[發明專利]一種紫外成像儀的校驗比對方法

有效

• 申請號: 201911319951.4
• 申請日: 2019-12-19
• 公開（公告）號: CN110988773B
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發明（設計）人: 劉宏;王偉;梁基重;俞華;胡帆;李國棟;牛曙
• 申請（專利權）人: 國網山西省電力公司電力科學研究院
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01R31/12
• 代理公司: 山西華炬律師事務所 14106
• 代理人: 陳奇

1.一種紫外成像儀的校驗比對方法，校驗比對工作是在試驗室進行的，該試驗室要求處于全密封狀態，且檢測環境的溫度和濕度是恒定的，要經過多次檢測試驗室的環境的溫度和濕度，當檢測到的數據保持不變的情況下，進行以下步驟：

第一步、用高壓電纜（2）將380伏電源系統（1）與變頻電源（3）相連接，將變頻電源（3）與無局部放電的勵磁變壓器（4）相連接，變頻電源（3）是將三相電源變為頻率可調節的單相電源的變頻電源，無局部放電的勵磁變壓器（4）是將低電壓輸入變為高電壓輸出的；

第二步、用加壓線（6）將無局部放電的勵磁變壓器（4）的輸出端與電抗器（5）的低壓端連接在一起，加壓線（6）是采用橫截面為4平方毫米的護套線，電抗器（5）的高壓端通過無暈導線（8）與耦合電容器（7）的高壓端，以及分壓器（11）的高壓端連接在一起，將耦合電容器（7）的末端與檢測阻抗器（12）的輸入端連接在一起，將無局部放電的勵磁變壓器（4）的高壓尾端、分壓器（11）的地端和檢測阻抗（12）的地端，用接地屏蔽線（9）與接地端（10）連接在一起，完成校驗比對試驗回路的搭建；電抗器（5）與耦合電容器（7）、分壓器（11）相連接所形成的諧振放大電路，將無暈導線（8）上的施加電壓放大為無局部放電的勵磁變壓器（4）輸出電壓的Q倍，Q為搭建的本校驗比對試驗回路的品質因數；

第三步、用同軸電纜（13）將檢測阻抗器（12）的信號輸出端與局部放電測試儀（14）的檢測輸入端連接在一起；

第四步、啟動校驗比對試驗回路，開始升壓，當分壓器（11）顯示的電壓值達到500千伏時，用被檢的紫外成像儀（16）對無暈導線（8）的放電情況進行現場觀測，并通過局部放電測試儀（14）測量無暈導線（8）的局部放電量，若，紫外成像儀（16）和局部放電測試儀（14）都未發現放電現象，則說明校驗比對試驗回路良好，然后進行下一步驟；

第五步、停止校驗比對試驗回路的試驗，對無暈導線（8）進行局部穿刺，穿刺出1厘米×1厘米的方形破口，制造出了微小破口毛刺點（15）；

第六步、再次啟動校驗比對試驗回路，逐步升高試驗電壓，當紫外成像儀（16）監測到無暈導線（8）出現了放電粒子后，開始記錄，分壓器（11）的試驗電壓值、紫外成像儀（16）監測的放電粒子數、局部放電測試儀（14）監測到的局部放電量，之后，分壓器（11）的試驗電壓值每升高10千伏，記錄一次紫外成像儀（16）監測的放電粒子數和局部放電測試儀（14）監測到的局部放電量，直到分壓器（11）的試驗電壓值達到500千伏為止；

第七步、將第六步記錄的每個試驗電壓值下的紫外成像儀（16）監測的放電粒子數與局部放電測試儀（14）顯示的放電量值分別進行線性擬合，并建立紫外放電粒子數隨試驗電壓的變化曲線和局部放電量隨試驗電壓的變化曲線，若，各試驗電壓下紫外成像儀（16）監測的放電粒子數環比增大幅度與相同試驗電壓下局部放電測試儀（14）監測到的放電量環比增大幅度相差均不大于30%時，則表明被測紫外成像儀（16）的線性度是合格的，否則，則表明被測的紫外成像儀（16）的線性度是不合格的；

第八步、再次啟動校驗比對試驗回路，逐步升高試驗電壓，用被測的紫外成像儀（16）觀測無暈導線（8）上的微小破口毛刺點（15），當分壓器（11）上的試驗電壓值達到6千伏時，若被測的紫外成像儀（16）觀測到放電現象，則紫外成像儀（16）的檢測電壓靈敏度是合格，若被測的紫外成像儀（16）觀測不到放電現象，則紫外成像儀（16）的檢測電壓靈敏度不合格。