[發明專利]磁共振系統校準方法、成像方法以及磁共振系統

有效

• 申請號: 201911302637.5
• 申請日: 2019-12-17
• 公開（公告）號: CN112986881B
• 公開（公告）日: 2022-12-20
• 發明（設計）人: 黃文慧
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606
• 代理人: 方曉燕

1.一種磁共振系統校準方法，其特征在于，包括：

執行三維雙回波磁共振掃描；

采集所述三維雙回波對應的第一回波容積線圈信號、第一回波表面線圈信號、第二回波容積線圈信號以及第二回波表面線圈信號；

根據所述第一回波容積線圈信號、所述第一回波表面線圈信號、所述第二回波容積線圈信號以及所述第二回波表面線圈信號進行線圈靈敏度校準和主磁場勻場校準；

容積線圈和表面線圈分別在第一采集窗內獲取所述第一回波容積線圈信號、所述第一回波表面線圈信號，所述容積線圈和所述表面線圈分別在第二采集窗內獲取所述第二回波容積線圈信號、所述第二回波表面線圈信號，所述第一采集窗與所述第二采集窗間隔設定時間。

2.如權利要求1所述的磁共振系統校準方法，其特征在于，包括：

根據所述第一回波容積線圈信號與所述第一回波表面線圈信號進行線圈靈敏度校準；

根據所述第一回波表面線圈信號與所述第二回波表面線圈信號進行主磁場勻場校準。

3.如權利要求1所述的磁共振系統校準方法，其特征在于，根據所述第一回波容積線圈信號、所述第一回波表面線圈信號、所述第二回波容積線圈信號以及所述第二回波表面線圈信號進行線圈靈敏度校準和主磁場勻場校準，包括：

根據所述第一回波容積線圈信號與所述第一回波表面線圈信號進行線圈靈敏度校準；

根據所述第一回波容積線圈信號與所述第二回波容積線圈信號進行主磁場勻場校準。

4.如權利要求1所述的磁共振系統校準方法，其特征在于，根據所述第一回波容積線圈信號、所述第一回波表面線圈信號、所述第二回波容積線圈信號以及所述第二回波表面線圈信號進行線圈靈敏度校準和主磁場勻場校準，包括：

根據所述第二回波容積線圈信號與所述第二回波表面線圈信號進行線圈靈敏度校準；

根據所述第一回波表面線圈信號與所述第二回波表面線圈信號進行主磁場勻場校準。

5.如權利要求1所述的磁共振系統校準方法，其特征在于，根據所述第一回波容積線圈信號、所述第一回波表面線圈信號、所述第二回波容積線圈信號以及所述第二回波表面線圈信號進行線圈靈敏度校準和主磁場勻場校準，包括：

根據所述第二回波容積線圈信號與所述第二回波表面線圈信號進行線圈靈敏度校準；

根據所述第一回波容積線圈信號與所述第二回波容積線圈信號進行主磁場勻場校準。

6.如權利要求1所述的磁共振系統校準方法，其特征在于，在執行三維雙回波磁共振掃描步驟中，所述三維雙回波在不同的回波時間內水脂同相位。

7.一種磁共振系統成像方法，其特征在于，包括：

控制磁共振系統執行三維雙回波磁共振掃描；

在第一采集窗內，同時獲取第一回波容積線圈信號、第一回波表面線圈信號；

在第二采集窗內，同時獲取第二回波容積線圈信號以及第二回波表面線圈信號；

根據所述第一回波容積線圈信號、所述第一回波表面線圈信號、所述第二回波容積線圈信號以及所述第二回波表面線圈信號對所述磁共振系統進行校準，所述校準包括線圈靈敏度校準和主磁場勻場校準；容積線圈和表面線圈分別在所述第一采集窗內獲取所述第一回波容積線圈信號、所述第一回波表面線圈信號，所述容積線圈和所述表面線圈分別在第二采集窗內獲取所述第二回波容積線圈信號、所述第二回波表面線圈信號，所述第一采集窗與所述第二采集窗間隔設定時間；

控制校準后的磁共振系統執行成像序列，以獲取掃描對象的磁共振信號；

重建所述磁共振信號以獲取目標圖像。

8.如權利要求7所述的磁共振系統成像方法，其特征在于，水信號或者脂肪信號在第一采集窗和所述第二采集窗內的相位相同。