[發明專利]一種束流偏移量確定方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201911330802.8
• 申請日: 2019-12-20
• 公開（公告）號: CN111077562B
• 公開（公告）日: 2022-12-16
• 發明（設計）人: 葉紹強
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種束流偏移量確定方法，其特征在于，包括：

獲取非均整模式下進行掃描時的掃描射野對應的第一射野中心；

根據掃描時的掃描高度和所述第一射野中心在機架坐標系下的第一位置坐標，確定掃描所發射束流的角度偏移量，包括：根據平偏移量對第一射野中心在機架坐標系下的第一位置坐標進行校正，并根據校正后的第一位置坐標和所述掃描高度，確定掃描所發射束流的角度偏移量；

其中，在根據平偏移量對第一射野中心在機架坐標系下的第一位置坐標進行校正之前，所述方法還包括：在不同射野下，獲取非均整模式下進行掃描時的掃描射野對應的第二射野中心；根據所述第二射野中心在機架坐標系下的第二位置坐標，以及準直裝置的安裝位置，確定掃描所發射束流的平移偏移量；

通過下述公式計算確定掃描所發射束流的角度偏移量：

其中，ori表示機架坐標系下的inline方向或crossline方向，表示第一射野中心在機架坐標系下的第一位置坐標，S_ori表示平移偏移量，表示校正后的第一位置坐標，SDD₁表示掃描高度。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述第二射野中心在機架坐標系下的第二位置坐標，以及準直裝置的安裝位置，確定掃描所發射束流的平移偏移量，包括：

根據某一治療頭角度下的第二射野中心在機架坐標系下的第二位置坐標和準直裝置的安裝位置，確定掃描所發射束流的平移偏移量；

通過下述公式計算確定掃描所發射束流的平移偏移量：

其中，ori表示inline方向或crossline方向，S_ori表示inline方向或crossline方向上的平偏移量，C_ori表示機架坐標系下第二射野中心在inline方向或crossline方向上的第二位置坐標，SDD為射線源到移動探測器的距離，H為射線源到限束系統的準直裝置的中心的距離。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據不同治療頭角度下的第二射野中心在機架坐標系下的各第二位置坐標和至少兩個準直裝置的安裝位置，確定掃描所發射束流的平移偏移量，包括：

根據參考治療頭角度下的第二射野中心在機架坐標系下的第二參考位置坐標對當前治療頭角度下的第二射野中心在機架坐標系下的第二位置坐標進行校正；

根據校正后的第二位置坐標和至少兩個準直裝置的安裝位置，確定掃描所發射束流的平移偏移量；

其中，通過下述公式計算確定掃描所發射束流的平移偏移量：

其中，表示當前治療頭角度下的第二射野中心在機架坐標系下的第二位置坐標，表示參考治療頭角度下的第二射野中心在機架坐標系下的第二參考位置坐標，表示第二參考位置坐標對第二位置坐標進行校正，SDD為射線源到移動探測器的距離，H_Y為當前治療頭角度下射線源到限束系統的準直裝置的中心的距離，H_X為參考治療頭角度下射線源到限束系統的準直裝置的中心的距離。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在根據所述第二射野中心在機架坐標系下的第二位置坐標，以及準直裝置的安裝位置，確定掃描所發射束流的平移偏移量之前，所述方法還包括：

分別獲取均整模式下進行掃描時，不同治療頭角度下各準直裝置的位置坐標；其中，治療頭角度的相位差為180度；

針對每個準直裝置，將所述準直裝置的位置坐標從測量坐標系轉換至機架坐標系；

根據機架坐標系下各準直裝置的位置坐標，對所述第二射野中心在機架坐標系下的第二位置坐標進行校正；

相應的，根據所述第二射野中心在機架坐標系下的第二位置坐標，以及準直裝置的安裝位置，確定掃描所發射束流的平移偏移量，包括：

根據校正后的所述第二位置坐標，以及準直裝置的安裝位置，確定掃描所發射束流的平移偏移量；

通過下述方式計算確定掃描所發射束流的平移偏移量：

其中，ΔX表示第一準直裝置對應的數據偏移量，表示校正后的第二位置坐標，ΔY表示第二準直裝置對應的數據偏移量，表示校正后的第二位置坐標。