[發明專利]圖像篡改檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 201911322233.2
• 申請日: 2019-12-20
• 公開（公告）號: CN111080628B
• 公開（公告）日: 2023-06-20
• 發明（設計）人: 楊超;李慧州;蔣斌;林芳婷;馮溯;汪國慶
• 申請（專利權）人: 湖南大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06V10/25;G06V10/42;G06V10/44;G06V10/764;G06V10/88;G06F17/15
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李姣姣

1.一種圖像篡改檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取待檢測圖像，對所述待檢測圖像進行特征提取，獲得疑似篡改特征圖；

獲取所述疑似篡改特征圖對應的通道權重系數和空間權重系數；

通過所述通道權重系數以及所述空間權重系數與所述疑似篡改特征圖進行逐個元素的乘法操作，對所述疑似篡改特征圖進行重構，得到重構特征圖；

通過預設的區域推薦網絡對所述重構特征圖進行處理，產生感興趣區域的坐標信息，以得到潛在篡改區域的坐標，根據潛在篡改區域的坐標對所述重構特征圖進行處理，得到潛在篡改區域的局部特征，并通過預設的全連接層對所述潛在篡改區域的局部特征進行處理，得到篡改區域粗略位置信息；

基于所述篡改區域粗略位置信息對所述待檢測圖像進行處理，得到所述待檢測圖像的篡改區域掩膜。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述篡改區域粗略位置信息對所述待檢測圖像進行處理，得到所述待檢測圖像的篡改區域掩膜包括：

獲取所述待檢測圖像的全局特征圖；

根據所述篡改區域粗略位置信息對所述全局特征圖進行裁剪處理，獲得對應位置的局部特征圖；

對所述局部特征圖進行解碼處理，得到所述待檢測圖像的篡改區域掩膜。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述獲取所述待檢測圖像的全局特征圖包括：

對所述待檢測圖像進行約束卷積處理，獲得疑似篡改噪聲圖像；

獲取所述疑似篡改噪聲圖像的邊緣特征圖；

對所述邊緣特征圖以及所述重構特征圖進行融合處理，得到所述待檢測圖像的全局特征圖。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對所述局部特征圖進行解碼處理，得到所述待檢測圖像的篡改區域掩膜包括：

通過預設的殘差網絡模塊對所述局部特征圖進行特征提取，獲得目標局部特征圖；

通過預設的解碼器對所述目標局部特征圖進行處理，獲得像素分類置信圖；

基于所述像素分類置信圖以及預設的分類閾值，得到所述待檢測圖像的篡改區域掩膜。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述待檢測圖像進行特征提取，獲得疑似篡改特征圖包括：

對所述待檢測圖像進行約束卷積處理，獲得疑似篡改噪聲圖像；

對所述疑似篡改噪聲圖像進行特征提取，獲得疑似篡改特征圖。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述疑似篡改特征圖進行重構，得到重構特征圖之后，還包括：

通過預設的區域推薦網絡對所述重構特征圖進行處理，得到潛在篡改區域；

對所述潛在篡改區域進行篡改技術識別，獲得篡改技術分類信息。

7.一種圖像篡改檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

特征提取模塊，用于獲取待檢測圖像，對所述待檢測圖像進行特征提取，獲得疑似篡改特征圖；

權重獲取模塊，用于獲取所述疑似篡改特征圖對應的通道權重系數和空間權重系數；

特征重構模塊，用于通過所述通道權重系數以及所述空間權重系數與所述疑似篡改特征圖進行逐個元素的乘法操作，對所述疑似篡改特征圖進行重構，得到重構特征圖；

粗略定位模塊，用于通過預設的區域推薦網絡對所述重構特征圖進行處理，產生感興趣區域的坐標信息，以得到潛在篡改區域的坐標，根據潛在篡改區域的坐標對所述重構特征圖進行處理，得到潛在篡改區域的局部特征，并通過預設的全連接層對所述潛在篡改區域的局部特征進行處理，得到篡改區域粗略位置信息；

精確分割模塊，用于基于所述篡改區域粗略位置信息對所述待檢測圖像進行處理，得到所述待檢測圖像的篡改區域掩膜。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述精確分割模塊還用于獲取待檢測圖像的全局特征圖；根據篡改區域粗略位置信息對全局特征圖進行裁剪處理，獲得對應位置的局部特征圖；對局部特征圖進行解碼處理，得到待檢測圖像的篡改區域掩膜。