[發明專利]梯度線圈線性度測量系統

在審

• 申請號: 201911302827.7
• 申請日: 2019-12-17
• 公開（公告）號: CN111007446A
• 公開（公告）日: 2020-04-14
• 發明（設計）人: 趙華煒;王鵬;肇立民;楊華春;鄧新漢
• 申請（專利權）人: 湖南邁太科醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R33/385
• 分類號: G01R33/385;G01B21/00;G01R33/07
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李姣姣

1.一種梯度線圈線性度測量系統，其特征在于，所述系統包括上位機、測量控制器、通道切換模塊和磁場強度測量模塊；

所述上位機根據線性度測量任務生成測試指令，測量控制器基于所述測試指令生成通道選擇信號和激勵信號，并將所述通道選擇信號發送至通道切換模塊，所述測量控制器接收所述通道切換模塊反饋的通道切換成功信號后，輸出所述激勵信號至選擇的線圈通道，所述上位機接收到激勵信號輸出信息后，根據所述線性度測量任務，生成測量請求并發送至所述磁場強度測量模塊，所述磁場強度測量裝置根據所述測量請求中攜帶的線性度測量點的位置信息，依次測量所述線性度測量點的磁場強度并反饋測量結果至所述上位機。

2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述磁場強度測量模塊包括三坐標滑臺模塊和測量傳感器，所述測量傳感器設置于所述三坐標滑臺模塊；

所述上位機在獲取到線性度測量任務時，發送初始化請求至所述三坐標滑臺模塊，所述三坐標滑臺模塊提取所述初始化請求攜帶的坐標系和校準點坐標，通過移動滑臺將所述測量傳感器移動至所述坐標系中各校準點坐標位置進行測量，所述上位機接收所述測量傳感器在所述校準點坐標位置采集到的磁場強度數據，并根據所述磁場強度數據，校準所述坐標系。

3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述三坐標滑臺模塊包括滑臺、滑臺控制器和測試桿；

所述測量傳感器設置與所述測試桿，所述測試桿固定于所述滑臺，所述滑臺控制器通過串口與所述上位機通信，通過接收所述上位機下發的控制指令控制所述滑臺移動。

4.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述測量傳感器包括高斯計，所述高斯計通過內置的RS232接口與所述上位機通信。

5.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述上位機還用于轉發所述磁場強度測量裝置反饋的線圈測量完成信息至所述測量控制器，所述測量控制器接收到線圈測量完成信息時，發送通道切換信號至通道切換模塊。

6.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述測量控制器生成的激勵信號為數字激勵信號，所述系統還包括DAC模塊；

所述DAC模塊接收所述測量控制器發送的數字激勵信號，將所述數字激勵信號轉換為模擬激勵信號，將所述模擬激勵信號發送至選擇的所述線圈通道。

7.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，所述DAC模塊包括DAC芯片和運算放大電路；

所述DAC芯片將接收的數字激勵信號轉換為模擬激勵信號，所述運算放大電路對所述模擬激勵信號進行功率放大和輸出驅動處理。

8.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，所述測量控制器包括激勵信號生成單元和DAC接口配置單元；

所述激勵信號生成單元根據所述測試指令生成數字激勵信號，并根據所述DAC接口配置單元的接口配置數據，將生成的數字激勵信號通過所述接口配置數據對應的接口發送至所述DAC模塊，所述DAC模塊將所述數字激勵信號轉換為模擬激勵信號，并將所述模擬激勵信號發送至選擇的所述線圈通道。

9.根據權利要求6所述的系統，其特征在于，還包括激勵電源；

所述激勵電源接收所述DAC模塊發送的模擬激勵信號，并對所述模擬激勵信號進行功率放大處理，將功率放大后的激勵信號發送至選擇的所述線圈通道。

10.根據權利要求9所述的系統，其特征在于，所述測量控制器還包括激勵電源控制單元；

所述激勵電源控制單元根據測試指令生成工作狀態控制信號，并將所述工作狀態控制信號發送至所述激勵電源，所述激勵電源根據所述工作狀態控制信號控制對所述模擬激勵信號的發送和中斷。