[發明專利]一種低能稀疏的CT探測器、CT檢測系統及檢測方法有效
| 申請號: | 201911330106.7 | 申請日: | 2019-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN111157556B | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發明(設計)人: | 徐圓飛;李保磊;孫翠麗;丁潔;溫子寬 | 申請(專利權)人: | 北京航星機器制造有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/046 | 分類號: | G01N23/046;G01T1/20;G01T1/29 |
| 代理公司: | 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386 | 代理人: | 程虹 |
| 地址: | 100013 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 低能 稀疏 ct 探測器 檢測 系統 方法 | ||
本發明公開了一種低能稀疏的CT探測器、CT檢測系統及檢測方法,屬于CT檢測技術領域,解決了現有技術中CT探測裝置成本高、不利于設備的推廣應用,降低成本不能保證成像精度等問題。本發明CT探測器,包括高能探測器和低能探測器,高能探測器和低能探測器采用背靠背式排列,每個低能探測器下方均設置有一個高能探測器;高能探測器和低能探測器均設置有多排,高能探測器排數大于低能探測器排數,至少部分低能探測器集中分布。本發明CT探測器部分低能探測器集中排布,降低成本的同時成像精度較高。
技術領域
本發明屬于CT檢測技術領域,特別涉及一種低能稀疏的CT探測器、CT檢測系統及檢測方法。
背景技術
在基于X射線的爆炸物檢查技術中,X射線計算機斷層掃描成像技術(簡稱“CT技術”)因其自身特有的優勢,在安全檢查領域被高度重視。在美國交通安全局(TSA,Transportation Security Administration)唯一認證的EDS(Explosive DetectionSystem)型安檢設備就是CT設備,可見X射線CT技術在安全檢查領域的地位。
X射線CT安檢技術是通過對CT數據進行重建得到被掃描物體的斷層圖像,通過對斷層圖像中的特征數據進行分析,實現對被掃描物體中危險物品的識別。為了提高CT識別的精度,通常采用雙能CT成像方式,雙能成像的實現方式可以有射線源高低能快速切換,雙源成像,雙層探測器等多種模式,其中,針對安檢應用,雙層探測器模式應用最為普遍,按照高低能的排布模式,主要分為“背靠背”和“騎馬式”兩種。
上述兩種模式,需要一個低能探測器像素對應一個高能探測器像素,成本較高,不利于設備的推廣應用。本著降低探測器成本的目的,本發明設計了一種CT探測裝置以及具有該裝置的CT系統。
發明內容
鑒于以上分析,本發明旨在提供一種低能稀疏的CT探測器、CT檢測系統及檢測方法,用以解決現有技術中CT探測裝置成本高、不利于設備的推廣應用,降低成本不能保證成像精度等問題。
本發明的目的主要是通過以下技術方案實現的:
一種低能稀疏的CT探測器,包括高能探測器和低能探測器,高能探測器和低能探測器采用背靠背式排列,每個低能探測器下方均設置有一個高能探測器;
高能探測器和低能探測器均設置有多排,高能探測器排數大于低能探測器排數,至少部分低能探測器集中分布;
高能探測器和低能探測器之間設置有銅片,銅片用于過濾經過了低能探測器以后的射線。
進一步的,集中分布的多排低能探測器設置在多排高能探測器的中間位置。
進一步的,少數低能探測器設置在多排高能探測器的兩側。示例性的,少數低能探測器為2-6排。
進一步的,集中分布的多排低能探測器設置在多排高能探測器的一側。
進一步的,少數低能探測器設置在多排高能探測器的另一側。
進一步的,銅片的厚度為0.3-1mm。
進一步的,高能探測器和低能探測器均包括閃爍體和二極管。
一種CT檢測系統,包括CT探測裝置、傳送帶、數據處理計算機、傳送帶電機、滑環電機和運動控制計算機;
CT探測裝置包括射線源、旋轉盤和CT探測器。
進一步的,射線源和CT探測器設置于旋轉盤上,CT探測器與數據處理計算機連接,傳送帶電機和滑環電機均與運動控制計算機連接;
運動控制計算機控制傳送帶電機帶動傳送帶勻速運動,運動控制計算機控制滑環電機勻速轉動。
一種CT檢測方法,包括以下步驟:
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