[發(fā)明專利]一種CT探測(cè)器及CT檢測(cè)系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911330156.5
• 申請(qǐng)日: 2019-12-20
• 公開（公告）號(hào): CN110865089B
• 公開（公告）日: 2020-12-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐圓飛;李保磊;劉念;司昌楠
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京航星機(jī)器制造有限公司
• 主分類號(hào): G01N23/046
• 分類號(hào): G01N23/046;G01T1/161;G01T1/166;G01T1/20;G01T1/29;A61B6/03
• 代理公司: 北京天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11386
• 代理人: 程虹

本發(fā)明公開了一種CT探測(cè)器及CT檢測(cè)裝置，屬于CT檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，解決了現(xiàn)有技術(shù)中CT探測(cè)裝置成本高、不利于設(shè)備的推廣應(yīng)用，降低成本不能保證成像精度等問(wèn)題。本發(fā)明CT探測(cè)器，包括多排探測(cè)器模塊，每排探測(cè)器模塊包括多個(gè)探測(cè)器單元，探測(cè)器單元中心設(shè)置有閃爍體；相鄰排的探測(cè)器模塊之間的排間距大于等于相鄰排閃爍體在排方向上的長(zhǎng)度和的二分之一；靠近CT探測(cè)器中心的探測(cè)器模塊的排間距小于等于遠(yuǎn)離CT探測(cè)器中心的探測(cè)器模塊的排間距。本發(fā)明CT探測(cè)器降低成本的同時(shí)成像精度較高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于CT檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種CT探測(cè)器及CT檢測(cè)系統(tǒng)。

背景技術(shù)

X射線CT安檢技術(shù)是通過(guò)對(duì)CT數(shù)據(jù)進(jìn)行重建得到被掃描物體的斷層圖像，通過(guò)對(duì)斷層圖像中的特征數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)對(duì)被掃描物體中危險(xiǎn)物品的識(shí)別。

現(xiàn)有的醫(yī)療CT設(shè)備中，為了獲取高質(zhì)量的圖像，設(shè)備中設(shè)置多排探測(cè)器且多排探測(cè)器均為緊密排布的探測(cè)器，現(xiàn)有的矩陣探測(cè)器，自適應(yīng)矩陣探測(cè)器，混合矩陣探測(cè)器，其在排方向上均為緊密排布的“面陣列”探測(cè)器。該類探測(cè)器由于緊密排布，所以成本高，不利于設(shè)備的推廣應(yīng)用。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上分析，本發(fā)明旨在提供一種CT探測(cè)器及CT檢測(cè)系統(tǒng)，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中CT探測(cè)器成本高、成像精度差等問(wèn)題。

本發(fā)明的目的主要是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：

一種CT探測(cè)器，包括多排探測(cè)器模塊，每排探測(cè)器模塊包括多個(gè)探測(cè)器單元，探測(cè)器單元中心設(shè)置有閃爍體和二極管；

相鄰排的探測(cè)器模塊之間的排間距大于等于相鄰排閃爍體在排方向上的長(zhǎng)度和的二分之一；靠近CT探測(cè)器中心的探測(cè)器模塊的排間距小于等于遠(yuǎn)離CT探測(cè)器中心的探測(cè)器模塊的排間距。

進(jìn)一步的，相鄰排的探測(cè)器單元之間的間距在0.1cm-5cm。

進(jìn)一步的，相鄰排的閃爍體在排方向上的寬度為0.1cm-2cm。

進(jìn)一步的，每排探測(cè)器模塊的多個(gè)探測(cè)器單元連續(xù)分布。

進(jìn)一步的，多排探測(cè)器模塊關(guān)于多排探測(cè)器模塊的中心線對(duì)稱設(shè)置。多排探測(cè)器模塊關(guān)于排方向的中心線對(duì)稱分布，多排探測(cè)器模塊關(guān)于排內(nèi)方向的中心線也對(duì)稱分布。

進(jìn)一步的，探測(cè)器模塊設(shè)置有10～20排。

進(jìn)一步的，探測(cè)器模塊設(shè)置有16排。

進(jìn)一步的，中心排探測(cè)器模塊的排間距為0.1～0.9cm。

一種CT檢測(cè)系統(tǒng)，包括CT探測(cè)裝置、傳送帶50、數(shù)據(jù)處理計(jì)算機(jī)90、傳送帶電機(jī)60、滑環(huán)電機(jī)80和運(yùn)動(dòng)控制計(jì)算機(jī)70。

CT探測(cè)裝置包括射線源10、旋轉(zhuǎn)盤20和CT探測(cè)器30。

進(jìn)一步的，射線源10和CT探測(cè)器30設(shè)置于旋轉(zhuǎn)盤20上，CT探測(cè)器30與數(shù)據(jù)處理計(jì)算機(jī)90連接，傳送帶電機(jī)60和滑環(huán)電機(jī)80均與運(yùn)動(dòng)控制計(jì)算機(jī)70連接；

運(yùn)動(dòng)控制計(jì)算機(jī)70控制傳送帶電機(jī)60帶動(dòng)傳送帶勻速運(yùn)動(dòng)，運(yùn)動(dòng)控制計(jì)算機(jī)70控制滑環(huán)電機(jī)80勻速轉(zhuǎn)動(dòng)。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明至少能實(shí)現(xiàn)以下技術(shù)效果之一：

1)本發(fā)明中，探測(cè)器模塊排與排之間是稀疏排布的，即排與排之間的間距大于等于相鄰排閃爍體在排方向上的長(zhǎng)度和的二分之一，且排間距不完全一致，越靠近探測(cè)器中心排，排間距越小，反之越大。這樣保證了低螺距下的高精度成像，也可以在保證基本成像精度的條件下，降低高螺距成像條件下探測(cè)器的成本。