[發明專利]一種集成電路測試方法在審
| 申請號： | 201911294300.4 | 申請日： | 2019-12-16 |
| 公開（公告）號： | CN110927560A | 公開（公告）日： | 2020-03-27 |
| 發明（設計）人： | 周國成 | 申請（專利權）人： | 無錫矽鵬半導體檢測有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 朱曉林 |
| 地址： | 214000 江蘇省無錫*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 集成電路 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種集成電路測試方法，其特征在于：包括以下步驟：
S1：集成電路的輸入管腳接入信號源，所述信號源向集成電路輸入的信號可調；
S2：測試開始，調節所述信號源的輸出信號值至測量起始值，然后大步距調節所述信號源輸出的信號值，并觀察集成電路輸出管腳是否發生狀態跳變，如果發生狀態跳變，記錄當前所述信號源輸出的信號值大小，記為第一跳變值，然后進入步驟S3；
S3：將所述信號源輸出的信號值從第一跳變值后退兩個大步距，記為第二測量起始值；
S4：再次測試，調節所述信號源的輸出信號值至第二測量起始值，然后小步距調節所述信號源輸出的信號值，并觀察集成電路輸出管腳是否發生狀態跳變，如果發生狀態跳變，記錄當前所述信號源輸出的信號值大小，停止測試；
上述步驟S2與S3中的大步距是將所述信號源輸出信號的測量終值減去測量起始值后再除以15到20中的任一整數得到，上述步驟S4中的小步距是大步距的十分之一。
2.根據權利要求1所述的集成電路測試方法，其特征在于：所述信號源包括電壓源或者電流源。
3.根據權利要求1所述的集成電路測試方法，其特征在于：所述信號源輸出信號的幅度、頻率和占空比可調。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于無錫矽鵬半導體檢測有限公司，未經無錫矽鵬半導體檢測有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911294300.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種降溫除味方法
- 下一篇：一種水性聚氨酯膠黏劑制備裝置
