[發(fā)明專利]局部放電定位檢測(cè)方法、裝置、可讀存儲(chǔ)介質(zhì)及電氣設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911307861.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110988631B | 公開(公告)日: | 2021-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉江川;伍楷舜;樊小毅;張聰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳江行聯(lián)加智能科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12;G08C17/02;G06N3/00;G06N3/04;G06N3/08;G06K9/62;G06F17/18 |
| 代理公司: | 深圳市恒程創(chuàng)新知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44542 | 代理人: | 張小容 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安區(qū)新安*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 局部 放電 定位 檢測(cè) 方法 裝置 可讀 存儲(chǔ) 介質(zhì) 電氣設(shè)備 | ||
1.一種局部放電定位檢測(cè)方法,應(yīng)用于電氣設(shè)備,其特征在于,所述局部放電定位檢測(cè)方法包括:
基于無線電傳感器獲取所述電氣設(shè)備中的局部放電數(shù)據(jù),并將所述局部放電數(shù)據(jù)存入泰克示波器,以建立無線電頻譜數(shù)據(jù)庫后構(gòu)建預(yù)測(cè)回歸模型;其中,局部放電數(shù)據(jù)具有已知樣本和未知樣本,所述預(yù)測(cè)回歸模型為I=f(r)+e(r),I為局部放電源的數(shù)據(jù)坐標(biāo),r為輸入的局部放電源無線電發(fā)射信號(hào),f(r)為預(yù)測(cè)函數(shù),e(r)為噪聲函數(shù);
根據(jù)所述預(yù)測(cè)回歸模型,對(duì)所述無線電頻譜數(shù)據(jù)庫中已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取;
對(duì)特征提取后已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)進(jìn)行降維處理;
將降維處理后的已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)通過粒子群算法進(jìn)行優(yōu)化,并根據(jù)優(yōu)化后的局部放電數(shù)據(jù)計(jì)算出所述未知樣本的局部放電數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo);
所述將降維處理后的已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)通過粒子群算法進(jìn)行優(yōu)化,并根據(jù)優(yōu)化后的局部放電數(shù)據(jù)計(jì)算出所述未知樣本的局部放電數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)步驟包括:
基于BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的預(yù)測(cè)回歸模型,以f(x)=x函數(shù)更新降維后的已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)參數(shù);
根據(jù)更新后的降維已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)參數(shù),計(jì)算出所述未知樣本的局部放電數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)。
2.如權(quán)利要求1所述的局部放電定位檢測(cè)方法,其特征在于,所述基于無線電傳感器獲取所述電氣設(shè)備中的局部放電數(shù)據(jù),并將所述局部放電數(shù)據(jù)存入泰克示波器,以建立無線電頻譜數(shù)據(jù)庫后構(gòu)建預(yù)測(cè)回歸模型的步驟包括:
基于無線電傳感器獲取所述電氣設(shè)備中局部放電源的無線電發(fā)射信號(hào),將所述局部放電數(shù)據(jù)存入泰克示波器,以建立所述無線電頻譜數(shù)據(jù)庫;
根據(jù)所述無線電頻譜數(shù)據(jù)庫中已知樣本的局部放電數(shù)據(jù),建立預(yù)測(cè)回歸模型。
3.如權(quán)利要求1所述的局部放電定位檢測(cè)方法,其特征在于,所述對(duì)特征提取后已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)進(jìn)行降維處理的步驟包括:
對(duì)所述特征提取后已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)進(jìn)行編碼并壓縮;
對(duì)壓縮的已知樣本局部放電數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼,并重建局部放電數(shù)據(jù)后并輸出。
4.如權(quán)利要求1所述的局部放電定位檢測(cè)方法,其特征在于,所述粒子群算法具體步驟為:
搜索所述無線電頻譜數(shù)據(jù)庫中每一無線電頻譜數(shù)據(jù)的神經(jīng)元,并計(jì)算相應(yīng)權(quán)值的適應(yīng)度;
更新所述無線電頻譜數(shù)據(jù)庫中的每一無線電頻譜數(shù)據(jù)的位置;
對(duì)最優(yōu)無線電頻譜數(shù)據(jù)和最差無線電頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行優(yōu)化處理;
當(dāng)無線電頻譜數(shù)據(jù)為最優(yōu)位置,則搜索停止,當(dāng)無線電頻譜數(shù)據(jù)為最差位置,則返回繼續(xù)搜索。
5.如權(quán)利要求4所述的局部放電定位檢測(cè)方法,其特征在于,所述更新所述無線電頻譜數(shù)據(jù)庫中的每一無線電頻譜數(shù)據(jù)的位置的步驟包括:
更新所述無線電頻譜數(shù)據(jù)庫中的每一無線電頻譜數(shù)據(jù)適應(yīng)度;
當(dāng)無線電頻譜數(shù)據(jù)適應(yīng)度優(yōu)于個(gè)體極值Pbest,則Pbest設(shè)置為更新位置;
當(dāng)無線電頻譜數(shù)據(jù)適應(yīng)度優(yōu)于全局極值gbest,則gbest設(shè)置為更新位置。
6.一種局部放電定位檢測(cè)裝置,應(yīng)用于電氣設(shè)備,其特征在于,所述局部放電定位檢測(cè)裝置包括:
數(shù)據(jù)采集模塊,用于獲取所述電氣設(shè)備中的局部放電數(shù)據(jù),并建立無線電頻譜數(shù)據(jù)庫構(gòu)建預(yù)測(cè)回歸模型;其中,局部放電數(shù)據(jù)具有已知樣本和未知樣本;
特征提取模塊,用于對(duì)所述無線電頻譜數(shù)據(jù)庫中已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取;
降維處理模塊,用于對(duì)所述特征提取后已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)進(jìn)行降維處理;
坐標(biāo)獲取模塊,將降維處理后的已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)通過粒子群算法進(jìn)行優(yōu)化,并計(jì)算出所述未知樣本的局部放電數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo);
其中,所述將降維處理后的已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)通過粒子群算法進(jìn)行優(yōu)化,并計(jì)算出所述未知樣本的局部放電數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)具體為:
用于基于BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的預(yù)測(cè)回歸模型,以f(x)=x函數(shù)更新降維后的已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)參數(shù);并根據(jù)更新后的降維已知樣本的局部放電數(shù)據(jù)參數(shù),計(jì)算出所述未知樣本的局部放電數(shù)據(jù)的位置坐標(biāo)。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
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