[發明專利]基于多點觸摸與遙控共用檢測控制系統的檢測控制方法

有效

• 申請號: 201911314059.7
• 申請日: 2019-12-19
• 公開（公告）號: CN110989451B
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 黃植富;林鐵英
• 申請（專利權）人: 廣東金萊特電器股份有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 孫浩

本發明公開了一種基于多點觸摸與遙控共用檢測控制系統的檢測控制方法，多點觸摸與遙控共用檢測控制系統包括觸摸IC、觸摸按鍵、MCU芯片和遙控接收IC，檢測控制方法通過觸摸IC和遙控接收IC共用第三引腳與MCU芯片連接，MCU芯片根據觸摸按鍵響應的時長和遙控接收IC發送的碼段信號的時長不同，來識別兩種信號的輸入，做到兩者不受干擾影響，觸摸IC還設置數據傳輸引腳SDA和時鐘信號引腳SCL配合，實現與MCU芯片之間的識別和數據傳輸，從而實現區分具體被觸摸的觸摸按鍵，通過對控制端口和檢測端口進行共用處理，達到節省腳位的目的。

技術領域

本發明涉及電路控制領域，特別涉及一種基于多點觸摸與遙控共用檢測控制系統的檢測控制方法。

背景技術

在多點觸摸控制多種負載工作的產品中，對MCU芯片的較為需求較大，常常需要擴展MCU芯片的腳位，同時還會增大產品的成本的體積。若有的MCU芯片的腳位無法擴展，則大大限制了其功能。

發明內容

本發明的目的在于至少解決現有技術中存在的技術問題之一，提供一種基于多點觸摸與遙控共用檢測控制系統的檢測控制方法，通過對控制端口和檢測端口進行共用處理，達到節省腳位的目的。

根據本發明第一方面實施例提供一種基于多點觸摸與遙控共用檢測控制系統的檢測控制方法，所述多點觸摸與遙控共用檢測控制系統包括：

觸摸IC，設置有數據傳輸引腳SDA、時鐘信號引腳SCL、工作表現引腳INT和若干個按鍵輸入端；

觸摸按鍵，設置有若干個，通過輸入電阻連接所述按鍵輸入端；

MCU芯片，設置有第一引腳、第二引腳和第三引腳，所述數據傳輸引腳SDA通過第一電阻連接所述第一引腳，所述時鐘信號引腳SCL通過第二電阻連接所述第二引腳，所述工作表現引腳INT通過第三電阻連接所述第三引腳；任一所述觸摸按鍵被觸摸時，所述工作表現引腳INT表現為低電平，所有所述觸摸按鍵未被觸摸時，所述工作表現引腳INT表現為高電平；每次所述觸摸按鍵被觸摸的響應時間大于100ms；

遙控接收IC，設置有遙控信號輸出引腳IR，所述遙控信號輸出引腳IR連接所述第三引腳；所述遙控接收IC沒有接收到信號時，所述遙控信號輸出引腳IR表現為高電平，所述遙控接收IC接收到信號時，所述遙控信號輸出引腳IR表現為低電平，且發送總長不超過20ms的帶有通信協議的碼段信號給所述第三引腳；

所述檢測控制方法包括以下步驟：

所述MCU芯片對所述第三引腳進行微秒級檢測，若檢測到所述第三引腳為低電平，開始計時；

若所述第三引腳在微秒級別內變化為高電平，則判斷為接收所述遙控接收IC發送的碼段信號；

繼續接收所述碼段信號，并對接收到的所述碼段信號進行解碼處理；

若所述第三引腳的低電平持續時間超過100ms，則判斷為所述觸摸按鍵被觸摸；

所述MCU芯片通過所述第二引腳輸出一個高低變化的時鐘信號給所述觸摸IC，同時通過所述第一引腳輸出一個地址碼給所述觸摸IC；

所述觸摸IC寫入所述地址碼后，通過所述數據傳輸引腳SDA回送一個包含所述按鍵輸入端的狀態的狀態碼給所述MCU芯片；

所述MCU芯片根據所述狀態碼判斷出被觸摸的觸摸按鍵。