[發(fā)明專利]基于圖像的維修預(yù)測(cè)和操作誤差檢測(cè)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911324378.6
• 申請(qǐng)日: 2019-12-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111353971A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-06-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: M·阿姆托爾;D·哈澤;R·沃勒申斯基
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 卡爾蔡司顯微鏡有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00;G06Q10/00;G06N3/04
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 黃曉升

1.用于確定顯微鏡系統(tǒng)(402)的預(yù)測(cè)性維護(hù)需求的計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法(100)，所述方法(100)包括：

提供(102)顯微鏡系統(tǒng)(402)，所述顯微鏡系統(tǒng)包括用于記錄樣本的數(shù)字圖像的圖像傳感器(406)，

在所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的常規(guī)操作期間，使用所述圖像傳感器(406)記錄(104)數(shù)字圖像，

向圖像分析系統(tǒng)(404)提供(106)至少一個(gè)記錄的數(shù)字圖像作為至少一個(gè)輸入數(shù)據(jù)集，

由所述圖像分析系統(tǒng)(404)確定(108)所述至少一個(gè)記錄的數(shù)字圖像中的至少一個(gè)特征，其中所述特征與常規(guī)操作期間所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的故障相關(guān)，

基于所述至少一個(gè)數(shù)字圖像和其中包含的所述至少一個(gè)特征，通過(guò)所述圖像分析系統(tǒng)(404)產(chǎn)生(110)所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的狀態(tài)的狀態(tài)信號(hào)，以及

通過(guò)使用所述狀態(tài)信號(hào)確定(112)所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的需要維護(hù)程序的組件組。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(100)，其中所述圖像分析系統(tǒng)(402)是具有機(jī)器學(xué)習(xí)屬性的學(xué)習(xí)系統(tǒng)，并且其中所述方法(100)還包括：

通過(guò)機(jī)器學(xué)習(xí)使用一組數(shù)字圖像來(lái)訓(xùn)練(206)所述學(xué)習(xí)系統(tǒng)，以生成學(xué)習(xí)模型，用于在所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的常規(guī)操作期間識(shí)別樣本的其中一個(gè)記錄的數(shù)字圖像中的的至少一個(gè)特征。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法(100)，其中所述學(xué)習(xí)系統(tǒng)是用于監(jiān)督學(xué)習(xí)的系統(tǒng)，并且其中用于監(jiān)督學(xué)習(xí)的所述一組數(shù)字圖像的所述圖像用元數(shù)據(jù)注釋，以生成所述學(xué)習(xí)模型。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法(100)，其中所述元數(shù)據(jù)選自包括以下項(xiàng)的組中的至少一個(gè)：需要所述維護(hù)程序的時(shí)間間隔值、所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的組件的預(yù)期故障時(shí)間、所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的單個(gè)組件的數(shù)字狀態(tài)指示以及所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的缺陷組件的命名。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(100)，其中確定所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的組件組還包括：

確定需要所述維護(hù)程序的時(shí)間間隔值。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(100)，其中所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的至少一個(gè)進(jìn)一步捕獲的傳感器值用作所述學(xué)習(xí)系統(tǒng)的附加輸入數(shù)據(jù)，用于通過(guò)所述圖像分析系統(tǒng)(404)產(chǎn)生狀態(tài)信號(hào)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(100)，其中在常規(guī)操作期間，在所述至少一個(gè)記錄的數(shù)字圖像中包含的至少一個(gè)特征選自包括以下項(xiàng)的組中的至少一個(gè)：條紋、抖動(dòng)、不規(guī)則亮度、降低的分辨率、過(guò)量的圖像噪聲、低信號(hào)背景比、低激光輸出、降低的靈敏度和所述數(shù)字圖像中的缺陷。

8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法(100)，其中為單個(gè)顯微鏡系統(tǒng)(402)或?yàn)槎鄠€(gè)顯微鏡系統(tǒng)(402)生成所述學(xué)習(xí)模型。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(100)，其中在所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的常規(guī)操作期間，測(cè)量所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的操作元件的至少一個(gè)操作參數(shù)值，所述至少一個(gè)操作參數(shù)值附加地用于狀態(tài)信號(hào)的確定。

10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法(100)，其中用于識(shí)別所述至少一個(gè)特征的學(xué)習(xí)模型涉及至少一個(gè)類別，所述至少一個(gè)類別選自包括以下項(xiàng)的組：所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的服務(wù)階段的分類、所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的預(yù)期故障時(shí)間的回歸、所述數(shù)字圖像的至少一個(gè)特征或多個(gè)特征的組合與確定所述顯微鏡系統(tǒng)(402)的可分配組件或組件組的維護(hù)需求的相關(guān)。