[發明專利]一種數字示波器校驗裝置

在審

• 申請號: 201911320363.2
• 申請日: 2019-12-20
• 公開（公告）號: CN110736953A
• 公開（公告）日: 2020-01-31
• 發明（設計）人: 蔣宇辰;容嘉喜
• 申請（專利權）人: 深圳市鼎陽科技股份有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 44281 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司
• 代理人: 郭燕

1.一種數字示波器校驗裝置，其特征在于，包括探頭、開關矩陣和校驗裝置控制器；

所述開關矩陣與所述探頭連接，用于接收校驗設備發出的校驗信號并發送給所述探頭；

所述探頭用于連接在被測示波器的信號輸入端，將接收的所述校驗信號發送給被測示波器；和/或，還用于監測所述被測示波器信號輸入端的輸入信號，并將依據監測結果獲取的反饋數據發送給所述校驗裝置控制器；

所述校驗裝置控制器與所述開關矩陣連接，用于當校驗所述被測示波器時，控制所述開關矩陣連接所述探頭和所述校驗設備，以將所述校驗設備發出的所述校驗信號通過所述探頭發送給所述被測示波器；和/或，還用于依據獲取的所述反饋數據獲取校驗信號調節信息，以用于所述校驗裝置調節所述校驗信號。

2.如權利要求1所述的數字示波器校驗裝置，其特征在于，所述開關矩陣包括高頻開關矩陣和低頻開關矩陣；

所述校驗裝置控制器還用于當校驗設備發出高頻校驗信號時，控制開啟所述高頻開關矩陣，當校驗設備發出低頻校驗信號時，控制開啟所述低頻開關矩陣；

所述高頻開關矩陣當被開啟時，用于接收校驗設備發出的高頻校驗信號并發送給所述探頭；

所述低頻開關矩陣當被開啟時，用于接收校驗設備發出的低頻校驗信號并發送給所述探頭。

3.如權利要求2所述的數字示波器校驗裝置，其特征在于，所述探頭包括開關電路和探頭控制器；

所述開關電路包括低頻信號輸入端和探頭輸出端；所述低頻信號輸入端與所述低頻開關矩陣連接，用于接收低頻校驗信號；所述探頭控制器與所述開關電路連接，當探頭接收到低頻校驗信號時，控制所述開關電路將低頻信號輸入端與所述探頭輸出端連接，以將所述低頻信號輸入端接收的低頻校驗信號發送給所述被測試示波器。

4.如權利要求3所述的數字示波器校驗裝置，其特征在于，所述探頭還包括低通濾波器，通過所述開關電路連接在所述低頻信號輸入端和所述探頭輸出端之間，用于對低頻信號輸入端接收的低頻校驗信號進行低通濾波后發送給所述探頭輸出端，以改善低頻校驗信號的信噪比。

5.如權利要求3所述的數字示波器校驗裝置，其特征在于，所述開關電路還包括高頻信號輸入端，與所述高頻開關矩陣連接；所述探頭控制器還用于當探頭接收到高頻校驗信號時，控制所述開關電路將高頻信號輸入端與所述探頭輸出端連接，以將所述高頻信號輸入端接收的高頻校驗信號發送給所述被測試示波器。

6.如權利要求5所述的數字示波器校驗裝置，其特征在于，所述探頭還包括檢波器，分別與所述探頭控制器和所述探頭輸出端連接，用于監測所述被測示波器信號輸入端的輸入信號，并將監測結果發送給所述探頭控制器；所述探頭控制器依據所述監測結果獲取所述反饋數據，并將所述反饋數據發送給所述校驗裝置控制器。

7.如權利要求6所述的數字示波器校驗裝置，其特征在于，所述探頭還包括匹配器，分別與所述探頭控制器和所述探頭輸出端連接，用于當所述被測示波器無內部匹配器時，所述校驗裝置控制器通過所述探頭控制器將所述匹配器接入所述探頭輸出端，以對輸入所述被測示波器的高頻校驗信號提供阻抗匹配。

8.如權利要求7所述的數字示波器校驗裝置，其特征在于，所述探頭還包括存儲器，與所述探頭控制器連接，用于存儲所述探頭的編號信息和/或探頭的參數信息。

9.如權利要求3所述的數字示波器校驗裝置，其特征在于，所述數字示波器校驗裝置包括至少一個所述探頭，每個探頭分別與所述開關矩陣連接，用于分別與所述被測示波器的多個輸入端連接，或用于分別與多個所述被測示波器連接。

10.如權利要求3所述的數字示波器校驗裝置，其特征在于，還包括總控制器，用于分別與所述校驗裝置控制器、所述校驗設備和所述被測示波器連接；所述校驗裝置控制器將依據所述反饋數據獲取的所述校驗信號調節信息發送給所述總控制器，所述總控制器用于依據所述校驗信號調節信息獲取校驗信號的補償值并發送所述校驗設備，所述校驗裝置依據所述補償值調節輸出的所述校驗信號；和/或，所述總控制器用于獲取被測示波器的校驗項目，并依據所述被測示波器的校驗項目，通過所述開關矩陣和所述探頭將所述被測示波器和校驗所述校驗項目所需校驗設備連接。