[發明專利]基于霍夫變換的絕對相位噪聲去除方法、裝置和存儲介質有效
| 申請號: | 201911306685.1 | 申請日: | 2019-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN111161169B | 公開(公告)日: | 2023-06-13 |
| 發明(設計)人: | 龍佳樂;陳富健;張建民 | 申請(專利權)人: | 五邑大學 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T5/10 |
| 代理公司: | 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人: | 孫浩 |
| 地址: | 529000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 變換 絕對 相位 噪聲 去除 方法 裝置 存儲 介質 | ||
本發明公開了一種基于霍夫變換的絕對相位噪聲去除方法、裝置和存儲介質,采用了霍夫變換對去噪前的第一絕對相位進行直線檢測,將檢測到的最長的直線段設置為第二絕對相位,根據第一絕對相位和第二絕對相位的差值找出噪聲點后,通過獲取第二絕對相位中噪聲點的條紋階數,由于第二絕對相位的包過相位本身是正確的,因此通過噪聲點反推出在無噪聲環境下的第三絕對相位,即不包括噪聲的絕對相位,實現了絕對相位噪聲的去除。本發明對絕對相位的全局進行檢測,利用了霍夫變換檢測直線簡單且快速的特點,實現了快速準確去噪,并且有效降低了計算量。
技術領域
本發明涉及三維形貌測量技術領域,特別是一種基于霍夫變換的絕對相位噪聲去除方法、裝置和存儲介質。
背景技術
目前,基于結構光條紋投影的三維測量設備由于其具有測量精度高、實時性好、非接觸性等優點,在生活以及工業各個領域都得到了廣泛的應用。其中結構光條紋投影中利用絕對相位的信息進行三維立體的恢復,絕對相位的精度影響著三維立體的重建精度,但由于測量設備的誤差、外界環境的干擾、算法的局限性等各種因素都會導致絕對相位的獲取過程中產生不可避免地產生噪聲的干擾,無法從后續的三維重建中得到無噪聲的三維點云,現有的噪聲去除方法無法進行大量噪聲點的濾除,只能進行局部去噪處理,計算復雜度較高,難以在產業中應用。
發明內容
為了克服現有技術的不足,本發明的目的在于提供一種基于霍夫變換的絕對相位噪聲去除方法、裝置和存儲介質,能夠快速準確地去除絕對相位的噪聲點,得到無噪聲的絕對相位。
本發明解決其問題所采用的技術方案是:第一方面,本發明提供了一種基于霍夫變換的絕對相位噪聲去除方法,包括以下步驟:
客戶端獲取未去噪的第一絕對相位,通過霍夫變換對所述第一絕對相位進行直線檢測,將檢測到的最長的直線段設置為第二絕對相位;
所述客戶端獲取所述第一絕對相位中的第一絕對相位點和所述第二絕對相位中的第二絕對相位點,所述第一絕對相位點和第二絕對相位點的橫坐標相同,并計算所述第一絕對相位點和第二絕對相位點的相位差,若所述相位差的絕對值大于π,則將所述第一絕對相位點設置為噪聲點;
所述客戶端根據所述第二絕對相位獲取所述噪聲點的條紋階數,根據所述條紋階數獲取所述噪聲點所對應的第三絕對相位,所述第三絕對相位為去噪后的絕對相位。
進一步,所述檢測到的最長的直線段為直線檢測時極坐標響應最大的點所轉換到直角坐標系中的線段。
進一步,將檢測到的最長的直線段設置為第二絕對相位之前,還包括:所述客戶端獲取構成所述最長的直線段的第一端點坐標和第二端點坐標,并根據所述第一端點坐標和第二端點坐標計算出所述最長的直線段的斜率和截距。
進一步,所述第二絕對相位由以下步驟獲取:
所述客戶端獲取第一絕對相位點的橫坐標;
所述客戶端將根據所述橫坐標和所述最長的直線段的斜率和截距計算出的直線設置為第二絕對相位。
進一步,所述客戶端根據所述第二絕對相位獲取所述噪聲點的條紋階數的計算公式為m=(Φr-φ)/2π,其中Φr為所述第二絕對相位,φ為與所述第二絕對相位所對應的包裹相位,m為所述條紋階數,π為圓周率。
進一步,所述根據所述條紋階數獲取所述噪聲點所對應的第三絕對相位,所述第三絕對相位為去噪后的絕對相位的計算公式為Φ=2πm+φ,其中,Φ為所述第三絕對相位,m為所述條紋階數,φ為所述包裹相位,π為圓周率。
第二方面,本發明提供了一種用于執行基于霍夫變換的絕對相位噪聲去除方法的裝置,包括CPU單元,所述CPU單元用于執行以下步驟:
客戶端獲取未去噪的第一絕對相位,通過霍夫變換對所述第一絕對相位進行直線檢測,將檢測到的最長的直線段設置為第二絕對相位;
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