[發明專利]一種手持極性測試裝置自適應超長工作時間方法

有效

• 申請號: 201911314500.1
• 申請日: 2019-12-19
• 公開（公告）號: CN110940947B
• 公開（公告）日: 2022-04-22
• 發明（設計）人: 尹相國;何楷;蔣超偉;吳占貴;郭鵬;張瑞;馬小蕓;張文;胡柏華;馬磊;李德;羅建平;孫祥波
• 申請（專利權）人: 國網寧夏電力有限公司檢修公司;武漢凱默電氣有限公司
• 主分類號: G01R35/02
• 分類號: G01R35/02
• 代理公司: 武漢宇晨專利事務所(普通合伙) 42001
• 代理人: 李鵬;王敏鋒

1.一種手持極性測試裝置自適應超長工作時間方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟1、電源單元給測量實現單元和人機交互單元供電，測量實現單元中的DSP處理器和FPGA處理器開始運行，FPGA處理器控制模擬信號轉換模塊、光串口和光網口關閉；

步驟2、人機交互單元的ARM處理器進入S1狀態模式，ARM處理器在S1狀態模式中，ARM處理器控制人機交互單元的顯示屏被點亮，動態調節ARM處理器核心電壓和運行頻率；

如果ARM處理器自進入S1狀態模式的時刻點起的第一超時閥值內，人機交互單元的電容觸摸屏或按鍵沒有輸入，則ARM處理器進入S2狀態模式，如果ARM處理器監測到電容觸摸屏或按鍵在第一超時閾值內有輸入，則ARM處理器根據電容觸摸屏或按鍵的輸入判斷是否進入極性測試步驟；

步驟3、ARM處理器在S2狀態模式中，ARM處理器關閉顯示屏和ARM處理器的內部圖像顯示單元，降低ARM處理器運行頻率和核心電壓；如果在ARM處理器自進入S2狀態模式的時刻點起第二超時閥值內有電容觸摸屏或按鍵輸入，則ARM處理器根據電容觸摸屏或按鍵的輸入判斷是否進入極性測試步驟并返回S1狀態模式，否則ARM處理器進入S3狀態模式；

步驟4、ARM處理器在S3狀態模式中，ARM處理器關閉顯示屏和ARM處理器的內部鎖相環PLL，ARM處理器僅依靠內部RC振蕩器提供的時鐘運行，ARM處理器如果檢測到電容觸摸屏或按鍵輸入則ARM處理器根據電容觸摸屏或按鍵的輸入判斷是否進入極性測試步驟并返回S1狀態模式，否則ARM處理器持續運行于S3狀態模式，

動態調節ARM處理器核心電壓和運行頻率包括以下步驟：

根據ARM處理器的運行負載，調整ARM處理器的運行頻率和核心電壓：ARM處理器的運行負載越大，ARM處理器的運行頻率和核心電壓越高；ARM處理器的運行負載越小，ARM處理器的運行頻率和核心電壓越低。

2.根據權利要求1所述的一種手持極性測試裝置自適應超長工作時間方法，其特征在于，ARM處理器根據電容觸摸屏或按鍵的輸入判斷是否進入極性測試步驟包括以下步驟：

若ARM處理器判斷電容觸摸屏或按鍵的輸入為測試模式和相應的測試參數，則進行極性測試步驟；否則不進行極性測試步驟。

3.根據權利要求2所述的一種手持極性測試裝置自適應超長工作時間方法，其特征在于，所述的極性測試步驟包括以下步驟：

ARM處理器將測試模式和相應的測試參數通過網口發送到測量實現單元的DSP處理器，DSP處理器將測試模式和相應的測試參數通過外部內存接口寫入FPGA內部存儲寄存器；

若測試模式為電磁式互感器測試，則FPGA處理器開啟模擬信號轉換模塊接收數字測量信號；

若測試模式為電子式互感器測試，則FPGA處理器開啟光串口接收FT3報文；

若測試模式為電磁式互感器+合并單元測試，則FPGA處理器開啟光網口接收SV報文；

若測試模式為電子式互感器+合并單元測試，則FPGA處理器開啟光網口接收SV報文；

FPGA處理器將接收到的數字測量信號或FT3報文或SV報文寫入FPGA內部存儲寄存器，并發送中斷到DSP處理器；

DSP處理器收到FPGA處理發送的中斷，從FPGA處理器的FPGA內部存儲寄存器中讀取數字測量信號或FT3報文或SV報文，通過數字測量信號或FT3報文或SV報文獲得互感器一次繞組和互感器二次繞組的模擬量采樣值，進行半周積分計算互感器一次繞組和互感器二次繞組的模擬量平均值，若互感器一次繞組和互感器二次繞組的模擬量平均值同時為正或者同時為負，則互感器一次繞組和互感器二次繞組為同極性，否則互感器一次繞組和互感器二次繞組為反極性；

在互感器極性被確定后，DSP處理器向人機交互單元的ARM處理器發送互感器極性測試結果，ARM處理器收到互感器極性測試結果后，在顯示屏上進行顯示，發送停止測試命令到DSP處理器，并返回S1狀態模式，DSP處理器將停止測試命令發送到FPGA處理器，FPGA處理器關閉模擬信號轉換模塊、光串口和光網口。