[發明專利]平面印刷缺陷檢測方法、裝置以及系統

在審

• 申請號: 201911310301.3
• 申請日: 2019-12-18
• 公開（公告）號: CN110956630A
• 公開（公告）日: 2020-04-03
• 發明（設計）人: 傅建中;楊波;徐冠華;匡文明;褚建農
• 申請（專利權）人: 浙江大學;紅河創新技術研究院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/00;G01N21/956;G01N21/88
• 代理公司: 杭州天勤知識產權代理有限公司 33224
• 代理人: 曹兆霞

1.一種平面印刷缺陷檢測方法，包括以下步驟：

(1)獲取無印刷質量問題的產品圖像作為標準圖像；

(2)獲取待檢測產品的圖像作為檢測圖像，對該檢測圖像進行灰度轉化和去噪處理；

(3)分別提取標準圖像和處理后的檢測圖像的圖像特征，并根據標準圖像和檢測圖像的圖像特征獲得標準圖像和檢測圖像之間的三維轉換矩陣；

(4)根據三維轉換矩陣將處理后的檢測圖像轉換到與標準圖像相同的平面，并實現平面參考點對齊；

(5)計算轉換后的檢測圖像與標準圖像的像素差值獲得差值圖像，并對差值圖像進行去噪處理后，獲得差值圖像的像素點平均值作為閾值，根據該閾值對去噪處理的差值圖像做二值化處理；

(6)對二值化處理的差值圖像做像素分析，將高于設定值的像素群標記為印刷缺陷區域。

2.如權利要求1所述的平面印刷缺陷檢測方法，其特征在于，采用高斯模糊方法對檢測圖像和差值圖像進行去噪處理。

3.如權利要求1所述的平面印刷缺陷檢測方法，其特征在于，采用尺度不變特征變換方法分別對標準圖像和處理后的檢測圖像進行特征生成，以獲得標準圖像和處理后的檢測圖像的圖像特征。

4.如權利要求1所述的平面印刷缺陷檢測方法，其特征在于，在獲得標準圖像和處理后的檢測圖像的圖像特征基礎上，采用鄰近算法獲取標準圖像的圖像特征和檢測圖像的圖像特征的匹配點數組，并利用該匹配點數組獲取標準圖像和檢測圖像之間的三維轉換矩陣。

5.如權利要求1所述的平面印刷缺陷檢測方法，其特征在于，采用輪廓檢測算法對二值化處理的差值圖像做像素分析，將高于設定值的像素群標記為印刷缺陷區域。

6.一種平面印刷缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

獲取單元，用于獲取無印刷質量問題的產品圖像作為標準圖像，還用于獲取待檢測產品的圖像作為檢測圖像，并對該檢測圖像進行灰度轉化和去噪處理；

三維轉換矩陣計算單元，用于分別提取標準圖像和處理后的檢測圖像的圖像特征，并根據標準圖像和檢測圖像的圖像特征獲得標準圖像和檢測圖像之間的三維轉換矩陣；

轉換單元，用于根據三維轉換矩陣將處理后的檢測圖像轉換到與標準圖像相同的平面，并實現平面參考點對齊；

二值化處理單元，用于計算轉換后的檢測圖像與標準圖像的像素差值獲得差值圖像，并對差值圖像進行去噪處理后，獲得差值圖像的像素點平均值作為閾值，根據該閾值對去噪處理的差值圖像做二值化處理；

標記單元，用于對二值化處理的差值圖像做像素分析，將高于設定值的像素群標記為印刷缺陷區域。

7.如權利要求6所述的平面印刷缺陷檢測裝置，其特征在于，所述獲取單元和所述二值化處理單元中，采用高斯模糊方法對檢測圖像和差值圖像進行去噪處理。

8.如權利要求6所述的平面印刷缺陷檢測裝置，其特征在于，所述三維轉換矩陣計算單元中，采用尺度不變特征變換方法分別對標準圖像和處理后的檢測圖像進行特征生成，以獲得標準圖像和處理后的檢測圖像的圖像特征；

采用鄰近算法獲取標準圖像的圖像特征和檢測圖像的圖像特征的匹配點數組，并利用該匹配點數組獲取標準圖像和檢測圖像之間的三維轉換矩陣。

9.如權利要求6所述的平面印刷缺陷檢測裝置，其特征在于，所述標記單元中，采用輪廓檢測算法對二值化處理的差值圖像做像素分析，將高于設定值的像素群標記為印刷缺陷區域。

10.一種平面印刷缺陷檢測系統，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上執行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1～5任一項所述的平面印刷缺陷檢測方法。