[發明專利]屏幕漏光檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201911331059.8
• 申請日: 2019-12-20
• 公開（公告）號: CN113008524B
• 公開（公告）日: 2023-05-02
• 發明（設計）人: 田野;李小明;黃春來;孫旺;張海濤
• 申請（專利權）人: 合肥欣奕華智能機器股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種屏幕漏光檢測方法，其特征在于，包括：

獲取待檢測屏幕的灰度顯示圖像；

根據所述灰度顯示圖像提取所述待檢測屏幕的顯示區輪廓；

獲取所述灰度顯示圖像中位于所述顯示區輪廓外部的目標區域，所述目標區域內各像素的灰度值大于或等于第一閾值；以及，

從所述灰度顯示圖像中剔除所述目標區域，得到檢測圖像；

根據所述檢測圖像確定所述待檢測屏幕的漏光區域，其中，

根據所述檢測圖像確定所述待檢測屏幕的漏光區域，包括：

對所述檢測圖像進行對比度拉伸，獲得拉伸后的檢測圖像；

設定檢測邊界縮進參數，從所述拉伸后的檢測圖像中獲取所述待檢測屏幕的從顯示區輪廓向內延伸的延伸區域圖像；

對所述延伸區域圖像進行中值濾波，得到中值濾波圖像；

差分所述中值濾波圖像和所述延伸區域圖像，得到差分后圖像；以及，

對所述差分后圖像進行灰度閾值分割，確定所述漏光區域。

2.根據權利要求1所述的屏幕漏光檢測方法，其特征在于，還包括：

確定掩模信息，所述掩模信息包括遮擋區的位置信息和特征信息；

根據所述掩模信息控制所述待檢測屏幕的漏光區域的輸出。

3.根據權利要求2所述的屏幕漏光檢測方法，其特征在于，所述位置信息包括像素坐標，所述特征信息包括像素灰度；

根據所述掩模信息控制所述待檢測屏幕的漏光區域的輸出，包括：

根據公式控制所述待檢測屏幕的漏光區域的輸出；其中，f(x,y)為控制所述待檢測屏幕的漏光區域是否輸出的控制信號，(x,y)為目標像素的像素坐標，pos(x,y)為所述漏光區域的像素坐標，Mpos(x,y)為所述遮擋區的像素坐標的集合，fe(x,y)為所述漏光區域的像素灰度，Mfe(x,y)為所述遮擋區的像素灰度的集合。

4.根據權利要求1所述的屏幕漏光檢測方法，其特征在于，獲取所述灰度顯示圖像中位于所述顯示區輪廓外部的目標區域，包括：

根據所述待檢測屏幕的顯示區輪廓，從所述灰度顯示圖像中提取所述顯示區輪廓的外部圖像；

對所述顯示區輪廓的外部圖像進行灰度閾值分割，獲取所述目標區域。

5.根據權利要求1所述的屏幕漏光檢測方法，其特征在于，在根據所述灰度顯示圖像提取所述待檢測屏幕的顯示區輪廓之前，還包括對所述灰度顯示圖像進行預處理，所述預處理包括：傅里葉變換以及高斯濾波。

6.根據權利要求5所述的屏幕漏光檢測方法，其特征在于，根據所述灰度顯示圖像提取所述待檢測屏幕的顯示區輪廓，包括：

對預處理后的所述灰度顯示圖像進行對比度拉伸；

根據對比度拉伸后的灰度顯示圖像提取所述待檢測屏幕的顯示區輪廓。

7.根據權利要求1～6任一項所述的屏幕漏光檢測方法，其特征在于，根據所述灰度顯示圖像提取所述待檢測屏幕的顯示區輪廓，還包括：

對所述灰度顯示圖像進行灰度閾值分割，獲取至少一個連通域圖；

從所述至少一個連通域圖中提取面積最大的連通域圖作為所述待檢測屏幕的顯示區輪廓。