固定框(2)的下端中心處固定連接有固定塊(3)，所述固定塊(3)的下端鉸接有伸縮裝置(4)，所述伸縮裝置(4)的兩端對稱鉸接有分選裝置(5)，所述固定框(2)的下端安裝有動力裝置(6)；

所述分選裝置(5)包括滑筒(51)、滑桿(52)和分選塊(53)，兩個所述滑筒(51)對稱鉸接在伸縮裝置(4)的兩端，所述滑筒(51)的開口向上設置，所述滑桿(52)滑動連接在滑筒(51)內，所述滑桿(52)遠離滑筒(51)內筒底的一端穿過滑筒(51)的筒口并向上延伸，且固定連接在固定框(2)內的對應位置上，兩個所述分選塊(53)分別固定連接在滑筒(51)外的下端，所述分選塊(53)位于電路流道(1)的正上方。

2.根據權利要求1所述的一種集成電路測試分選機的分粒機構，其特征在于：所述伸縮裝置(4)包括擋板(41)、移動槽(42)和移動桿(43)，所述擋板(41)的上端中心處鉸接在固定塊(3)的下端上，兩個所述移動槽(42)對稱開設在擋板(41)的兩端，兩個所述移動桿(43)分別滑動連接在兩個移動槽(42)內，所述移動桿(43)遠離移動槽(42)槽底的一端穿過移動槽(42)的槽口并向外延伸，且鉸接在對應滑筒(51)的外側壁上。

3.根據權利要求1所述的一種集成電路測試分選機的分粒機構，其特征在于：所述滑筒(51)內對稱開設有限位槽(7)，所述限位槽(7)內滑動連接有限位塊(8)，所述限位塊(8)遠離限位槽(7)槽底的一端穿過限位槽(7)的槽口并向外延伸，且固定連接在滑桿(52)的對應桿壁上。

4.根據權利要求3所述的一種集成電路測試分選機的分粒機構，其特征在于：所述限位塊(8)靠近限位槽(7)槽底的一端開設有滾珠槽(9)，所述滾珠槽(9)內滾動連接有滾珠(10)，所述滾珠(10)遠離滾珠槽(9)槽底的一端穿過滾珠槽(9)的槽口向外延伸，且與限位槽(7)的槽底滾動連接。

5.根據權利要求4所述的一種集成電路測試分選機的分粒機構，其特征在于：所述滾珠(10)的直徑大于滾珠槽(9)槽口的口徑。

6.根據權利要求1所述的一種集成電路測試分選機的分粒機構，其特征在于：所述動力裝置(6)包括氣缸(61)和導軌(62)，所述氣缸(61)安裝在固定框(2)內的底部，所述導軌(62)固定連接在擋板(41)上端的一側，所述氣缸(61)的輸出端鉸接在導軌(62)的輸出端上。

7.根據權利要求1所述的一種集成電路測試分選機的分粒機構，其特征在于：所述固定框(2)的外表面上涂有防腐涂層。